[發明專利]磁羅盤參數標定方法、裝置、計算機設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110028970.2
• 申請日: 2021-01-09
• 公開（公告）號: CN112762916B
• 公開（公告）日: 2023-02-10
• 發明（設計）人: 陳朋印;李定涌;閆永馳;陳柯柯;曾幼涵;馬一鳴;王圣淙
• 申請（專利權）人: 西安因諾航空科技有限公司
• 主分類號: G01C17/38
• 分類號: G01C17/38;G06F17/11;G06F17/16
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 李鵬威

1.一種磁羅盤參數標定方法，其特征在于，包括：

獲取磁羅盤的指針坐標；

根據所述指針坐標計算待估計的參數向量；

將所述待估計的參數向量代入預設的磁羅盤模型方程中，計算所述磁羅盤參數；其中，所述磁羅盤參數包括所述磁羅盤的零偏誤差和所述磁羅盤的比例系數；

所述待估計的參數向量為j表示時刻，且j為大于或等于1的正整數；采用以下公式計算所述待估計的參數向量：

其中，K_j表示j時刻增益矩陣，且Z_j為j時刻量測向量，且Z_j為預設值，H_j為j時刻量測矩陣，且P_j-1表示j時刻誤差協方差矩陣，且P_j＝(I-K_jH_j)P_j-1，I表示單位矩陣；

所述磁羅盤模型方程為：

其中，b_x表示磁羅盤在x軸方向的零偏誤差，b_y表示磁羅盤在y軸方向的零偏誤差，k_x表示磁羅盤在x軸方向的比例系數，k_y表示磁羅盤在y軸方向的比例系數；

所述磁羅盤模型方程與所述待估計的參數向量之間的關系為：

所述將所述待估計的參數向量代入預設的磁羅盤模型方程中，計算所述磁羅盤參數，包括：

根據公式(1)-(8)計算所述磁羅盤的零偏誤差b_x，b_y和所述磁羅盤的比例系數k_x，k_y；

所述方法還包括：

根據所述磁羅盤參數對所述磁羅盤的指針坐標進行校正。

2.如權利要求1所述的磁羅盤參數標定方法，其特征在于，采用以下公式對所述磁羅盤的指針坐標進行校正，包括：

x_c＝(x_m+b_x)·k_x (9)

y_c＝(y_m+b_y)·k_y (10)

其中，x_c表示校正后的磁羅盤的指針x軸坐標，y_c表示校正后的磁羅盤的指針y軸坐標。