[發(fā)明專利]一種交流輸入檢測電路、檢測方法和電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110020544.4
• 申請日: 2021-01-07
• 公開（公告）號(hào): CN112649651A
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黎金華
• 申請（專利權(quán)）人: 寧波拓邦智能控制有限公司
• 主分類號(hào): G01R19/00
• 分類號(hào): G01R19/00
• 代理公司: 深圳市瑞方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44314
• 代理人: 張亞菊

1.一種交流輸入檢測電路，其特征在于，包括：用于提供直流電壓的直流供電單元，包含第一輸入端和第二輸入端的交流電源輸入端，連接所述第二輸入端的電壓提取單元，連接所述電壓提取單元的第一開關(guān)單元，其中，所述第一輸入端用于連接交流工作電路，所述第二輸入端用于經(jīng)所述電壓提取單元連接所述交流工作電路，所述電壓提取單元用于在所述第一開關(guān)單元導(dǎo)通時(shí)生成與交流輸入對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電壓；以及

連接所述第一開關(guān)單元，并被配置為用于輸出第一開關(guān)控制電平以控制所述第一開關(guān)單元導(dǎo)通或關(guān)斷的控制單元；

連接所述電壓提取單元和所述第一輸入端，用于接收所述驅(qū)動(dòng)電壓以開通或關(guān)斷的第二開關(guān)單元；

連接所述第二開關(guān)單元、用于記錄所述第二開關(guān)單元導(dǎo)通的實(shí)際持續(xù)導(dǎo)通時(shí)長的計(jì)時(shí)單元；

用于存儲(chǔ)所述第二開關(guān)單元導(dǎo)通的預(yù)設(shè)持續(xù)導(dǎo)通時(shí)長與交流輸入電壓對(duì)應(yīng)關(guān)系的存儲(chǔ)單元；

連接所述計(jì)時(shí)單元和所述存儲(chǔ)單元，并被配置為獲取所述實(shí)際持續(xù)導(dǎo)通時(shí)長并從所述存儲(chǔ)單元中獲取對(duì)應(yīng)的交流輸入電壓的處理單元。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的交流輸入檢測電路，其特征在于，所述電壓提取單元包括分壓電路和第一子開關(guān)；

所述分壓電路的第一端連接所述第二輸入端，所述分壓電路的第二端連接所述第一子開關(guān)的第一端、所述第一開關(guān)單元和所述第二開關(guān)單元，所述第一子開關(guān)的第二端用于連接所述交流工作電路，所述第一子開關(guān)的第三端連接所述所述第一開關(guān)單元。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的交流輸入檢測電路，其特征在于，所述第一開關(guān)單元包括第二子開關(guān)和第一隔離開關(guān)；所述第二子開關(guān)的第一端連接控制單元，所述第二子開關(guān)的第二端連接所述直流供電單元，所述第二子開關(guān)的第三端連接所述第一隔離開關(guān)的第二端，所述第一隔離開關(guān)的第一端連接所述直流供電單元，所述第一隔離開關(guān)的第三端連接所述第一子開關(guān)的第三端，所述第一隔離開關(guān)的第四端連接所述分壓電路的第二端；和/或

所述第二開關(guān)單元包括第三子開關(guān)和第二隔離開關(guān)；所述第三子開關(guān)的第一端連接第二輸入端，所述第三子開關(guān)的第二端連接所述分壓電路的第二端，所述第三子開關(guān)的第三端連接所述第二隔離開關(guān)的第一端，所述第二隔離開關(guān)的第二端連接所述第二輸入端，所述第二隔離開關(guān)的第三端接地，所述第二隔離開關(guān)的第四端連接所述計(jì)時(shí)單元。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的交流輸入檢測電路，其特征在于，所述第一子開關(guān)包括可控硅開關(guān)TR1，所述可控硅開關(guān)TR1的A1管腳連接所述交流工作電路，所述可控硅開關(guān)TR1的A2管腳連接所述分壓電路，所述可控硅開關(guān)TR1的G管腳連接所述第一隔離開關(guān)；和/或

所述分壓電路包括電阻R11和電阻R12，所述電阻R11和所述電阻R12并聯(lián)連接后一端連接所述第二輸入端、另一端連接所述第一子開關(guān)的第一端和所述第三子開關(guān)的第二端。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的交流輸入檢測電路，其特征在于，

所述第二子開關(guān)包括三極管Q1和電阻R2；所述三極管Q1的基極連接所述控制單元，所述三極管Q1的基極經(jīng)所述電阻R2接地，所述三極管Q1的發(fā)射極接地，所述三極管Q1的集電極連接所述直流供電單元和所述第一隔離開關(guān)；和/或

所述第一隔離開關(guān)包括可控硅隔離芯片IC1、電阻R3、電阻R4和電阻R5，所述可控硅隔離芯片IC1的第一管腳連接所述直流供電單元，所述可控硅隔離芯片IC1的第二管腳經(jīng)所述電阻R3連接所述三極管Q1的集電極，所述可控硅隔離芯片IC1的第六管腳經(jīng)串聯(lián)連接的所述電阻R5和電阻R4連接所述分壓電路的第二端。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的交流輸入檢測電路，其特征在于，

所述第三子開關(guān)包括MOS管Q2、電阻R6、電阻R7和電阻R10；所述MOS管Q2的柵極經(jīng)所述電阻R10連接所述分壓電路的第二端，所述MOS管Q2的源極連接所述第二輸入端，所述MOS管Q2的漏極經(jīng)串聯(lián)連接的所述電阻R6和電阻R7連接所述第一輸入端，且所述MOS管Q2的漏極連接所述第二隔離開關(guān)的第一端；和/或

所述第二隔離開關(guān)包括光耦芯片U2，所述光耦芯片U2的第一管腳連接所述MOS管Q2的漏極，所述光耦芯片U2的第二管腳連接所述第二輸入端，所述光耦芯片U2的第三管腳接地，所述光耦芯片U2的第四管腳連接所述計(jì)時(shí)單元。