[發(fā)明專利]磁性特征檢測裝置和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110025926.6 | 申請日: | 2021-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN112863042B | 公開(公告)日: | 2023-05-09 |
| 發(fā)明(設計)人: | 張渠;王真;張健;張曉明;韓英魁;朱強;李梓碩 | 申請(專利權)人: | 中鈔印制技術研究院有限公司;中國印鈔造幣集團有限公司 |
| 主分類號: | G07D7/20 | 分類號: | G07D7/20 |
| 代理公司: | 北京友聯(lián)知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11343 | 代理人: | 尚志峰 |
| 地址: | 100070 北京市豐*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁性 特征 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種磁性特征檢測裝置(100),其特征在于,包括:
第一磁頭組(110),所述第一磁頭組(110)對磁性材料進行磁化,生成第一磁性信號;
第二磁頭組(120),所述第二磁頭組(120)對所述磁性材料進行磁化,生成第二磁性信號;
數(shù)據(jù)處理模塊(130),所述數(shù)據(jù)處理模塊(130)根據(jù)所述第一磁性信號,獲取第一磁圖像,根據(jù)所述第一磁圖像,獲取第一磁性特征,所述數(shù)據(jù)處理模塊(130)根據(jù)所述第二磁性信號,獲取第二磁圖像,根據(jù)所述第二磁圖像,獲取第二磁性特征,所述數(shù)據(jù)處理模塊(130)基于所述第一磁性特征與所述第二磁性特征種類相同,將所述第一磁圖像與所述第二磁圖像進行插值拼接,得到第三磁圖像,根據(jù)所述第三磁圖像,獲取所述磁性材料的第三磁性特征;
所述磁性特征檢測裝置(100)對磁性特征載體進行檢測時,所述磁性特征載體的運動方向為,先經(jīng)過所述第一磁頭組(110),再進入所述第二磁頭組(120)。
2.根據(jù)權利要求1所述的磁性特征檢測裝置(100),其特征在于,所述第一磁頭組(110)包括:
至少兩個第一磁頭(112),所述第一磁頭(112)設有第一磁化裝置(114),所述第一磁化裝置(114)對所述磁性材料進行磁化,所述第一磁頭(112)生成所述第一磁性信號。
3.根據(jù)權利要求2所述的磁性特征檢測裝置(100),其特征在于,所述第二磁頭組(120)包括:
至少兩個第二磁頭(122),所述第二磁頭(122)設有第二磁化裝置(124),所述第二磁化裝置(124)對所述磁性材料進行磁化,所述第二磁頭(122)生成所述第二磁性信號。
4.根據(jù)權利要求1所述的磁性特征檢測裝置(100),其特征在于,所述第一磁頭組(110)包括至少兩個第一磁頭(112),所述第二磁頭組(120)包括至少兩個第二磁頭(122),所述第一磁頭(112)與所述第二磁頭(122)數(shù)量相同。
5.根據(jù)權利要求3所述的磁性特征檢測裝置(100),其特征在于,所述第一磁頭(112)平行排列,相鄰的兩個所述第一磁頭(112)中心間距為第一間距,所述第二磁頭(122)平行排列,相鄰的兩個所述第二磁頭(122)中心間距為第二間距,所述第一間距與所述第二間距相同。
6.根據(jù)權利要求5所述的磁性特征檢測裝置(100),其特征在于,所述第一磁頭組(110)中的首個第一磁頭(112)的中心與所述第二磁頭組(120)中的首個第二磁頭(122)的中心間距為第三間距,所述第三間距為所述第一間距的二分之一。
7.根據(jù)權利要求5所述的磁性特征檢測裝置(100),其特征在于,所述第一間距為0.4毫米至0.6毫米。
8.根據(jù)權利要求3所述的磁性特征檢測裝置(100),其特征在于:
所述第一磁化裝置(114)與所述第二磁化裝置(124)具有不同的磁場強度;和/或
所述第一磁化裝置(114)與所述第二磁化裝置(124)具有不同的磁場方向。
9.一種磁性特征檢測方法,其特征在于,包括:
通過第一磁頭組,對磁性材料進行檢測,生成第一磁性信號;
根據(jù)所述第一磁性信號,獲取第一磁圖像,根據(jù)所述第一磁圖像,獲取第一磁性特征;
通過第二磁頭組,對所述磁性材料進行檢測,生成第二磁性信號;
根據(jù)所述第二磁性信號,獲取第二磁圖像,根據(jù)所述第二磁圖像,獲取第二磁性特征;
基于所述第一磁性特征與所述第二磁性特征種類相同,將所述第一磁圖像與所述第二磁圖像進行插值拼接,得到第三磁圖像,根據(jù)所述第三磁圖像,獲取所述磁性材料的第三磁性特征;
根據(jù)所述第一磁圖像和所述第二磁圖像,獲取所述磁性材料在兩種矯頑力下的磁性特征。
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