[發明專利]一種貼片電阻測試治具

在審

• 申請號: 202110028350.9
• 申請日: 2021-01-11
• 公開（公告）號: CN112924756A
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: 胡紫陽;鄒文鑒;李智德
• 申請（專利權）人: 昆山業展電子有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 南京中高專利代理有限公司 32333
• 代理人: 沈雄

本申請公開了一種貼片電阻測試治具，其包括：基座(1)，其包括用于承載貼片電阻(6)的承載面(10)；第一測試針(21)，其用于與所述貼片電阻(6)的第一電極(60)相抵；以及第二測試針(31)，其用于與所述貼片電阻(6)的第二電極(61)相抵；所述第一測試針(21)和所述第二測試針(31)均包括位于中心的電壓測試體(210)、包覆于所述電壓測試體(210)外部的絕緣層(211)以及包覆于所述絕緣層(211)外部的電流加載層(212)。本申請中，電壓測試體和電流加載層被集成在一根測試針上，極大的縮小了測試針的體積，能夠更好的對小尺寸的貼片電阻進行四線法測試，有利于獲得更準確的測試結果。

技術領域

本申請涉及電阻測試技術領域，尤其涉及一種貼片電阻測試治具。

背景技術

目前對電阻值的測量通常使用四線法進行測試，四線法是將電流加載線和電壓測試線進行的拆分，形成四測針式測試，其能夠較好的避免接觸電阻和導線電阻的影響，具有靈敏度高，測量準確的優點。

但是，對于小封裝貼片電阻而言，其尺寸較小，受到測試針的尺寸影響，難以同時下四針對小封裝貼片電阻進行測試。并且小阻值電阻需要較大電流的加載，在保證電流和電壓測試針相互不接觸的前提下，一方面：電流加載時，如果測試針過小，對過電流會有一定限制，另一方面：如果測試針過大，可能造成電壓測試針與電流測試針接觸，干擾電阻測試結果。另外，由于是四針式測試，在測試小阻值產品時，可能會存在產品電流分布問題，引起電壓取樣點值出現偏差。

另外，對電阻值進行測量時，常采用測試治具輔助進行測量，現有的測試治具通常只能對特定尺寸的貼片電阻進行測試，無法對不同規格和尺寸的貼片電阻進行測試，其結構復雜，操作不便，有必要予以改進。

發明內容

針對上述技術中存在的不足之處，本申請提供了一種貼片電阻測試治具，能夠方便地使用四線法對小封裝貼片電阻進行測試。

為解決上述技術問題，本申請采用的技術方案是：一種貼片電阻測試治具，其包括：

基座，其包括用于承載貼片電阻的承載面；

第一測試針，其用于與所述貼片電阻的第一電極相抵；以及

第二測試針，其用于與所述貼片電阻的第二電極相抵；

所述第一測試針和所述第二測試針均包括位于中心的電壓測試體、包覆于所述電壓測試體外部的絕緣層以及包覆于所述絕緣層外部的電流加載層。

進一步地，所述第一測試針和所述第二測試針與所述貼片電阻接觸的端部的底部均開設有第一切槽。

進一步地，所述第一切槽包括水平切面，所述水平切面與所述承載面貼合。

進一步地，所述電壓測試體及所述電流加載層的前端與所述絕緣層的前端平齊或者較所述絕緣層的前端更為突出。

進一步地，所述的貼片電阻測試治具還包括滑動配接于所述基座上的第一滑塊以及驅動所述第一滑塊向著所述貼片電阻移動的第一彈性件，所述第一測試針連接于所述第一滑塊上。

進一步地，所述的貼片電阻測試治具還包括滑動配接于所述基座上的第二滑塊以及驅動所述第二滑塊向著所述貼片電阻移動的第二彈性件，所述第二測試針連接于所述第二滑塊上。

進一步地，所述第一測試針在所述第一滑塊上的位置可調和/或所述第二測試針在所述第二滑塊上的位置可調。

進一步地，所述的貼片電阻測試治具還包括與所述貼片電阻的第一側面相抵的第一固定件以及與所述貼片電阻的第二側面相抵的第二固定件，所述第一固定件和所述第二固定件配合定位所述貼片電阻。

進一步地，所述的貼片電阻測試治具還包括滑動配接于所述基座上的第三滑塊以及驅動所述第三滑塊向所述貼片電阻移動的第三彈性件，所述第一固定件連接于所述第三滑塊上。