[發(fā)明專利]一種基于FPGA在數(shù)字測試通道上實(shí)現(xiàn)定制模塊的方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202110053251.6
• 申請日: 2021-01-15
• 公開（公告）號: CN112858892A
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魏津;張經(jīng)祥;胡雪原
• 申請（專利權(quán)）人: 勝達(dá)克半導(dǎo)體科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 上海專益專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31381
• 代理人: 方燕娜;王雯婷

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體測試技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種基于FPGA在數(shù)字測試通道上實(shí)現(xiàn)定制模塊的方法。具體測試方法如下：S1：根據(jù)通用模塊的資源用量，為每個數(shù)字通道的定制模塊規(guī)劃資源數(shù)量；S2：設(shè)計(jì)定制模塊；S3：將通用模塊及定制模塊與主控模塊連接；S4：當(dāng)用戶需要定制功能時，開發(fā)定制功能模塊；S5：確定定制功能模塊后，定制模塊內(nèi)的其他資源數(shù)量用若干冗余模塊填補(bǔ)；S6：實(shí)際測試中，當(dāng)需要通用模塊測試時，模式切換寄存器切換到0選擇通用模式；當(dāng)需要定制模塊測試時，模式切換寄存器切換到1選擇定制模式。同現(xiàn)有技術(shù)相比，在自動測試機(jī)上擴(kuò)展出可定制化的測試通道功能，其控制邏輯通過現(xiàn)場可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA來實(shí)現(xiàn)，增加了測試通道的測試功能。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體測試技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種基于FPGA在數(shù)字測試通道上實(shí)現(xiàn)定制模塊的方法。

背景技術(shù)

在自動測試機(jī)上每個測試針腳（即測試通道）的行為都受控于測試程序的指揮，針腳本身是通用的、被動的。對于具體的被測目標(biāo)芯片，通常需要把所有針腳的行為都預(yù)定義好，編碼在測試程序里。

有些特殊情況，被測芯片的某些特殊針腳需要簡單重復(fù)的邏輯行為的信號，如果把這些邏輯行為編碼在測試程序里，測試程序會有大量的重復(fù)，浪費(fèi)測試程序空間。

利用現(xiàn)場可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA可以為用戶定制開發(fā)特殊功能的測試針腳，這些測試針腳的行為是主動的，不需要測試程序全程指揮。這些針腳的邏輯是可定制的，根據(jù)不用的測試應(yīng)用需求而定制開發(fā)。

基于可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA的一般規(guī)律，即便改動很小，每次重新編譯都可能引起全局調(diào)整，從而影響到那些沒有改動的邏輯功能和性能。制造可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA的廠商提供的增量編譯工具也不能完全保證重新編譯不影響到受保護(hù)的無改動邏輯電路。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明為克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種基于FPGA在數(shù)字測試通道上實(shí)現(xiàn)定制模塊的方法，在自動測試機(jī)上擴(kuò)展出可定制化的測試通道功能，其控制邏輯通過現(xiàn)場可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA來實(shí)現(xiàn)，每次變動修改可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA邏輯，增加了測試通道的測試功能。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，設(shè)計(jì)一種基于FPGA在數(shù)字測試通道上實(shí)現(xiàn)定制模塊的方法，包括數(shù)字通道、可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA，其特征在于：具體測試方法如下：

S1：根據(jù)通用模塊的資源用量，為每個數(shù)字通道的定制模塊規(guī)劃資源數(shù)量，即可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA內(nèi)部的邏輯細(xì)胞logic cell的資源數(shù)量；

S2：設(shè)計(jì)定制模塊，該模塊具有固定的對外信號接口，占用固定的全局信號資源，并且占用固定的電路單元資源；所述的定制模塊內(nèi)部包括定制功能模塊及冗余模塊；

S3：將通用模塊及定制模塊通過模式切換寄存器與自動測試機(jī)的主控模塊連接；

S4：當(dāng)用戶需要定制功能時，按照標(biāo)準(zhǔn)模型的接口來開發(fā)定制功能模塊；

S5：確定定制功能模塊后，定制模塊內(nèi)的其他資源數(shù)量用若干冗余模塊填補(bǔ)，以滿足整個定制模塊的資源數(shù)量；

S6：實(shí)際測試中，當(dāng)需要通用模塊測試時，主控模塊將信號發(fā)送給模式切換寄存器，模式切換寄存器切換到0選擇通用模式；當(dāng)需要定制模塊測試時，主控模塊將信號發(fā)送給模式切換寄存器，模式切換寄存器切換到1選擇定制模式。

所述的建立定制模塊的具體流程如下：

S11：已知可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA的查找表LUT及觸發(fā)器Flop的資源總量；

S12：根據(jù)邏輯細(xì)胞logic cell的資源數(shù)量來規(guī)劃通用模塊的資源量；

S13：可編程邏輯芯片F(xiàn)PGA的資源總量減去通用模塊的資源量，剩下的資源量根據(jù)需要建立若干定制模塊；每個定制模塊內(nèi)部包含定制功能模塊及若干冗余模塊；

S14：根據(jù)實(shí)際測試需要，配備測試功能的定制功能模塊；

S15：確定好每個定制模塊內(nèi)部的具體功能后，每個定制模塊內(nèi)部的其他邏輯細(xì)胞logic cell的資源由若干冗余模塊填補(bǔ)。