[發明專利]基于準直器耦合系統的調試方法

有效

• 申請號: 202110051733.8
• 申請日: 2021-01-15
• 公開（公告）號: CN112859360B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發明（設計）人: 王春陽
• 申請（專利權）人: 深圳市鍂鑫科技有限公司
• 主分類號: G02B27/62
• 分類號: G02B27/62
• 代理公司: 北京棘龍知識產權代理有限公司 11740
• 代理人: 謝靜

本發明公開了一種基于準直器耦合系統的調試方法，包括以下步驟：S1：將CCD探測器、微調步進電機、數據采集卡和控制電路集成在一起，組合成鑲嵌準直器耦合系統的調試工具；S2：選取兩個標準型準直器，利用兩個單模光纖對照兩個標準型準直器上的自聚焦透鏡；S3：得到兩個標準型準直器插損最小處的間隙、探測光斑和最小插損的比對數據，作為待做準直器調試的對比數據；S4：固定標準型準直器和待做準直器的位置。本發明設計合理，能夠自動對準直器進行調試，降低人工調試的強度，規避人工調試過程中的人為誤差，調試準直器的效率高，準直器生產的一致性高，質量佳。

技術領域

本發明涉及準直器調試技術領域，尤其涉及一種基于準直器耦合系統的調試方法。

背景技術

傳統的準直器裝配是用五維調整架將待做準直器與標準準直對調，利用光功率計進行在線監控，監測準直器插入損耗值的變化至最小時，上膠、固化。

用此種方法生產準直器，需手工操控調整架，反復調試，人員極易疲勞，不可避免的會造成人為的偶然誤差，從而導致生產的準直器指標較差，一致性不佳，所以我們提出了一種基于準直器耦合系統的調試方法，用以解決上述提出的問題。

發明內容

基于背景技術存在的技術問題，本發明提出了基于準直器耦合系統的調試方法。

本發明提出的基于準直器耦合系統的調試方法，包括以下步驟：

S1：將CCD探測器、微調步進電機、數據采集卡和控制電路集成在一起，組合成鑲嵌準直器耦合系統的調試工具；

S2：選取兩個標準型準直器，利用兩個單模光纖對照兩個標準型準直器上的自聚焦透鏡；

S3：得到兩個標準型準直器插損最小處的間隙、探測光斑和最小插損的比對數據，作為待做準直器調試的對比數據；

S4：固定標準型準直器和待做準直器的位置；

S5：CCD探測器從1-5mm處進行探測，數據采集卡采集探測光斑直徑和插損最小處的間隙值，準直器耦合系統將得到的數據和比對數據進行對比；

S6：準直器耦合系統啟動微調步進電機；

S7：在光纖頭和插損最小點處進行上膠；

S8：對膠水進行固化。

優選的，所述S1中，CCD探測器、微調步進電機、數據采集卡和控制電路的規格可以根據實際進行選取，微調步進電機的功率為100W-300W。

優選的，所述S2中，兩個準直器的型號為COL6-xx，兩個光纖探頭從兩個準直器相互遠離的一側進行對照，選取距離準直器1-5mm的距離對照多次。

優選的，所述S3中，利用高斯分布計算光纖探頭的出光模場分布，得到光纖探頭在不同位置時的插損最小處的間隙、探測光斑和最小插損值，將插損最小處的間隙、探測光斑和最小插損值輸入表格中進行對比。

優選的，所述S4中，制作放置支架，放置支架的材質可以是金屬或者塑料，放置支架的左側放置待做準直器，右側放置標準型準直器。

優選的，所述S5中，將準直器耦合系統上的探測器距離待做準直器1-5mm處進行探測，探測器將探測數據發送給數據采集卡。

優選的，所述S5中，在準直器耦合系統上還設置了數據顯示屏，數據顯示屏上依次顯示探測光斑直徑和插損最小處的間隙值，將調試的數據和表格中的數據進行對比。

優選的，所述S6中，確定插損最小點的位置，準直器耦合系統啟動微調步進電機，微調步進電機可以將光纖頭移動至插損最小點的位置。

優選的，所述S7中，膠的規格為FA頭膠，在準直器耦合系統上設置了驅動膠瓶轉動的電機，電機驅動膠瓶在進行旋轉，進而將FA頭膠涂抹至光纖頭和插損最小點處。