[發明專利]玉米水分無損檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 202110050723.2
• 申請日: 2021-01-14
• 公開（公告）號: CN112881480B
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 王忠義;范利鋒;董學會;黃嵐;馬欽;朱德海;張曉東;溫詩謙;田總福
• 申請（專利權）人: 中國農業大學
• 主分類號: G01N27/22
• 分類號: G01N27/22;A01G22/20
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 程琛

本發明提供一種玉米水分無損檢測方法及裝置，其中，玉米水分無損檢測方法，包括：向待測玉米發送射頻信號，并接收反射信號；基于所述射頻信號和所述反射信號，確定待測玉米的射頻阻抗參數；根據所述射頻阻抗參數以及含水量標定公式，確定所述待測玉米的含水量。避免破壞玉米的苞葉層和玉米籽粒，實現對于苞葉存在下玉米水分含量的無損原位測定。

技術領域

本發明涉及農業生產技術領域，尤其涉及一種玉米水分無損檢測方法及裝置。

背景技術

水分含量是玉米育種過程中需要獲取的重要性狀參數，籽粒脫水速率快，收獲時玉米穗籽粒含水量較低是玉米育種的重要評價指標，也是耐密宜機收玉米品種選育的重要特征之一。對于生長期苞葉存在下玉米穗籽粒水分的測量，能夠實現對玉米穗生理成熟時間的預測，獲取生理成熟前玉米穗籽粒的脫水曲線。

目前有研究者采用插針式探針測量玉米籽粒水分，雖然能夠有效的檢測玉米籽粒水分，但在檢測過程中不可避免的會破壞玉米的苞葉層，并且也容易損傷玉米籽粒。

因此，如何提供一種玉米水分無損檢測方法及裝置，避免破壞玉米的苞葉層和玉米籽粒，實現對于苞葉存在下玉米水分含量的無損原位測定成為亟待解決的問題。

發明內容

針對現有技術中的缺陷，本發明提供一種玉米水分無損檢測方法及裝置。

本發明提供一種玉米水分無損檢測方法，包括：

向待測玉米發送射頻信號，并接收反射信號；

基于所述射頻信號和所述反射信號，確定待測玉米的射頻阻抗參數；

根據所述射頻阻抗參數以及含水量標定公式，確定所述待測玉米的含水量。

根據本發明提供的玉米水分無損檢測方法，所述根據所述射頻阻抗參數以及含水量標定公式，確定所述待測玉米的含水量的步驟之前，方法還包括：

基于所述射頻信號和所述反射信號，確定樣品玉米的射頻阻抗參數；

確定樣本玉米的實際水分值；其中，所述樣本玉米與所述待測玉米生長狀態相同；

基于所述樣本玉米的實際水分值和所述樣本玉米的射頻阻抗參數，確定所述含水量標定公式。

根據本發明提供的玉米水分無損檢測裝置，所述基于所述射頻信號和所述反射信號，確定待測玉米的射頻阻抗參數，具體包括：

基于所述射頻信號和所述反射信號，確定待測玉米的測量反射系數；

基于所述待測玉米的測量反射系數和射頻誤差校準參數，確定待測玉米的負載反射系數；

基于所述待測玉米的負載反射系數和特征阻抗，確定待測玉米的射頻阻抗參數。

根據本發明提供的玉米水分無損檢測方法，所述基于所述射頻信號和所述反射信號，確定待測玉米的射頻阻抗參數，具體包括：

基于第一射頻信號和第一反射信號，確定待測玉米的第一射頻阻抗參數；所述第一射頻阻抗參數用于確定待測玉米苞葉層含水量；

基于第二射頻信號和第二反射信號，確定待測玉米的第二射頻阻抗參數；所述第二射頻阻抗參數用于確定待測玉米苞葉層和玉米穗籽粒層含水量。

根據本發明提供的玉米水分無損檢測方法，所述根據所述射頻阻抗參數以及含水量標定公式，確定所述待測玉米的含水量，具體包括：

根據所述第一射頻阻抗參數和所述第二射頻阻抗參數以及玉米穗籽粒層含水量標定公式，確定所述待測玉米籽粒的含水量。

根據本發明提供的玉米水分無損檢測方法，