[發(fā)明專利]芯片測試方法和計算芯片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110056648.0 | 申請日： | 2021-01-15 |
| 公開（公告）號： | CN112881887B | 公開（公告）日： | 2023-02-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 劉建波;陳默;范志軍;郭海豐;楊作興 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳比特微電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中國貿(mào)促會專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人： | 於菪珉 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市高*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 芯片 測試 方法 計算 | ||
1.一種芯片測試方法，其特征在于，待測的計算芯片包括多個核，所述多個核中的每個核包括測試向量寄存器或者測試向量鎖存器，所述芯片測試方法包括：
所述多個核中的每個核分別執(zhí)行以下操作：
接收復(fù)位信號；
當(dāng)測試向量寄存器或者測試向量鎖存器接收到復(fù)位信號時，其中的各比特位復(fù)位到與相應(yīng)的第一測試向量對應(yīng)的狀態(tài)，其中，所述復(fù)位信號占據(jù)的比特位數(shù)小于所述第一測試向量占據(jù)的比特位數(shù)；
基于安全散列算法，根據(jù)測試向量和由核生成的測試隨機(jī)值生成所述核的核測試結(jié)果，其中，
測試向量包括在核中的測試向量寄存器或者測試向量鎖存器中生成的第一測試向量；以及
根據(jù)所述多個核的核測試結(jié)果生成所述計算芯片的芯片測試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試方法，其特征在于，所述多個核中的每個核的相應(yīng)的第一測試向量是彼此相同的。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試方法，其特征在于，所述芯片測試方法還包括：
所述多個核中的至少一些核分別執(zhí)行以下操作：
獲取相應(yīng)的第二測試向量；
其中，測試向量還包括第二測試向量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片測試方法，其特征在于，所述至少一些核中的每個核的相應(yīng)的第二測試向量是彼此相同的。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片測試方法，其特征在于，所述至少一些核包括所述多個核中的所有核。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片測試方法，其特征在于，第二測試向量被存儲在相應(yīng)的核的測試向量寄存器或者測試向量鎖存器中。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試方法，其特征在于，基于安全散列算法，根據(jù)測試向量和測試隨機(jī)值生成所述核的核測試結(jié)果包括：
獲取在預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)的測試隨機(jī)值；
基于安全散列算法，根據(jù)測試向量和所獲取的測試隨機(jī)值來計算核的測試輸出值；
當(dāng)預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)存在使得測試輸出值與預(yù)設(shè)輸出值一致的測試隨機(jī)值時，并且使得測試輸出值與預(yù)設(shè)輸出值一致的測試隨機(jī)值與理論期望值一致時，確定所述核的核測試結(jié)果為通過測試；以及
當(dāng)預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)不存在使得測試輸出值與預(yù)設(shè)輸出值一致的測試隨機(jī)值時，或者使得測試輸出值與預(yù)設(shè)輸出值一致的測試隨機(jī)值與理論期望值不一致時，確定所述核的核測試結(jié)果為未通過測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的芯片測試方法，其特征在于，預(yù)設(shè)輸出值為其中連續(xù)預(yù)設(shè)數(shù)目的比特位都為零的值。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試方法，其特征在于，測試隨機(jī)值為僅使用一次的非重復(fù)隨機(jī)數(shù)nonce，且測試隨機(jī)值是在核中產(chǎn)生的。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試方法，其特征在于，在至少兩個測試頻率下，分別對所述計算芯片執(zhí)行所述芯片測試方法，以獲得所述計算芯片在所述至少兩個測試頻率下的芯片測試結(jié)果。
11.一種計算芯片，其特征在于，所述計算芯片包括：
多個核，所述多個核中的每個核包括測試向量寄存器或者測試向量鎖存器，每個核被配置為：
接收復(fù)位信號；
當(dāng)測試向量寄存器或者測試向量鎖存器的復(fù)位端接收到復(fù)位信號時，其中的各比特位復(fù)位到與相應(yīng)的第一測試向量對應(yīng)的狀態(tài)，且所述復(fù)位信號占據(jù)的比特位數(shù)小于所述第一測試向量占據(jù)的比特位數(shù)；和
基于安全散列算法，根據(jù)測試向量和由核生成的測試隨機(jī)值生成所述核的核測試結(jié)果，其中，測試向量包括在核中的測試向量寄存器或者測試向量鎖存器中生成的第一測試向量；以及
頂層模塊，所述頂層模塊與所述多個核通信地連接。
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