[發明專利]一種用于膜電極厚度的檢測系統及檢測方法

在審

• 申請號: 202110019029.4
• 申請日: 2021-01-07
• 公開（公告）號: CN112762878A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: 李尚勇;宣海;徐勝昌;王文進;邢秀奎;王鵬飛;張寶寶
• 申請（專利權）人: 天津大學;海克斯康制造智能技術（青島）有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08
• 代理公司: 青島聯智專利商標事務所有限公司 37101
• 代理人: 侯艷艷

1.一種用于膜電極厚度的檢測系統，其特征在于，包括：

測量平臺，用于放置待測產品；

支架，架設于所述測量平臺的上方；

若干個位移傳感器，其與所述支架固定連接；

控制模塊，其與所述位移傳感器通訊連接，用于控制所述位移傳感器采集數據；

其中，所述控制模塊還用于控制所述位移傳感器沿Z軸方向移動。

2.根據權利要求1所述的一種用于膜電極厚度的檢測系統，其特征在于，所述支架包括立柱、橫梁和縱梁；其中，所述立柱對稱設于所述測量平臺的兩側；所述橫梁平行地固定于所述立柱的頂部；所述縱梁位于所述橫梁之間，用于固定所述位移傳感器。

3.根據權利要求2所述的一種用于膜電極厚度的檢測系統，其特征在于，所述縱梁的數量為若干個，所述縱梁利用連接件與所述橫梁固定連接。

4.根據權利要求2所述的一種用于膜電極厚度的檢測系統，其特征在于，每個所述縱梁上通過固定支架連接有若干個所述位移傳感器；所述固定支架包括滑動部和固定部，所述滑動部與所述縱梁滑動連接；所述固定部與所述位移傳感器固定連接。

5.根據權利要求4所述的一種用于膜電極厚度的檢測系統，其特征在于，所述縱梁上均勻分布有第一定位孔；所述滑動部設有第二定位孔；所述第一定位孔與所述第二定位孔位于同一豎直方向。

6.根據權利要求1所述的一種用于膜電極厚度的檢測系統，其特征在于，所述位移傳感器包括可伸縮的測頭；所述檢測系統還包括調節機構，所述調節機構用于調整所述測頭與所述測量平臺之間繞X方向的俯仰角度和繞Y方向的偏擺角度。

7.根據權利要求1所述的一種用于膜電極厚度的檢測系統，其特征在于，所述檢測系統還包括升降機構，用于轉運待測產品；所述測量平臺設有滑道，所述升降機構沿所述滑道滑動并相對于所述滑道上升或下降。

8.根據權利要求1-7任一項所述的一種用于膜電極厚度的檢測系統的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、所述位移傳感器的測頭在所述控制模塊的控制下沿Z軸方向下移至待測產品的表面；

S2、所述測頭采集若干個所述待測產品的厚度值，待所述厚度值穩定后得到實測厚度值γ，所述控制模塊輸出測量值θ=K·γ，其中，K為補償比例系數。

9.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟S2中的補償值K的計算步驟為：

一、將厚度為α的標準件放置在所述測量平臺上，所述控制模塊控制所述測頭下移至該標準件處，所述測頭接觸所述標準件，所述控制模塊得到參數β；

二、所述控制模塊利用公式K=α/β，計算補償比例系數K。

10.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述補償比例系數K的計算步驟前還包括校準步驟：

步驟一、所述控制模塊控制所述測頭下移至所述測量平臺，所述測頭接觸所述測量平臺，所述控制模塊得到參數A；

步驟二、所述控制模塊控制所述位移傳感器歸零以確定零點；所述控制模塊控制所述測頭上移。