[發明專利]磁盤裝置以及糾錯方法

在審

• 申請號: 202110028378.2
• 申請日: 2021-01-11
• 公開（公告）號: CN114067902A
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發明（設計）人: 前東信宏
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42;G11C29/44
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 劉靜;段承恩

1.一種磁盤裝置，具備：

盤；

頭，其對所述盤寫入數據，從所述盤讀取數據；以及

控制器，其從最初對所述盤的第1磁道進行1周讀取的最初的讀取時起，基于與所述第1磁道對應的第1奇偶校驗數據對在所述第1磁道無法讀取的第1扇區執行糾錯。

2.根據權利要求1所述的磁盤裝置，

所述控制器在通過執行了所述糾錯而能夠讀取所述第1扇區的情況下，基于所述第1扇區的品質對所述第1扇區進行再分配。

3.根據權利要求2所述的磁盤裝置，

所述控制器從所述第1磁道的圓周方向上的第1位置起開始所述第1磁道的讀取，在所述第1磁道的所述圓周方向上的第2位置無法讀取所述第1扇區的情況下，對所述第1磁道進行1周讀取而對所述第1扇區執行所述糾錯。

4.根據權利要求3所述的磁盤裝置，

所述控制器在從對所述第1磁道從所述第1位置起開始讀取而進行1周讀取的所述最初的讀取時到對所述第1磁道從所述第1位置起開始讀取而進行3周讀取的第3次讀取時為止的期間，在通過執行了所述糾錯而成為了能夠讀取所述第1扇區的情況下，基于所述第1扇區的品質對所述第1扇區進行再分配。

5.根據權利要求3所述的磁盤裝置，

所述控制器基于通過所述糾錯進行了糾正的所述第1扇區的第1數據中的全部位的數量，對所述第1扇區的品質進行確認。

6.根據權利要求3所述的磁盤裝置，

所述控制器基于對所述第1扇區的第1數據執行了LDPC時的未滿足的奇偶校驗的數量，對所述第1扇區的品質進行確認。

7.根據權利要求3所述的磁盤裝置，

所述控制器基于對于所述第1扇區的第1數據的維特比解碼處理中的選擇路徑和競爭路徑的度量差，對所述第1扇區的品質進行確認。

8.根據權利要求3所述的磁盤裝置，

所述控制器基于所述第1扇區的第1數據的波形的下跌，對所述第1扇區的品質進行確認。

9.根據權利要求2～8中任一項所述的磁盤裝置，

所述控制器在已將所述第1扇區再分配為與所述第1磁道不同的第2磁道的第2扇區的情況下，基于所述第1磁道的所述第1扇區以外的全部扇區和所述第2扇區，生成所述第1奇偶校驗數據。

10.根據權利要求9所述的磁盤裝置，

所述控制器對所述第1磁道的所述第1扇區以外的全部扇區進行讀取，對所述第2磁道的所述第2扇區進行讀取，基于所述第1磁道的所述第1扇區以外的全部扇區和所述第2扇區，生成所述第1奇偶校驗數據。

11.根據權利要求2～8中任一項所述的磁盤裝置，

所述控制器在將所述第1扇區再分配為與所述第1磁道不同的第2磁道的第2扇區、且判定為不使用所述第1扇區的情況下，基于所述第1磁道的所述第1扇區以外的全部扇區，生成所述第1奇偶校驗數據。

12.根據權利要求11所述的磁盤裝置，

所述控制器對所述第1磁道的所述第1扇區以外的全部扇區進行讀取，基于所述第1磁道的所述第1扇區以外的全部扇區，生成所述第1奇偶校驗數據。

13.根據權利要求2或者3所述的磁盤裝置，

基于所述第1奇偶校驗數據對在所述第1磁道無法讀取的與所述第1扇區不同的第3扇區進行糾錯，在能夠對糾錯后的所述第3扇區進行讀取的情況下，基于所述第3扇區的品質，對所述第3扇區進行再分配。