[發(fā)明專利]試驗裝置以及試驗方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110022224.2 | 申請日： | 2021-01-08 |
| 公開（公告）號： | CN113300786B | 公開（公告）日： | 2023-08-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 丸尾友彥;馬場寬之;薛雅文 | 申請（專利權(quán)）人： | 安立股份有限公司 |
| 主分類號： | H04B17/15 | 分類號： | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人： | 金蘭 |
| 地址： | 日本神*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 試驗裝置 以及 試驗 方法 | ||
本發(fā)明提供能夠以低成本實施RF特性或RRM特性的遠場測量的試驗裝置以及試驗方法。對具有被試驗天線的被試驗對象的發(fā)送特性或者接收特性進行測量的試驗裝置具備：電波暗箱；多個試驗用天線，在與被試驗天線之間發(fā)送或者接收無線信號；姿勢可變機構(gòu)，使被配置在靜區(qū)QZ內(nèi)的被試驗對象的姿勢變化；測量裝置，使用試驗用天線，對通過姿勢可變機構(gòu)使姿勢變化了的被試驗對象進行被試驗對象的發(fā)送特性或者接收特性的測量；以及反射器，反射無線信號。多個試驗用天線包括：反射型試驗用天線，經(jīng)由反射器在與被試驗天線之間發(fā)送或者接收無線信號；以及多個直接型試驗用天線，在與被試驗天線之間直接發(fā)送或者接收無線信號。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及使用OTA(Over?The?Air：空中下載)環(huán)境的電波暗箱來測量被試驗對象的發(fā)送特性或者接收特性的試驗裝置以及試驗方法。
背景技術(shù)
近年來，伴隨多媒體的發(fā)展，大量生產(chǎn)安裝了蜂窩、無線LAN等無線通信用天線的無線終端(智能手機等)。今后，尤其要求收發(fā)與使用毫米波頻帶的寬頻帶的信號的IEEE802.11ad、5G蜂窩等對應(yīng)的無線信號的無線終端。
在無線終端的設(shè)計開發(fā)公司或者其制造工廠中，對無線終端所具備的無線通信天線進行性能試驗，測量按每個通信標準規(guī)定的發(fā)送電波的輸出電平、接收靈敏度，并判定它們的RF(Radio?Frequency)特性是否滿足規(guī)定的基準。另外，在性能試驗中，也進行RRM(Radio?Resource?Management：無線資源管理)特性的測量。進行RRM特性的測量是為了確認基站與無線終端之間的無線資源控制，例如鄰接基站之間的切換等是否正確地動作。
伴隨4G或從4G演進向5G的換代，上述的性能試驗的試驗方法也發(fā)生改變。例如，在將5G?NR系統(tǒng)(New?Radio?System：新無線電系統(tǒng))用無線終端(以下，5G無線終端)作為被試驗對象(Device?Under?Test：DUT)的性能試驗中，4G或4G演進等的試驗中主流的有線連接DUT的天線端子和試驗裝置的方法無法使用，理由是因在高頻電路附加天線端子所導致的特性劣化，或者陣列天線的元件數(shù)較多，考慮到空間面、成本面，將天線端子附加到所有元件是不現(xiàn)實的等。因此，進行所謂的OTA試驗：將DUT與試驗用天線一起收容在不受周圍的電波環(huán)境影響的電波暗箱中，通過無線通信進行從試驗用天線對DUT發(fā)送試驗信號、以及用試驗用天線接收來自接收到試驗信號的DUT的被測量信號(例如，參照專利文獻1、專利文獻2)。
在OTA試驗中，通過試驗用天線形成靜區(qū)，DUT被配置于靜區(qū)。此處，所謂靜區(qū)(quiet?zone)是表示在構(gòu)成OTA試驗環(huán)境的電波暗箱中，從試驗用天線以幾乎均勻的振幅和相位的電波照射DUT的空間區(qū)域的范圍的概念(例如，參照非專利文獻1)。靜區(qū)的形狀通常為球形。通過在這樣的靜區(qū)中配置DUT，從而能夠在抑制了來自周圍的散射波的影響的狀態(tài)下進行OTA試驗。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻1：日本特愿2018－223942
專利文獻2：US2019/0302184
非專利文獻1：3GPP?TR?38.810?V16.2.0(2019-03)
在專利文獻2所記載的試驗裝置中，在電波暗箱內(nèi)設(shè)置DUT的被試驗天線和能夠收發(fā)的多個試驗用天線，測量DUT的RF特性或RRM特性。在RF特性或RRM特性的測量中，一般使用遠場測量(FFM(Far?Field?Measurement))。在專利文獻2的試驗用天線中分別設(shè)置反射器，從試驗用天線發(fā)射的電波被朝向DUT反射或者從DUT發(fā)射的電波被朝向試驗用天線反射。然而，在專利文獻2所記載的試驗裝置中，由于在全部的試驗用天線中分別設(shè)置有反射器，所以構(gòu)造較復雜，需要用于設(shè)置電波暗箱的較寬的設(shè)置面積。還需要使試驗用天線移動的機構(gòu)，并且與多個試驗用天線連接的信號處理部的結(jié)構(gòu)也變得復雜，成本高。
發(fā)明內(nèi)容
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