[發(fā)明專利]一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)及其使用方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110025771.6
• 申請(qǐng)日: 2021-01-08
• 公開（公告）號(hào): CN112834538A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 聶越峰;管樂
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南京大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N23/207
• 分類號(hào): G01N23/207;G01N23/20033;G01Q60/24;G01Q30/10
• 代理公司: 江蘇德善律師事務(wù)所 32488
• 代理人: 何紅梅

1.一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)，包括樣品臺(tái)底座（1），其特征在于：所述樣品臺(tái)底座（1）的頂部設(shè)置有立柱（2），所述立柱（2）的頂端設(shè)置有第一固定螺帽（3），所述樣品臺(tái)底座（1）的頂部設(shè)置有中心螺柱（4），所述中心螺柱（4）的頂部設(shè)置有載物臺(tái)（5），所述立柱（2）的頂部一側(cè)設(shè)置有支撐平臺(tái)（6），所述載物臺(tái)（5）的內(nèi)部開設(shè)有通孔（7），所述載物臺(tái)（5）的底部設(shè)置有加熱片（8），所述樣品臺(tái)底座（1）的底部設(shè)置有磁片（9），所述立柱（2）的底部一側(cè)設(shè)置有第二固定螺帽（10），所述立柱（2）的底端設(shè)置有第三固定螺帽（11），所述立柱（2）的頂部一側(cè)設(shè)置有第四固定螺帽（12）。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)，其特征在于：所述樣品臺(tái)底座（1）的內(nèi)部設(shè)有四個(gè)螺紋孔，且螺紋孔處設(shè)有四個(gè)不銹鋼立柱（2）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)，其特征在于：所述支撐平臺(tái)（6）的左右兩側(cè)設(shè)有安裝孔，用于電源線及熱電偶線的布局。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)，其特征在于：所述磁片（9）位于樣品臺(tái)底座（1）的下表面，用于XRD底座及樣品臺(tái)底座（1）之間的緊密吸附。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)，其特征在于：所述載物臺(tái)（5）設(shè)置在支撐平臺(tái)（6）的上方，其下表面用于安放加熱片（8）、電源線與熱偶線，上表面用于承載樣品。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)，其特征在于：所述加熱片（8）的兩腳同電源線用焊錫焊接，所述載物臺(tái)（5）側(cè)面設(shè)有一通孔（7），用于安放熱偶線，所述載物臺(tái)（5）的上表面用于安放樣品，且樣品同上表面之間用銀漿貼合。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)，其特征在于：所述樣品臺(tái)匹配相應(yīng)的溫度測(cè)量及控溫系統(tǒng)。

8.權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的用于XRD和原子力顯微鏡的變溫樣品臺(tái)的使用方法，其特征在于包括如下步驟：將待測(cè)量樣品用銀漿粘貼在樣品臺(tái)頂部，將樣品臺(tái)及樣品安放至XRD或AFM載物臺(tái)上，將電源線和熱偶線分別同穩(wěn)壓穩(wěn)流電源及測(cè)溫儀連接，通過(guò)改變輸入電流，電壓的數(shù)值，調(diào)節(jié)樣品的溫度，同時(shí)通過(guò)測(cè)溫儀實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品溫度的觀測(cè)和控制，然后開展XRD或AFM相關(guān)測(cè)量。