[發(fā)明專利]深度學(xué)習(xí)模型對抗樣本生成方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲介質(zhì)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110049467.5 | 申請日: | 2021-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN112949678B | 公開(公告)日: | 2023-05-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 藺琛皓;朱炯?xì)v;沈超;管曉宏 | 申請(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號: | G06F18/214 | 分類號: | G06F18/214;G06F21/62;G06F17/16;G06N3/0475;G06N3/094 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 崔方方 |
| 地址: | 710049 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 深度 學(xué)習(xí) 模型 對抗 樣本 生成 方法 系統(tǒng) 設(shè)備 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種深度學(xué)習(xí)模型對抗樣本生成方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1:獲取原始圖像基于目標(biāo)深度學(xué)習(xí)模型的敏感矩陣;
具體方法為:
獲取與目標(biāo)深度學(xué)習(xí)模型具有同一分類目標(biāo)的深度學(xué)習(xí)模型為參考模型;
逐一選取原始圖像中各像素點(diǎn)進(jìn)行如下步驟:將當(dāng)前像素點(diǎn)進(jìn)行預(yù)設(shè)大小的擾動,得到敏感圖像,將敏感圖像輸入?yún)⒖寄P停玫疆?dāng)前像素點(diǎn)擾動后相對于擾動前參考模型輸出的原始類預(yù)測概率的變化值,作為當(dāng)前像素點(diǎn)的敏感值;
將原始圖像中各像素點(diǎn)的敏感值,按照原始圖像中各像素點(diǎn)的位置排列,得到原始圖像基于目標(biāo)深度學(xué)習(xí)模型的敏感矩陣;
S2:根據(jù)預(yù)設(shè)的用于擾動的若干零范數(shù)及若干無窮范數(shù),構(gòu)建若干范數(shù)組;根據(jù)敏感矩陣及若干范數(shù)組,得到各范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖;
S3:將原始圖像及各范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖均查詢目標(biāo)深度學(xué)習(xí)模型,得到并根據(jù)各范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖相對于原始圖像的原始類預(yù)測概率的下降值,獲得對抗零范數(shù)及對抗無窮范數(shù);
S4:根據(jù)對抗無窮范數(shù)構(gòu)建預(yù)設(shè)數(shù)量對抗擾動矩陣,將攻擊目標(biāo)類預(yù)測概率為適應(yīng)度,以適應(yīng)度最大為優(yōu)化目標(biāo),根據(jù)原始圖像、敏感矩陣及對抗零范數(shù),通過進(jìn)化算法迭代優(yōu)化各對抗擾動矩陣,每次迭代后均進(jìn)行S5;
S5:當(dāng)當(dāng)前迭代優(yōu)化后的對抗擾動矩陣中,至少存在一個目標(biāo)對抗擾動矩陣時,將原始圖像通過目標(biāo)對抗擾動矩陣擾動,得到對抗樣本并輸出,迭代結(jié)束;否則,返回S4。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度學(xué)習(xí)模型對抗樣本生成方法,其特征在于,所述S2的具體方法為:
根據(jù)預(yù)設(shè)的用于擾動的若干零范數(shù)及若干無窮范數(shù),逐一選取若干零范數(shù)中的零范數(shù)至遍歷若干零范數(shù),將選取的零范數(shù)與若干無窮范數(shù)中的各無窮范數(shù)一一組合,得到若干范數(shù)組;
預(yù)設(shè)初始擾動矩陣,初始擾動矩陣內(nèi)參數(shù)數(shù)量與原始圖像中像素點(diǎn)個數(shù)相同,且按照原始圖像中各像素點(diǎn)的位置排列,各參數(shù)的絕對值為1,初始擾動矩陣與敏感矩陣中同一位置的參數(shù)的符號一致;逐一選取范數(shù)組,至遍歷若干范數(shù)組,將當(dāng)前范數(shù)組中的無窮范數(shù)的一半與初始擾動矩陣中的各參數(shù)相乘,得到各范數(shù)組對應(yīng)的擾動矩陣,獲取當(dāng)前范數(shù)組中的零范數(shù),按照敏感值從大到小的順序,將敏感矩陣中前零范數(shù)個敏感值置為1,其余敏感值置為0,得到各擾動矩陣對應(yīng)的掩膜矩陣;
將原始圖像中的各像素點(diǎn)分別疊加各范數(shù)組對應(yīng)的擾動矩陣,然后與各擾動矩陣對應(yīng)的掩膜矩陣相乘,得到各范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度學(xué)習(xí)模型對抗樣本生成方法,其特征在于,所述S3的具體方法為:
將原始圖像及各范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖均輸入目標(biāo)深度學(xué)習(xí)模型,得到原始圖像的原始類預(yù)測概率以及各范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖的原始類預(yù)測概率,獲取各范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖相對于原始圖像的原始類預(yù)測概率的下降值;
將所有范數(shù)組中,同一零范數(shù)的范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖相對于原始圖像的原始類預(yù)測概率的下降值疊加,得到若干第一疊加值,選取若干第一疊加值中斜率變化最大的第一疊加值對應(yīng)的零范數(shù)為對抗零范數(shù);
將所有范數(shù)組中,同一無窮范數(shù)的范數(shù)組對應(yīng)的擾動圖相對于原始圖像的原始類預(yù)測概率的下降值疊加,得到若干第二疊加值,選取若干第二疊加值中斜率變化最大的第二疊加值對應(yīng)的無窮范數(shù)為對抗無窮范數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的深度學(xué)習(xí)模型對抗樣本生成方法,其特征在于,所述S4中的進(jìn)化算法為:自適應(yīng)差分進(jìn)化策略或線性張成的協(xié)方差矩陣自適應(yīng)進(jìn)化策略。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安交通大學(xué),未經(jīng)西安交通大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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