[發(fā)明專利]一種雙面應(yīng)力補(bǔ)償?shù)奶?yáng)能電池有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110055955.7 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112909099B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊文奕;張小賓;黃珊珊;魏婷婷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中山德華芯片技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/0216 | 分類號(hào): | H01L31/0216;H01L31/0304 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 肖軍 |
| 地址: | 528437 廣東省中山*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 雙面 應(yīng)力 補(bǔ)償 太陽(yáng)能電池 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種雙面應(yīng)力補(bǔ)償?shù)奶?yáng)能電池,包括:襯底;第一薄膜層,設(shè)置在所述襯底的一側(cè)壁面上;第二薄膜層,設(shè)置在所述襯底的另一側(cè)壁面上,所述第一薄膜層的晶格常數(shù)與所述第二薄膜層的晶格常數(shù)均小于或大于所述襯底的晶格常數(shù)。通過(guò)在襯底的兩側(cè)壁面上分別設(shè)置有第一薄膜層、第二薄膜層,由于第一薄膜層的晶格常數(shù)與第二薄膜層的晶格常數(shù)均小于或大于襯底的晶格常數(shù),使得第一薄膜層和襯底之間的應(yīng)力與第二薄膜層和襯底之間的應(yīng)力方向相反,進(jìn)而令襯底兩側(cè)壁面受到的應(yīng)力相互抵消,有利于降低襯底因晶格失配應(yīng)力產(chǎn)生的翹曲度,有利于提高良品率、整體性能和使用壽命。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽(yáng)能電池領(lǐng)域,特別涉及具有一種雙面應(yīng)力補(bǔ)償?shù)奶?yáng)能電池。
背景技術(shù)
太陽(yáng)能電池通過(guò)在襯底上延長(zhǎng)不同材料的薄膜層,薄膜層與襯底之間或者不同薄膜層之間形成PN結(jié),當(dāng)太陽(yáng)光照射在太陽(yáng)能電池上時(shí),薄膜層吸收與帶隙對(duì)應(yīng)的太陽(yáng)光波段,進(jìn)而激發(fā)載流子配合PN結(jié)產(chǎn)生電壓。
現(xiàn)有技術(shù)中的太陽(yáng)能電池,在襯底上延長(zhǎng)薄膜層時(shí),由于襯底與薄膜層的材料不同,使得在薄膜層延長(zhǎng)過(guò)程中,因?yàn)榫Ц袷鋵?dǎo)致襯底與薄膜層之間產(chǎn)生應(yīng)力,進(jìn)而令襯底產(chǎn)生翹曲,降低良品率并且影響太陽(yáng)能電池的性能和壽命。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。為此,本發(fā)明提出一種雙面應(yīng)力補(bǔ)償?shù)奶?yáng)能電池,其能夠減低襯底的翹曲度,有利于提高良品率和性能。
根據(jù)本發(fā)明的一種雙面應(yīng)力補(bǔ)償?shù)奶?yáng)能電池,包括:襯底;第一薄膜層,設(shè)置在所述襯底的一側(cè)壁面上;第二薄膜層,設(shè)置在所述襯底的另一側(cè)壁面上,所述第一薄膜層的晶格常數(shù)與所述第二薄膜層的晶格常數(shù)均小于或大于所述襯底的晶格常數(shù)。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種雙面應(yīng)力補(bǔ)償?shù)奶?yáng)能電池,至少具有如下有益效果:通過(guò)在襯底的兩側(cè)壁面上分別設(shè)置有第一薄膜層、第二薄膜層,由于第一薄膜層的晶格常數(shù)與第二薄膜層的晶格常數(shù)均小于或大于襯底的晶格常數(shù),使得第一薄膜層和襯底之間的應(yīng)力與第二薄膜層和襯底之間的應(yīng)力方向相反,進(jìn)而令襯底兩側(cè)壁面受到的應(yīng)力相互抵消,有利于降低襯底因晶格失配應(yīng)力產(chǎn)生的翹曲度,有利于提高良品率、整體性能和使用壽命。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,還包括至少一層設(shè)置在所述第一薄膜層上的第一附加薄膜層。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,還包括至少一層設(shè)置在所述第二薄膜層上的第二附加薄膜層。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,所述第一附加薄膜層的光學(xué)帶隙、所述第一薄膜層的光學(xué)帶隙、所述襯底的光學(xué)帶隙、所述第二薄膜層的光學(xué)帶隙以及所述第二附加薄膜層的光學(xué)帶隙依次遞減或遞增。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,所述襯底為InP片。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,所述第一薄膜層為AlGaAs層。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,所述第二薄膜層為GaNAsSb層。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,所述第一附加薄膜層有一層,所述第一附加薄膜層為AlGaInP層。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,所述第二附加薄膜層有一層,所述第二附加薄膜層為GaInNAs層。
根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,所述AlGaInP層的光學(xué)帶隙為2.1eV,所述AlGaAs層的光學(xué)帶隙為1.7eV,所述InP片的光學(xué)帶隙為1.34eV,所述GaNAsSb層的光學(xué)帶隙為1.0eV,所述GaInNAs層的光學(xué)帶隙為0.6eV。
本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過(guò)本發(fā)明的實(shí)踐了解到。
附圖說(shuō)明
本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中:
圖1為本發(fā)明其中一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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