[發(fā)明專利]基于相變材料Ge2 在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110028835.8 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112859204A | 公開(公告)日: | 2021-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許軍偉;田喜敏;丁佩;楊鵬;許坤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鄭州航空工業(yè)管理學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G02B1/00 | 分類號(hào): | G02B1/00;G02B5/00 |
| 代理公司: | 鄭州豫鼎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 41178 | 代理人: | 軒文君 |
| 地址: | 450000 河*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 相變 材料 ge base sub | ||
1.基于相變材料Ge2Sb2Te5的可重構(gòu)超表面隱身斗篷,其特征在于,包括覆接固定在被隱身物體表面的W行×V列的可重構(gòu)超表面隱身單元,相鄰可重構(gòu)超表面隱身單元之間無(wú)縫固定拼接;
所述的可重構(gòu)超表面隱身單元包括下層的邊長(zhǎng)為p的正方形金屬基底層,中層的電介質(zhì)層和上層的金納米天線,所述的金屬基底層覆接固定在被隱身物體表面,中層的電介質(zhì)層由Ge2Sb2Te5薄膜和MgF2薄膜組成,所述的Ge2Sb2Te5薄膜覆接固定在金屬基底層的上表面,所述的MgF2薄膜置于Ge2Sb2Te5薄膜上端且MgF2薄膜下表面與Ge2Sb2Te5薄膜上表面緊貼且尺寸完全吻合,上層的金納米天線固定在MgF2薄膜層上表面,多組金納米天線構(gòu)成W行×V列金納米天線諧振陣列且金納米天線的幾何尺寸滿足行相同,每一列金納米天線的幾何尺寸則由其提供的反射相位補(bǔ)償量決定;
反射相位補(bǔ)償量計(jì)算公式如下:
式中表示反射相位補(bǔ)償量,k0=2π/λ表示入射電磁波波數(shù),hi=(i-1/2)psinθ表示任一列內(nèi)第i(i=1,2,3…W)行金納米天線的幾何中心距離地面的高度,θ=15°表示隱身斗篷與水平地面的夾角,p表示兩個(gè)相鄰金納米天線幾何中心之間的距離,α表示電磁波入射角度,π表示由于鏡面反射引起的相位突變量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于相變材料Ge2Sb2Te5的可重構(gòu)超表面隱身斗篷,其特征在于,所述的電磁波的入射角度α的取值范圍為-25°~25°。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于相變材料Ge2Sb2Te5的可重構(gòu)超表面隱身斗篷,其特征在于,所述的紅外電磁波的波長(zhǎng)λ取值范圍為λ=6920nm~λ=8220nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于相變材料Ge2Sb2Te5的可重構(gòu)超表面隱身斗篷,其特征在于,中層的Ge2Sb2Te5薄膜有結(jié)晶態(tài)和非晶態(tài)兩種相態(tài),兩態(tài)介電常數(shù)存在顯著差別,且兩態(tài)之間可相互轉(zhuǎn)換,轉(zhuǎn)換過(guò)程中通過(guò)控制結(jié)晶態(tài)與非晶態(tài)的不同比例,可實(shí)現(xiàn)多級(jí)相變,產(chǎn)生多種Ge2Sb2Te5中間相態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于相變材料Ge2Sb2Te5的可重構(gòu)超表面隱身斗篷,其特征在于,Ge2Sb2Te5薄膜的結(jié)晶度m被控制為0,0.2,0.4,0.6,0.8,1,其中m=0表示非晶態(tài)Ge2Sb2Te5,m=1表示結(jié)晶態(tài)Ge2Sb2Te5。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于相變材料Ge2Sb2Te5的可重構(gòu)超表面隱身斗篷,其特征在于,該隱身斗篷整體厚度值為700nm,僅為所設(shè)計(jì)工作波長(zhǎng)的1/11。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于相變材料Ge2Sb2Te5的可重構(gòu)超表面隱身斗篷,其特征在于,其中下層金屬層材質(zhì)可以采用Au、Ag、Pt中一種制成。
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