[發(fā)明專利]測試電路、測試方法和包括測試電路的計算系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110048109.2 | 申請日: | 2021-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN114764118A | 公開(公告)日: | 2022-07-19 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳默;范志軍;劉建波;許超 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳比特微電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/317 | 分類號: | G01R31/317;G01R31/3183;G01R31/3185 |
| 代理公司: | 中國貿(mào)促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 劉倜 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市高*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 電路 方法 包括 計算 系統(tǒng) | ||
本公開涉及測試電路、測試方法和包括測試電路的計算系統(tǒng)。一種測試電路包括:測試序列提供模塊,用于提供測試序列到待測試的時序器件;時鐘驅(qū)動模塊,用于提供時鐘信號到所述待測試的時序器件,其包括第一時鐘驅(qū)動電路,所述第一時鐘驅(qū)動電路包括:多個第一時鐘路徑,分別提供對應的時鐘信號;以及邏輯單元,基于所述多個第一時鐘路徑提供的時鐘信號中的至少一部分,產(chǎn)生脈寬調(diào)節(jié)的第一時鐘信號以用于所述待測試的時序器件;以及驗證模塊,用于對所述待測試的時序器件的輸出進行驗證。
技術(shù)領域
本公開涉及測試電路、測試方法和包括測試電路的計算系統(tǒng)。
背景技術(shù)
近年來,數(shù)字貨幣受到越來越多的關注。在相關領域中,需要改進的處理器和計算系統(tǒng)。
礦機類處理器設計通常采用流水線的結(jié)構(gòu)。根據(jù)算法,將運算邏輯分成若干級流水線,每級流水線有相似的功能設計和運算結(jié)構(gòu)。每級流水線都需要輸入工作時鐘,即脈沖時鐘。
由于比特幣芯片中的運算單元由多級流水線構(gòu)成,且每級流水線主要由多比特觸發(fā)器構(gòu)成,因此對于觸發(fā)器的優(yōu)化設計是使比特幣芯片性能提升,功耗降低的核心方向之一。芯片內(nèi)不同的流水線中,會根據(jù)其自身情況使用不同的觸發(fā)器。同時連接多級流水線之間的時鐘樹方向和時鐘樹內(nèi)部結(jié)構(gòu),則是依賴經(jīng)驗與分析來選擇。由于考慮到觸發(fā)器的SPICE仿真,靜態(tài)時序分析和生產(chǎn)出的芯片之間有一定的差異,芯片所選擇的時鐘樹結(jié)構(gòu)通常是偏保守,而未必是最優(yōu)的。
此外,隨著礦機處理器的生產(chǎn)使用更加先進的制造工藝,工藝的復雜度和離散度也越來越高,導致處理器的實際工作條件和設計階段的仿真環(huán)境偏差較大。時鐘驅(qū)動電路在設計階段即使?jié)M足仿真條件下對時鐘的要求,實際的處理器也往往因為與仿真環(huán)境的差異,導致某些處理器的流水線時鐘無法達到設計要求。
因此,需要改進的測試電路、測試方法和包括測試電路的處理器。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本公開的一個方面,提供了一種測試電路,包括:測試序列提供模塊,用于提供測試序列到待測試的時序器件;時鐘驅(qū)動模塊,用于提供時鐘信號到所述待測試的時序器件,其包括第一時鐘驅(qū)動電路,所述第一時鐘驅(qū)動電路包括:多個第一時鐘路徑,分別提供對應的時鐘信號;以及邏輯單元,基于所述多個第一時鐘路徑提供的時鐘信號中的至少一部分,產(chǎn)生脈寬調(diào)節(jié)的第一時鐘信號以用于所述待測試的時序器件;以及驗證模塊,用于對所述待測試的時序器件的輸出進行驗證。
在一些實施例中,所述驗證模塊包括:基準時序器件,所述測試序列被同步提供到所述基準時序器件和所述待測試的時序器件,以及所述第一時鐘驅(qū)動電路還提供第二時鐘信號到所述基準時序器件;以及比較模塊,其對所述基準時序器件的輸出和所述待測試的時序器件的輸出進行比較。
在一些實施例中,所述多個第一時鐘路徑接收共同的時鐘輸入,并基于所述時鐘輸入分別提供不同相位的時鐘信號。
在一些實施例中,所述第一時鐘路徑中的至少一個還包括:第一選擇器,用于從對應的第一時鐘路徑的多個子路徑所提供的時鐘信號中選擇時鐘信號,并提供所選擇的時鐘信號到所述邏輯單元。
在一些實施例中,所述時鐘驅(qū)動模塊還包括第二時鐘驅(qū)動電路,其中所述第二時鐘驅(qū)動電路包括:多個第二時鐘路徑,其分別提供不同相位的時鐘信號,所述多個第二時鐘路徑中的至少一個基于所述第一時鐘信號提供時鐘信號;以及第二選擇器,從所述多個第二時鐘路徑所提供的時鐘信號中選擇時鐘信號以用于所述待測試的時序器件。
在一些實施例中,所述時鐘驅(qū)動模塊還包括第三時鐘驅(qū)動電路,其中所述第三時鐘驅(qū)動電路包括:多個第三時鐘路徑,其分別提供不同相位的時鐘信號;以及第三選擇器,用于從所述多個第三時鐘路徑所提供的時鐘信號中選擇時鐘信號,以用于所述多個第一時鐘路徑中的至少一個。
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