[發(fā)明專利]一種載臺及檢測加工裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110025587.1
• 申請日: 2021-01-08
• 公開（公告）號: CN112666085B
• 公開（公告）日: 2023-02-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 康強強
• 申請（專利權(quán)）人: 昆山精訊電子技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/958
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發(fā)明涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體公開了一種載臺及檢測加工裝置。載臺包括：支架；轉(zhuǎn)盤，轉(zhuǎn)動設(shè)置于所述支架上，所述轉(zhuǎn)盤上開設(shè)有多個鏤空區(qū)域，多個所述鏤空區(qū)域繞所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動軸線間隔分布，多個所述鏤空區(qū)域隨所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動形成同一圓周軌跡；夾緊組件，設(shè)置于所述鏤空區(qū)域的一側(cè)，所述夾緊組件用于夾緊放置于所述轉(zhuǎn)盤上并與所述鏤空區(qū)域正對的待檢測加工件。本發(fā)明提供的載臺將呈線性排列的多個工序變?yōu)槌蕡A周排列，從而減小了各個工序的占用空間。鏤空的區(qū)域不會對玻璃基板的檢測造成背景干擾，提高了檢測結(jié)果的準確性。夾緊組件防止玻璃基板在加工和檢測時移動，保證加工精度和檢測結(jié)果的準確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種載臺及檢測加工裝置。

背景技術(shù)

手機和平板電腦等電子產(chǎn)品均包括用于顯示畫面的顯示模組，顯示模組包括玻璃基板，玻璃基板在安裝前需要進行加工和檢測等工序，現(xiàn)有技術(shù)中，加工和檢測等多個工序呈線性排列，這導(dǎo)致加工和檢測等多個工序占用空間大。另外，玻璃基板在檢測時通過載臺吸附的方式固定，這造成了背景干擾，導(dǎo)致檢測結(jié)果不準確。

因此，亟需一種載臺及檢測加工裝置，以解決多個工序占用空間大，檢測結(jié)果不準確的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一個目的在于提供一種載臺，以解決多個工序占用空間大，檢測結(jié)果不準確的問題。

為達此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種載臺，包括：

支架；

轉(zhuǎn)盤，轉(zhuǎn)動設(shè)置于所述支架上，所述轉(zhuǎn)盤上開設(shè)有多個鏤空區(qū)域，多個所述鏤空區(qū)域繞所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動軸線間隔分布，多個所述鏤空區(qū)域隨所述轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動形成同一圓周軌跡；

夾緊組件，設(shè)置于所述鏤空區(qū)域的一側(cè)，所述夾緊組件用于夾緊放置于所述轉(zhuǎn)盤上并與所述鏤空區(qū)域正對的待檢測加工件。

作為優(yōu)選，所述轉(zhuǎn)盤上并沿所述鏤空區(qū)域的周向開設(shè)有定位槽，所述待檢測加工件設(shè)置于所述定位槽內(nèi)，且所述待檢測加工件的一側(cè)能夠抵接于所述定位槽的第一側(cè)壁。

作為優(yōu)選，所述夾緊組件包括：

固定擋邊，設(shè)置于所述定位槽的第二側(cè)壁的一側(cè)，所述第一側(cè)壁與所述第二側(cè)壁相鄰；

活動擋邊，與所述固定擋邊相對設(shè)置；

彈性件，所述彈性件的一端與所述活動擋邊連接，另一端與所述轉(zhuǎn)盤連接；所述彈性件用于驅(qū)動所述活動擋邊抵推所述待檢測加工件，以使待檢測加工件夾設(shè)于所述活動擋邊和所述固定擋邊之間。

作為優(yōu)選，所述轉(zhuǎn)盤上還開設(shè)有與所述鏤空區(qū)域一一對應(yīng)設(shè)置的第一容納槽，所述第一容納槽與所述鏤空區(qū)域連通，所述活動擋邊滑動設(shè)置于所述第一容納槽內(nèi)。

作為優(yōu)選，所述轉(zhuǎn)盤的表面涂覆有鐵氟龍。

本發(fā)明的另一個目的在于提供一種檢測加工裝置，以解決多個工序占用空間大，檢測結(jié)果不準確的問題。

為達此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種檢測加工裝置，包括檢測機構(gòu)和如上所述的載臺，所述檢測機構(gòu)設(shè)置于所述載臺的上側(cè)，并用于檢測所述轉(zhuǎn)盤上的待檢測加工件。

作為優(yōu)選，所述檢測機構(gòu)包括：

相機，用于采集位于轉(zhuǎn)盤上的所述待檢測加工件的圖像；

光源組件，包括光源架以及均設(shè)置于所述光源架上的同軸光源和線光源，所述光源組件用于照亮位于所述相機下側(cè)的所述待檢測加工件。

作為優(yōu)選，所述同軸光源與所述線光源均為頻閃光源，所述同軸光源和所述線光源交替閃爍，所述同軸光源和所述線光源點亮時，所述相機采集所述待檢測加工件的圖像。