[發明專利]一種構建分數階微分光譜指數及其監測小麥條銹病的方法

有效

• 申請號: 202110055448.3
• 申請日: 2021-01-15
• 公開（公告）號: CN113155747B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 時鳴;余洋;張騰;競霞
• 申請（專利權）人: 西安科技大學
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01N21/47
• 代理公司: 西安新創通知識產權代理事務所(普通合伙) 61267
• 代理人: 線飛祥

1.一種構建分數階微分光譜指數及其監測小麥條銹病的方法，其特征在于，包括下列步驟：

步驟一、獲取試驗區各個樣本小麥冠層反射率光譜數據；

步驟二、以階次間隔為0.1對各個樣本的400-1000nm的光譜數據進行0-2階分數階微分處理，并對分數階微分光譜與小麥條銹病病情嚴重度的相關性進行分析，提取各分數階微分光譜中與病情嚴重度具有最大相關性的波段，確定適合遙感探測小麥條銹病的分數階微分階次；

步驟三、以公式(1)～(6)的指數形式為基礎，構造兩波段分數階微分差值指數(FDI)，分數階微分比值指數(FRI)、分數階微分歸一化差值指數(FNDI)以及三波段分數階微分改進差值指數(FIDI)、分數階微分光化學指數(FPRI)和分數階微分改進比值指數(FIRI)，并且計算這些指數與病情嚴重度的相關性；

式中，ρ為不同階次的光譜反射率，α為階次，λ為波長，且λ1≠λ2≠λ3；

步驟四、確定不同階次下最佳兩波段分數階微分光譜指數和三波段分數階微分光譜指數的波段組合，分析不同階次下分數階微分光譜指數與病情指數的相關性，選擇所有階次中與病情嚴重度相關性最高的指數作為最終構建的兩波段分數階微分光譜指數和分三波段分數階微分光譜指數；

步驟五、利用構建的分數階微分光譜指數進行小麥條銹病的遙感探測，驗證構建的分數階微分光譜指數對小麥條銹病遙感探測的有效性；

所述步驟一包括下列步驟：

步驟101、獲取小麥冠層反射率光譜數據；

步驟102、對所述反射率光譜數據進行分數階微分處理，所述分數階微分階次取值為0.3～1.3。

2.按照權利要求1所述的構建分數階微分光譜指數及其監測小麥條銹病的方法，其特征在于，所述分數階微分處理包括兩波段分數階微分光譜指數計算，所述兩波段分數階微分光譜指數為：

式中，ρ為光譜反射率。

3.按照權利要求1所述的構建分數階微分光譜指數及其監測小麥條銹病的方法，其特征在于，所述分數階微分處理包括三波段分數階微分光譜指數計算，所述三波段分數階微分光譜指數為：

式中，ρ為光譜反射率。