[發(fā)明專利]旋涂碳合成物與制造半導(dǎo)體元件的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110023472.9 | 申請日: | 2021-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN114068300A | 公開(公告)日: | 2022-02-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃景弘;張慶裕;賴韋翰 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/324;C09D125/18;C09D133/04;C09D133/12;C09D7/63;C09D7/65 |
| 代理公司: | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 旋涂碳 合成物 制造 半導(dǎo)體 元件 方法 | ||
1.一種制造半導(dǎo)體元件的方法,其特征在于,包括:
在半導(dǎo)體基板上形成包括旋涂碳合成物的旋涂碳層;
在第一溫度下第一加熱該旋涂碳層以部分交聯(lián)該旋涂碳層;
在第二溫度下第二加熱該旋涂碳層以進一步交聯(lián)該旋涂碳層;以及
在該旋涂碳層之上形成覆蓋層,
其中該第二溫度高于該第一溫度。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中該旋涂碳合成物包括碳主鏈聚合物、第一交聯(lián)劑及第二交聯(lián)劑,其中該第一及第二交聯(lián)劑彼此不同。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其中在第一加熱期間,該第一交聯(lián)劑與該碳主鏈聚合物反應(yīng)以部分交聯(lián)該碳主鏈聚合物。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其中在第二加熱期間,該第二交聯(lián)劑與第一聚合物反應(yīng)以進一步交聯(lián)該碳主鏈聚合物。
5.一種制造半導(dǎo)體元件的方法,其特征在于,包括:
在半導(dǎo)體基板上形成底層,
其中該底層包括:
碳主鏈聚合物;
第一交聯(lián)劑;以及
第二交聯(lián)劑;
在第一溫度下第一加熱該底層以通過該第一交聯(lián)劑部分交聯(lián)該底層;
在高于該第一溫度的第二溫度下第二加熱該底層以通過該第二交聯(lián)劑進一步交聯(lián)該底層;
在該底層之上形成中間層;以及
在該中間層之上形成光阻層,
其中該中間層具有與該底層及該光阻層相異的合成物。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其中該第一交聯(lián)劑選自包括A-(OR)x、A-(NR)x、及的群組的一種或多種,
其中A是具有范圍從100至20000的分子量的單分子、多聚體或第二聚合物;
R是烴基、環(huán)烷基、環(huán)烷基環(huán)氧基或C3-C15雜環(huán)基;
OR是烷氧基、環(huán)烷氧基、碳酸酯基、烷基碳酸酯基、烷基羧酸酯基、甲苯磺酸酯基或甲磺酸酯基;
NR是烷基酰胺基或烷基氨基;以及
x的范圍從2到1000。
7.如權(quán)利要求5所述的方法,其中該第二交聯(lián)劑選自包括A-(OH)x、A-(OR’)x、A-(C=C)x及A-(C≡C)x的群組的一種或多種,
其中A是具有范圍從100至20000的分子量的單分子、多聚體或第二聚合物;
R’是烷氧基、烯基或炔基;以及
x的范圍從2到1000。
8.一種旋涂碳合成物,其特征在于,包括:
碳主鏈聚合物;
第一交聯(lián)劑;以及
第二交聯(lián)劑,
其中該第一交聯(lián)劑在第一溫度下與該碳主鏈聚合物反應(yīng)以部分交聯(lián)為第一聚合物,而該第二交聯(lián)劑在高于該第一溫度的第二溫度下與該第一聚合物反應(yīng)以進一步交聯(lián)該碳主鏈聚合物。
9.如權(quán)利要求8所述的旋涂碳合成物,其中該第一交聯(lián)劑選自包括A-(OR)x、A-(NR)x、及的群組的一種或多種,
其中A是具有范圍從100至20000的分子量的單分子、多聚體或聚合物;
R是烴基、環(huán)烷基、環(huán)烷基環(huán)氧基或C3-C15雜環(huán)基;
OR是烷氧基、環(huán)烷氧基、碳酸酯基、烷基碳酸酯基、烷基羧酸酯基、甲苯磺酸酯基或甲磺酸酯基;
NR是烷基酰胺基或烷基氨基;以及
x的范圍從2到1000。
10.如權(quán)利要求8所述的旋涂碳合成物,其中該第二交聯(lián)劑選自包括A-(OH)x、A-(OR’)x、A-(C=C)x及A-(C≡C)x的群組的一種或多種,
其中A是具有范圍從100至20000的分子量的單分子、多聚體或聚合物;
R’是烷氧基、烯基或炔基;以及
x的范圍從2到1000。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





