[發明專利]壓后分析方法、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202110024544.1 | 申請日: | 2021-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN114741979A | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發明(設計)人: | 周彤;李鳳霞;王海波;賀甲元;劉長印;潘林華;李小龍 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院 |
| 主分類號: | G06F30/28 | 分類號: | G06F30/28;E21B43/26;G06F113/08;G06F119/14 |
| 代理公司: | 北京思創畢升專利事務所 11218 | 代理人: | 孫向民;廉莉莉 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分析 方法 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種用于評價水平井分段分簇壓裂摩阻的壓后分析方法,其特征在于,包括:
計算各壓裂段的沿程-射孔摩阻Pwell-perf和迂曲摩阻Ptort;
計算各壓裂段的沿程-射孔摩阻系數α和迂曲摩阻系數β;
確定沿程-射孔摩阻系數梯度最小值λmin;
計算各壓裂段的射孔摩阻系數ζn和射孔摩阻Pperf-n;
計算各壓裂段的沿程摩阻Pwell-n和沿程摩阻系數ηn。
2.根據權利要求1所述的用于評價水平井分段分簇壓裂摩阻的壓后分析方法,其特征在于,利用如下公式計算所述各壓裂段的沿程-射孔摩阻Pwell-perf和迂曲摩阻Ptort,
Pwell-perf=P(tp=0)-P(tp1) (1)
Ptort=P(tp1)-P(tp2) (2)
其中,P(tp1)為沿程-射孔摩阻消失時刻tp1對應的壓力,P(tp2)為迂曲摩阻消失時刻tp2對應的瞬時停泵壓力,P(tp=0)為停泵時對應的初始壓力。
3.根據權利要求2所述的用于評價水平井分段分簇壓裂摩阻的壓后分析方法,其特征在于,根據停泵后的壓力P(tp)與停泵時間tp數據,獲取壓差導數曲線;
在所述壓差導數曲線上確定沿程-射孔摩阻消失時刻tp1以及迂曲摩阻消失時刻tp2,并記錄對應的壓力P(tp1)和P(tp2)。
4.根據權利要求3所述的用于評價水平井分段分簇壓裂摩阻的壓后分析方法,其特征在于,在所述壓差導數曲線上,確定第一個斜率為一的部分及其隨后“駝峰”峰頂出現的時間tp1,tp1時刻為沿程-射孔摩阻消失時刻;
確定所述壓差導數曲線上第一個“駝峰”結束時間tp2,tp2時刻為迂曲摩阻消失時刻。
5.根據權利要求2所述的用于評價水平井分段分簇壓裂摩阻的壓后分析方法,其特征在于,利用如下公式計算所述的沿程-射孔摩阻系數α和迂曲摩阻系數β:
α=Pwell-perf/Q2 (3)
β=Ptort/Q0.5 (4)
其中,Q為停泵前瞬時排量。
6.根據權利要求5所述的用于評價水平井分段分簇壓裂摩阻的壓后分析方法,其特征在于,利用如下公式計算水平井第n個壓裂段的沿程-射孔摩阻系數梯度λn:
λn=αn/Hn (5)
其中,n為水平井壓裂段編號,1≤n≤k;k為壓裂段總段數;αn為第n個壓裂段的沿程-射孔摩阻系數;Hn為第n個壓裂段中部測深,單位m;
基于所述沿程-射孔摩阻系數梯度λn確定沿程-射孔摩阻系數梯度最小值λmin:
λmin=min(λ1,…,λn,…λk) (6)。
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