[發明專利]一種電子產品防塵性能無損測試方法

在審

• 申請號: 202110026742.1
• 申請日: 2021-01-09
• 公開（公告）號: CN112834123A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 張玉
• 申請（專利權）人: 江蘇粵科檢測技術服務有限公司
• 主分類號: G01M3/04
• 分類號: G01M3/04;G01M7/02
• 代理公司: 杭州知杭知識產權代理事務所(普通合伙) 33310
• 代理人: 夏艷

1.一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1，干燥處理，將電子產品放置在高溫干燥箱中干燥，然后靜置一段時間取出；

步驟2，電子產品預處理，對經過干燥處理的電子產品進行檢查，檢查電子產品中密封圈的硬度、老化程度和形變，并記錄數據；

步驟3，開啟測試，向砂塵箱中加入砂塵粉和鐵屑粉，將電子產品放入砂塵箱中，砂塵箱的風扇通電工作；

步驟4，停止測試，關閉砂塵箱的風扇，等待砂塵完全沉降后打開砂塵箱，取出電子產品；

步驟5，防塵檢測，按照防塵性能技術要求進行檢查，檢查電子產品內進入灰塵的量和灰塵沉降的位置。

2.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的干燥處理中，將電子產品放入干燥箱內，在60度的溫度下干燥10小時。

3.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的電子產品預處理中，對電子產品密封圈的檢查包括密封圈尺寸的檢查和密封圈材料的老化程度檢查。

4.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的開啟測試中，砂塵粉中混入鐵屑粉，再將電子產品置于砂塵箱中，砂塵箱進行低頻振動，振動持續時間為6小時。

5.根據權利要求4所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的砂塵箱進行低頻振動是將砂塵箱固定安裝于振動臺上，通過振動臺的振動帶動砂塵箱振動，進而帶動砂塵箱內的鐵屑粉振動。

6.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的停止測試中，取出電子產品后，去除其表面的砂塵粉和鐵屑粉。

7.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的防塵檢測中，采用高斯計測試電子產品的磁通量，比較測試前后磁通量的大小，評估電子產品的防塵性能。

8.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的開啟測試中，電子產品在通過砂塵箱后，再放入壓力設備，將電子產品放入壓力設備內合適的位置固定，啟動壓力設備運行30分鐘。

9.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的電子產品預處理中，對密封圈的檢查包含物理檢查，物理檢查通過游標卡尺對密封圈的厚度進行測量，檢查密封圈的外觀，并用電子稱重量。

10.根據權利要求1所述的一種電子產品防塵性能無損測試方法，其特征在于：所述的電子產品預處理中，對密封圈的檢查包含硬度檢查，通過用邵氏硬度計測量密封圈的硬度值。