[發明專利]一種基于亞穩態檢測的pipeline-SAR ADC數字級間增益校準方法

有效

• 申請號: 202110057929.8
• 申請日: 2021-01-15
• 公開（公告）號: CN112910462B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 鄒勇賢
• 申請（專利權）人: 邁科微電子（深圳）有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 廣州幫專高智知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44674
• 代理人: 陸茵

1.一種基于亞穩態檢測的pipeline-SAR ADC數字級間增益校準方法，其特征在于：所述校準方法包括：

對模擬電路的逐級比較劃分為N級，對第2～N級中的比較器依次作亞穩態檢測，并將每級亞穩態指針輸出到數字電路中；

當數字校準電路接收到的指針為設定值時，累加當前數據，直到累加的數據個數達到上限時，則完成該級校準，將數據累加的和求平均后作為該級與前一級間的級間增益；

重復上述步驟，得到每一級的級間增益，對每一級的級間增益進行處理得到數字校準電路的校準結果；

所述對每一級的級間增益進行處理得到數字校準電路的校準結果包括：

對每一級作亞穩態統計，求得對應當級的增益值G_N及其增益值倒數rG_N，得到每一級相對于第1級的增益Ga_N；

更新每一級的增益值倒數rGa_2～N(＝1/Ga_2～N)后，在輸出數據時將該增益值倒數rG_2～N分別乘以對應級的數據D_2～N，然后相加，同時直接加上第1級的數據，即為SAR-ADC的校正輸出結果DOUT；

所述的對模擬電路第2～N級校正是從最后一級即第N級開始，逐級向前執行校正，直到完成第2級的校正，為一次校正循環；

所述的對模擬電路第2～N級的校正，為了避免溢出，在待校正的每一級都增加了一個冗余位。

2.根據權利要求1所述的一種基于亞穩態檢測的pipeline-SAR ADC數字級間增益校準方法，其特征在于：所述校準方法包括還包括比較器亞穩態判定步驟；所述比較器亞穩態判定步驟執行于所述對模擬電路的逐級比較劃分為N級，對第2～N級中的比較器依次作亞穩態檢測，并將每級亞穩態指針輸出到數字電路中步驟之前。

3.根據權利要求2所述的一種基于亞穩態檢測的pipeline-SAR ADC數字級間增益校準方法，其特征在于：所述比較器亞穩態判定步驟包括：

當數字校準電路接收到的指針為設定值包括當數字校準電路接收到的指針值為1時，表示比較器比較時間超時，此時判定比較器處于亞穩態，則此時執行所述對模擬電路的逐級比較劃分為N級，對第2～N級中的比較器依次作亞穩態檢測，并將每級亞穩態指針輸出到數字電路中步驟，否則，不執行繼續對比較器的亞穩態進行判定。