[發明專利]基于拋物線模型測量APS涂層殘余應力試片曲率半徑的方法在審
| 申請號： | 202110057354.X | 申請日： | 2021-01-15 |
| 公開（公告）號： | CN112880618A | 公開（公告）日： | 2021-06-01 |
| 發明（設計）人： | 程濤濤;王仕成;韓志勇;王志平 | 申請（專利權）人： | 中國民航大學 |
| 主分類號： | G01B21/20 | 分類號： | G01B21/20;G01L5/00;G06F30/20 |
| 代理公司： | 天津才智專利商標代理有限公司 12108 | 代理人： | 龐學欣 |
| 地址： | 300300 天*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 拋物線 模型 測量 aps 涂層 殘余 應力 試片 曲率 半徑 方法 | ||
1.一種基于拋物線模型測量APS涂層殘余應力試片曲率半徑的方法，其特征在于：所述的方法包括按順序進行的下列步驟：
1)制備APS涂層殘余應力試片：選取表面平整光滑的基體，然后在基體的一側面上進行等離子噴涂而形成APS涂層，冷卻至室溫，由此制成APS涂層殘余應力試片；
2)測量APS涂層殘余應力試片不同點的弧高值：利用弧高測量儀測量上述APS涂層殘余應力試片上多個不同測量點的弧高值，反復測量多次，取每個測量點的弧高平均值作為實驗數據；
3)進行曲線擬合及建立拋物線模型：將上述實驗數據導入matlab軟件中進行曲線擬合，對曲線擬合度進行分析和改進，得到最符合實際工況的拋物線模型，取拋物線頂點的曲率半徑即曲率最大值點作為APS涂層殘余應力試片的曲率半徑。
2.根據權利要求1所述的基于拋物線模型測量APS涂層殘余應力試片曲率半徑的方法，其特征在于：在步驟1)中，所述的基體的曲率為0，曲率半徑趨于無窮大，整體應力為0。
3.根據權利要求1所述的基于拋物線模型測量APS涂層殘余應力試片曲率半徑的方法，其特征在于：在步驟2)中，所述測量點為6個，每個測量點測量次數為3次。
4.根據權利要求1所述的基于拋物線模型測量APS涂層殘余應力試片曲率半徑的方法，其特征在于：在步驟3)中，表征所述曲線擬合度的參數為“R-square”、“RMSE”，并且具有以下要求：0.95R-square1；0RMSE0.01。
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