[發明專利]基于多波段熵率超像素分割的高光譜圖像分類方法有效
| 申請號: | 202110060277.3 | 申請日: | 2021-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN112733769B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發明(設計)人: | 慕彩紅;劉逸;董志東;吳建設;李陽陽;劉若辰;田小林 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06V20/13 | 分類號: | G06V20/13;G06V10/26;G06V10/764 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 陳宏社;王品華 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 波段 熵率超 像素 分割 光譜 圖像 分類 方法 | ||
1.一種基于多波段熵率超像素分割的高光譜圖像分類方法,其特征在于,包括如下步驟:
(1)對高光譜圖像進行多波段熵率超像素分割:
(1a)輸入一幅包含K類不同地物的高光譜圖像和對應的標簽圖其中,K≥2,表示空間符號,m表示X和Y行像素點個數、n表示X和Y列像素點個數,b表示X的光譜波段數;
(1b)在量化區間[0,L]內對X中第i個光譜波段的二維圖像中每個像素點的值xp,q進行均勻量化,得到均勻量化后的二維圖像X′i,其中,i∈[1,b],xp,q的均勻量化公式為:
其中,xp,q表示圖像Xi第p行第q列像素點的值,p∈[1,m],q∈[1,n],x′p,q表示xp,q均勻量化的值,min(·)表示取最小值操作,max(·)表示取最大值操作,ceil(·)表示向下取整操作;
(1c)對每個二維圖像X′i進行熵率超像素分割,得到C個超像素Ui={ui1,ui2,...,uij,...,uiC,},j∈[1,C],并將uij中所有像素點的值設為j,得到每個二維圖像X′i對應的二維分割標簽圖像Si,然后將b個二維分割標簽圖像組合成分割標簽圖像其中,uij表示第j個超像素;
(2)獲取訓練集和測試集:
(2a)對高光譜圖像X和分割標簽圖像S分別進行標準化處理,并對標準化后的X和標準化后的S分別沿光譜維度方向進行降維,得到預處理后的高光譜圖像和預處理后的分割標簽圖像其中,b1表示X′的通道數,b2表示S′的通道數,1≤b1+b2≤b;
(2b)沿光譜維度方向對X′與S′進行組合,得到組合圖像
(2c)采用分層抽樣方法從X″中隨機抽取w個像素點組成訓練集Xtrain={x1,x2,...,xt,...,xw},并從標簽圖Y中取出對應的w個像素點組成訓練標簽集Ytrain={y1,y2,...,yt,...yw},將X″中剩余的m×n-w個像素點作為測試集Xtest,其中,w≤m×n,t∈[1,w],xt表示Xtrain中第t個樣本,yt表示xt對應的標簽,yt∈[1,K];
(3)對多分類支持向量機分類器進行訓練:
(3a)初始化數量與高光譜圖像X地物類別K相同的多二分類支持向量機分類器M={M1,M2,...,Mk...,MK},每個二分類支持向量機分類器Mk的核函數為徑向基核函數,其中,k∈[1,K];
(3b)對訓練標簽集Ytrain中的每個標簽yt進行二值化,得到二值化后的訓練標簽集并將Xtrain和作為每個二分類支持向量機分類器Mk的輸入,通過徑向基核函數對Xtrain中的每兩個樣本xt與xt′進行內積計算,得到內積集合Dtrain={dt,t′|1≤t≤w,1≤t′≤w},并通過Dtrain和對Mk的支持向量集進行求解,得到訓練好的多分類支持向量機分類器M′,其中,dt,t′表示對xt與xt′的內積,xt′表示Xtrain中第t′個樣本,yt的二值化公式為:
其中,表示yt二值化后的訓練標簽;
(4)獲取高光譜圖像的分類結果:
將測試集Xtest作為訓練好的多分類支持向量機分類器M′的輸入進行分類,得到測試集Xtest中每個測試樣本的標簽。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學,未經西安電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110060277.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





