[發(fā)明專利]一種線式PECVD系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110024152.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112746267A | 公開(公告)日: | 2021-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊與勝;倪鵬玉;張建德;賴禮銘 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 福建金石能源有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C16/50 | 分類號(hào): | C23C16/50;C23C16/458;C23C16/54;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 張磊 |
| 地址: | 362200 福建省泉州市*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 pecvd 系統(tǒng) | ||
1.一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:它包括第一沉積裝置、第二沉積裝置以及第三沉積裝置;所述第一沉積裝置與第二沉積裝置之間設(shè)有用于基片翻面、轉(zhuǎn)運(yùn)的第一基片翻面移轉(zhuǎn)裝置,所述第二沉積裝置與第三沉積裝置之間設(shè)有用于基片翻面、轉(zhuǎn)運(yùn)的第二基片翻面移轉(zhuǎn)裝置;所述第一沉積裝置與第二沉積裝置之間設(shè)有用于基片載板升降回轉(zhuǎn)的第一載板回轉(zhuǎn)裝置,所述第二沉積裝置與第三沉積裝置之間設(shè)有用于基片載板升降回轉(zhuǎn)的第二載板回轉(zhuǎn)裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:所述第一沉積設(shè)備包括第一載板回升裝置、與第一載板回升裝置出料端連接的第一裝載組件、與第一裝載組件出料端相連的第一預(yù)熱室、與第一預(yù)熱室出料端相連的第一反應(yīng)室、與第一反應(yīng)室出料端相連的第一冷卻室、與第一冷卻室出料端相連的第一出片組件;所述第一預(yù)熱室進(jìn)料端設(shè)有預(yù)熱室第一密封隔斷組件;所述第一預(yù)熱室與第一反應(yīng)室之間設(shè)有反應(yīng)室第一密封隔斷組件;所述第一反應(yīng)室與第一冷卻室之間設(shè)有冷卻室第一密封隔斷組件;所述第一冷卻室出料端設(shè)有冷卻室第二密封隔斷組件;所述第一反應(yīng)室由依次連接的一個(gè)以上第一反應(yīng)腔構(gòu)成;當(dāng)?shù)谝环磻?yīng)室由依次連接的兩個(gè)以上第一反應(yīng)腔構(gòu)成時(shí),相鄰第一反應(yīng)腔之間設(shè)有反應(yīng)室第二密封隔斷組件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:所述第一反應(yīng)室由依次連接的第一反應(yīng)腔A和第一反應(yīng)腔B構(gòu)成;所述第一反應(yīng)腔A為沉積正面非晶硅本征層50%厚度的正面非晶硅本征層反應(yīng)腔室A;所述第一反應(yīng)腔B為沉積正面非晶硅本征層剩余50%厚度的正面非晶硅本征層反應(yīng)腔室B。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:所述第二沉積設(shè)備包括第二裝載組件、與第二裝載組件出料端相連的第二預(yù)熱室、與第二預(yù)熱室出料端相連的第二反應(yīng)室、與第二反應(yīng)室出料端相連的第二冷卻室、與第二冷卻室出料端相連的第二出片組件;所述第二預(yù)熱室進(jìn)料端設(shè)有預(yù)熱室第二密封隔斷組件;所述第二預(yù)熱室與第二反應(yīng)室之間設(shè)有反應(yīng)室第三密封隔斷組件;所述第二反應(yīng)室與第二冷卻室之間設(shè)有冷卻室第三密封隔斷組件;所述第二冷卻室出料端設(shè)有冷卻室第四密封隔斷組件;所述第二反應(yīng)室由依次連接的一個(gè)以上第二反應(yīng)腔構(gòu)成;當(dāng)?shù)诙磻?yīng)室由依次連接的兩個(gè)以上第二反應(yīng)腔構(gòu)成時(shí),相鄰第二反應(yīng)腔之間設(shè)有反應(yīng)室第四密封隔斷組件。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:所述第二反應(yīng)室由依次連接的第二反應(yīng)腔A和第二反應(yīng)腔B構(gòu)成;所述第二反應(yīng)腔A為沉積反面非晶硅本征層的反面非晶硅本征層反應(yīng)腔室A;所述第二反應(yīng)腔B為沉積N型薄膜硅層的N型薄膜硅層反應(yīng)腔室B。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:所述第三沉積設(shè)備包括第三裝載組件、與第三裝載組件出料端相連的第三預(yù)熱室、與第三預(yù)熱室出料端相連的第三反應(yīng)室、與第三反應(yīng)室出料端相連的第三冷卻室、與第三冷卻室出料端相連的第三出片組件、與第三出片組件相連的用于基片載板下降回轉(zhuǎn)的第三載板回轉(zhuǎn)裝置;所述第三預(yù)熱室進(jìn)料端設(shè)有預(yù)熱室第三密封隔斷組件;所述第三預(yù)熱室與第三反應(yīng)室之間設(shè)有反應(yīng)室第五密封隔斷組件;所述第三反應(yīng)室與第三冷卻室之間設(shè)有冷卻室第五密封隔斷組件;所述第三冷卻室出料端設(shè)有冷卻室第六密封隔斷組件。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:所述第三反應(yīng)室為沉積P型薄膜硅層的P型薄膜硅層反應(yīng)腔室。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種線式PECVD系統(tǒng),其特征在于:所述第一基片翻面移轉(zhuǎn)裝置包括翻轉(zhuǎn)收集基片的第一基片收集機(jī)構(gòu)、與第一基片收集機(jī)構(gòu)配合的的第一裝片機(jī)構(gòu)、與第一裝片機(jī)構(gòu)配合的第一花籃輸送機(jī)構(gòu)、與第一花籃輸送機(jī)構(gòu)輸出端連接的第一卸片機(jī)構(gòu)、與第一卸片機(jī)構(gòu)配合對(duì)基片進(jìn)行分裝的第一硅片分裝機(jī)構(gòu);和/或,所述第二基片翻面移轉(zhuǎn)裝置包括翻轉(zhuǎn)收集基片的第二基片收集機(jī)構(gòu)、與第二基片收集機(jī)構(gòu)配合的的第二裝片機(jī)構(gòu)、與第二裝片機(jī)構(gòu)配合的第二花籃輸送機(jī)構(gòu)、與第二花籃輸送機(jī)構(gòu)輸出端連接的第二卸片機(jī)構(gòu)、與第二卸片機(jī)構(gòu)配合對(duì)基片進(jìn)行分裝的第二硅片分裝機(jī)構(gòu)。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機(jī)材料為特征的
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