[發明專利]輝度計

在審

• 申請號: 202110040962.X
• 申請日: 2021-01-13
• 公開（公告）號: CN114764024A
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 馬子一;陳建邦;吳威宏
• 申請（專利權）人: 宇瞻科技股份有限公司
• 主分類號: G01J1/04
• 分類號: G01J1/04
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;閆華

本發明提供一種輝度計。輝度計包括感測元件、連接元件及收光元件。連接元件與感測裝置相連接，且連接元件具有穿孔。收光元件可移除地套設于連接元件，用以收集光線，使光線穿透穿孔至感測裝置內，進行輝度感測。由此，可依據測量需求安裝或移除收光元件，以有效地進行收光并進行輝度感測。

技術領域

本發明涉及一種光學測量器，尤其涉及一種輝度計。

背景技術

輝度計常被應用在光學測量，例如測量背光模塊的發光二極管。一般而言，輝度計在對光源測量時，系將光源收光后進到感測器內部，但其光路徑以及架構在輝度計出廠時即已固定。

具體來說，輝度計在出廠前會對一標準光源進行強度校正，針對標準光源的每個波長的光譜以及感測器所感測到的每個波長的光譜之間的差異進行補正，并將補正后的波長差異值存到輝度計的存儲器內，并在后續的測量中都以此波長差異值進行運算。

然而，此種傳統輝度計在待測光源改變或是超過輝度計本身的輝度規格時，必須自行增加光學鏡片并根據測量數據調整運算的比率，不僅不夠準確，同時也增加了測量上的困擾。雖然可以通過多個不同輝度計來應對不同光源，但也會連帶提升設備采購的成本。

故此，如何發展一種可有效解決現有技術的問題與缺點的輝度計，實為目前尚待解決的問題。

發明內容

本發明的主要目的為提供一種輝度計，以解決并改善前述現有技術的問題與缺點。

本發明的另一個目的為提供一種輝度計，通過收光元件可移除地套設于連接元件，可依據測量需求安裝或移除收光元件，以有效地進行收光并進行輝度感測。

本發明的再一個目的為提供一種輝度計，通過光學鏡片的選用以及收光元件的收光口具有不同直徑的特性，可對應待測光源立即進行測量，且測量后無須額外進行人工計算，不僅可以準確測量，降低測量的困擾，還可以大幅降低測量所需成本。

為達上述目的，本發明的一較佳實施方式為提供一種輝度計，包括：一感測裝置；一連接元件，與該感測裝置相連接，其中該連接元件具有一穿孔；以及一收光元件，可移除地套設于該連接元件，用以收集光線，使光線穿透該穿孔至該感測裝置內，進行輝度感測。

為達上述目的，本發明的一較佳實施方式為提供一種輝度計，包括：一感測裝置；一連接元件，與該感測裝置相連接；一第一收光元件，具有一第一收光口，其中該第一收光口的直徑由外而內恒定；一第二收光元件，具有一第二收光口，其中該第二收光口的直徑由外而內漸減；以及一第三收光元件，具有一第三收光口，其中該第三收光口的直徑由外而內漸增；其中，該第一收光元件、該第二收光元件及該第三收光元件系對應一待測光源被擇一套設于該連接元件，用以收集光線并使光線穿透至該感測裝置內，進行輝度感測。

本發明的有益效果在于，本發明提供一種輝度計，通過收光元件可移除地套設于連接元件，可依據測量需求安裝或移除收光元件，以有效地進行收光并進行輝度感測。進一步地，通過光學鏡片的選用以及收光元件的收光口具有不同直徑的特性，可對應待測光源立即進行測量，且測量后無須額外進行人工計算，不僅可以準確測量，降低測量的困擾，還可以大幅降低測量所需成本。

附圖說明

圖1為本發明一實施例的輝度計的結構示意圖。

圖2為本發明一實施例的輝度計的結構爆炸圖。

圖3為圖1所示的輝度計的A-A截面圖。

圖4為本發明一實施例的輝度計的結構示意圖。

圖5為本發明一實施例的輝度計的結構示意圖。

圖6為本發明一實施例的輝度計的結構示意圖。

附圖標記如下：

1：輝度計

11：感測裝置