[發明專利]印刷電路板的板線缺陷檢測方法、系統和存儲介質有效
| 申請號： | 202110046593.5 | 申請日： | 2021-01-14 |
| 公開（公告）號： | CN112801948B | 公開（公告）日： | 2023-08-08 |
| 發明（設計）人： | 謝宏威;黎鑫澤;張浩;朱健業;朱春錦 | 申請（專利權）人： | 廣州大學 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T5/30;G06T7/136 |
| 代理公司： | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人： | 常柯陽 |
| 地址： | 510006 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 印刷 電路板 缺陷 檢測 方法 系統 存儲 介質 | ||
1.一種印刷電路板的板線缺陷檢測方法，其特征在于，包括：
采集所述印刷電路板的拍攝圖像；
對所述拍攝圖像進行閾值分割，獲取所述印刷電路板的板線圖像區域；
對所述板線圖像區域進行灰度開運算，獲取所述印刷電路板的板線開運算圖像；
對所述板線圖像區域進行灰度閉運算，獲取所述印刷電路板的板線閉運算圖像；
將所述板線閉運算圖像的像素點灰度值與所述板線開運算圖像的像素點灰度值進行相減，獲取灰度值差值；
提取所述灰度值差值大于第一灰度值差值閾值的區域作為第一缺陷區域；
提取所述灰度值差值小于第二灰度值差值閾值的區域作為第二缺陷區域；
確定所述第一缺陷區域的面積大于面積閾值，標注所述第一缺陷區域；
確定所述第二缺陷區域的面積大于面積閾值，標注所述第二缺陷區域；
第一缺陷區域的提取公式如下：
其中，為第一缺陷區域，為閉運算圖像的每個像素點的灰度值；為開運算圖像每個像素點的灰度值；為第一灰度值差值閾值；
第二缺陷區域的提取公式如下：
其中，為第二缺陷區域。
2.根據權利要求1所述的印刷電路板的板線缺陷檢測方法，其特征在于，所述對所述拍攝圖像進行閾值分割，獲取所述印刷電路板的板線圖像區域這一步驟，具體包括：
對所述拍攝圖像進行閾值分割，獲取所述印刷電路板的待處理板線圖像區域；
獲取所述待處理板線圖像區域的最小外接矩形區域圖像；
對所述最小外接矩形區域圖像進行膨脹，獲取所述印刷電路板的板線圖像區域。
3.根據權利要求1所述的印刷電路板的板線缺陷檢測方法，其特征在于，所述灰度開運算和所述灰度閉運算的結構元素為八邊形。
4.根據權利要求1所述的印刷電路板的板線缺陷檢測方法，其特征在于，所述對所述拍攝圖像進行閾值分割，獲取所述印刷電路板的板線圖像區域這一步驟，具體包括：
對所述拍攝圖像進行閾值分割，獲取所述印刷電路板的待處理板線圖像區域；
對所述待處理板線圖像區域進行區域開運算，獲取所述印刷電路板的板線圖像區域；
其中，所述區域開運算的結構元素為圓形。
5.根據權利要求1所述的印刷電路板的板線缺陷檢測方法，其特征在于，所述采集所述印刷電路板的拍攝圖像這一步驟，具體包括：
使用綠光燈對所述印刷電路板進行背光照明，采集所述印刷電路板的拍攝圖像。
6.根據權利要求5所述的印刷電路板的板線缺陷檢測方法，其特征在于，所述綠光燈呈環形排列。
7.一種印刷電路板的板線缺陷檢測系統，其特征在于，包括：
采集模塊，用于采集所述印刷電路板的拍攝圖像；
分割模塊，用于對所述拍攝圖像進行閾值分割，獲取所述印刷電路板的板線圖像區域；
開運算模塊，用于對所述板線圖像區域進行灰度開運算，獲取所述印刷電路板的板線開運算圖像；
閉運算模塊，用于對所述板線圖像區域進行灰度閉運算，獲取所述印刷電路板的板線閉運算圖像；
差值模塊，用于將所述板線閉運算圖像的像素點灰度值與所述板線開運算圖像的像素點灰度值進行相減，獲取灰度值差值；
第一缺陷模塊，用于提取所述灰度值差值大于第一灰度值差值閾值的區域作為第一缺陷區域；確定所述第一缺陷區域的面積大于面積閾值，標注所述第一缺陷區域；
第二缺陷模塊，用于提取所述灰度值差值小于第二灰度值差值閾值的區域作為第二缺陷區域；確定所述第二缺陷區域的面積大于面積閾值，標注所述第二缺陷區域；
第一缺陷區域的提取公式如下：
其中，為第一缺陷區域，為閉運算圖像的每個像素點的灰度值；為開運算圖像每個像素點的灰度值；為第一灰度值差值閾值；
第二缺陷區域的提取公式如下：
其中，為第二缺陷區域。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣州大學，未經廣州大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110046593.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
