[發明專利]光電元件測試系統

在審

• 申請號: 202110029499.9
• 申請日: 2021-01-11
• 公開（公告）號: CN112730914A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 彭水良
• 申請（專利權）人: 華精機（蘇州）機械科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/30;F16F15/02;F16F15/067;H05K7/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.光電元件測試系統，包括機殼(1)和減震組件(3)，其特征在于，所述機殼(1)上設置有控制面板(2)，機殼(1)為空腔結構，所述減震組件(3)包括安裝板(31)，安裝板(31)的頂部通過粘合劑粘接有減震墊(32)，且安裝板(31)上通過螺釘固定有對稱布置的安裝柱(33)，所述安裝柱(33)的底部焊接有支腳板(34)，安裝柱(33)的外部套設有減震彈簧(35)，減震彈簧(35)的兩端分別通過卡扣與安裝板(31)和支腳板(34)固定連接；

所述安裝柱(33)靠近端部的兩側均滑動設置有卡塊(8)，機殼(1)的底部開設有與所述安裝柱(33)相匹配的圓形槽孔(5)，所述圓形槽孔(5)的內壁兩側均開設有與所述卡塊(8)相匹配的卡槽(6)，所述卡塊(8)的頂部呈傾斜狀。

2.根據權利要求1所述的光電元件測試系統，其特征在于，所述控制面板(2)上依次設置有顯示屏(21)、學習按鈕(22)、上調按鈕(23)、下調按鈕(24)、調試按鈕(25)、復位按鈕(26)以及設定按鈕(27)。

3.根據權利要求1所述的光電元件測試系統，其特征在于，所述機殼(1)的內壁中通過粘合劑粘接有散熱硅膠(4)，機殼(1)的頂部開設有與內腔相連通的開口，所述散熱硅膠(4)穿過開口的內部。

4.根據權利要求1所述的光電元件測試系統，其特征在于，所述安裝柱(33)的內部開設有對稱布置的內槽(7)，所述卡塊(8)與內槽(7)滑動連接。

5.根據權利要求4所述的光電元件測試系統，其特征在于，所述卡塊(8)的一側通過卡扣固定連接有拆卸彈簧(9)，拆卸彈簧(9)的另一端與所述內槽(7)的側壁固定連接。

6.根據權利要求4所述的光電元件測試系統，其特征在于，所述卡塊(8)的一側焊接有拆卸桿(10)，拆卸桿(10)的一側通過螺絲固定有撥動片(11)，所述撥動片(11)位于所述安裝柱(33)的外部。

7.根據權利要求1所述的光電元件測試系統，其特征在于，還包括相互連接的LED側恒壓恒流驅動電路和LED側電壓電流采集電路；

依次連接的POT側恒高壓驅動電路、POT側高壓采集電路、POT側極性反轉電路、POT側恒低壓恒流驅動電路以及POT側電壓電流采集及輸出開關電路；

相互連接的DAC基準發生器和DA轉換器；

相互連接的LED側模數轉換器和POT側模數轉換器；

依次連接的繼電器驅動電路、MCU處理電路、信號緩沖放大器以及通訊電路。

8.根據權利要求1所述的光電元件測試系統，其特征在于，所述信號緩沖放大器設置為六路。