[發明專利]一種微光像增強器微通道板記憶效應的測試方法

有效

• 申請號: 202110047102.9
• 申請日: 2021-01-14
• 公開（公告）號: CN112798231B
• 公開（公告）日: 2023-02-10
• 發明（設計）人: 董煜輝;宋奇庚;李嬌嬌;夏曉嬌;李磊;鄭林濤;許有毅;李金沙;馬懷超;許靈吉
• 申請（專利權）人: 北方夜視技術股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 昆明今威專利商標代理有限公司 53115
• 代理人: 賽曉剛

1.一種微光像增強器微通道板記憶效應的測量方法，其特征在于，該測量方法使用的MCP增益測試裝置是利用像管光電陰極發射的電子作為MCP的輸入電流入射到MCP的輸入端,輸入電流經過MCP倍增后從MCP的輸出端輸出,并激發熒光屏發光，該裝置包括：沿光線方向依次由光源、可調光闌、中性濾光片、擋板、積分球及測試暗箱組成，所述測試暗箱內設置有待測像管，高壓電源的四個供電端子分別為陰極端、MCP輸入端、MCP輸出端、熒光屏端，這四個端子分別連接待測像管的陰極、MCP輸入、MCP輸出、熒光屏，其中nA微電流表連接熒光屏與MCP輸出端，用于測量MCP的輸出電流I_A、pA微電流表連接陰極與MCP輸入端，用于測量MCP的輸入電流I_C；該測量方法包括以下步驟：

步驟（1），打開燈源預熱，打開擋板、推入中性濾光片、調節可調光闌，使像管陰極輸入面的照度為1×10^-3lx；

步驟（2），推入擋板，在陰極面無輸入照度的情況下通過高壓電源給像管的光電陰極及MCP輸入之間施加-200V的電壓，微通道板及熒光屏處于不工作狀態，此時用微電流表測量光電陰極與微通道板之間的電流I_CL；

步驟（3），拉出擋板，此時用微電流表測量光電陰極與MCP之間的電流I_C；

步驟（4），通過高壓電源給像管MCP輸出與熒光屏之間加6kV電壓，調節MCP輸入與輸出電壓x，使微電流表的電流I_A在55-65nA范圍內，此時像管處于正常工作狀態，待讀數穩定后的MCP輸出與陽極之間的電流I_A記錄為I_Ai；

步驟（5），保持步驟（4）的像管工作電壓，推入擋板,在陰極面無輸入照度的情況下，用微電流表測量MCP輸出與陽極之間的電流，等待數分鐘后的MCP輸出電流為I_AL；

步驟（6），保持步驟（5）的像管工作電壓，拉出中性濾光片，持續該狀態30秒后推入中性濾光片，此時MCP輸出與陽極之間的電流I_A記錄為I_Ai，重復該過程多次；

步驟（7），將每次的I_Ai作為I_A值以及I_AL、I_C、I_CL依次代入下式對MCP的增益進行計算，對應的微通道板增益：

式中：G_MCP為MCP的電子增益，I_A為MCP的輸出陽極電流，I_AL為陽極漏電流，I_C為陰極電流，I_CL為陰極漏電流；

步驟（8），計算增益變化量ΔG=G_i-G₀,則微通道板增益的變化率為 ΔG/G₀；以微通道板增益的變化率表征像增強器微通道板記憶效應的嚴重程度。

2.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于：

在步驟（6）中，重復該步驟10次，每次的陽極電流依次記錄為I_Ai,依次記錄為I_A0～I_A10。

3.根據權利要求2所述的測量方法，其特征在于：

將I_A0～I_A10及I_AL、I_C、I_CL依次代入步驟（7）對MCP的增益G₀-G₁₀進行計算。

4.根據權利要求3所述的測量方法，其特征在于：

將G₀-G₁₀代入步驟（8）計算ΔG=G₁₀-G₀,及變化率為 ΔG/G₀，所述變化率 ΔG/G₀大于5%則認為存在記憶效應。

5.根據權利要求3所述的測量方法，其特征在于：

還包括在EXCEL表中對ΔG/G₀繪制微通道板增益的變化率得出測試結果。