[發(fā)明專利]新型等離子體增強(qiáng)化氣相沉積氧化物高阻隔膜放電結(jié)構(gòu)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110023434.3 | 申請日: | 2021-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN112575318A | 公開(公告)日: | 2021-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邵海平;李中華;劉莉云;曹英朝 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東諦思納為新材料科技有限公司 |
| 主分類號: | C23C16/50 | 分類號: | C23C16/50;C23C16/40 |
| 代理公司: | 深圳市千納專利代理有限公司 44218 | 代理人: | 陳培瓊 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 新型 等離子體 增強(qiáng) 化氣相 沉積 氧化物 阻隔 放電 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種新型等離子體增強(qiáng)化氣相沉積氧化物高阻隔膜放電結(jié)構(gòu),其包括中頻電源和放電電極,其特征在于:所述放電電極為固定不可旋轉(zhuǎn)設(shè)置,所述中頻電源與放電電極相連接,所述放電電極內(nèi)固定設(shè)有能將等離子體約束在其附近的永磁體,使放電電極附近區(qū)域形成高密度等離子體區(qū)域;被鍍基膜經(jīng)過所述高密度等離子體區(qū)域,且與所述放電電極之間具有間距。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型等離子體增強(qiáng)化氣相沉積氧化物高阻隔膜放電結(jié)構(gòu),其特征在于,所述被鍍基膜與放電電極之間的間距為1.0mm~1.5mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型等離子體增強(qiáng)化氣相沉積氧化物高阻隔膜放電結(jié)構(gòu),其特征在于,所述永磁體的數(shù)量為若干,均勻分布固定在所述放電電極內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的新型等離子體增強(qiáng)化氣相沉積氧化物高阻隔膜放電結(jié)構(gòu),其特征在于,所述放電電極的側(cè)方位置設(shè)有能調(diào)整所述被鍍基膜與其之間間距的導(dǎo)向軸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的新型等離子體增強(qiáng)化氣相沉積氧化物高阻隔膜放電結(jié)構(gòu),其特征在于,其還包括牽引所述被鍍基膜經(jīng)過所述高密度等離子體區(qū)域的主動輪。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型等離子體增強(qiáng)化氣相沉積氧化物高阻隔膜放電結(jié)構(gòu),其特征在于,所述被鍍基膜是連續(xù)、勻速經(jīng)過所述高密度等離子體區(qū)域。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
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C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機(jī)材料為特征的
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