[發(fā)明專利]一種微掃機(jī)構(gòu)及裝調(diào)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110018960.0 | 申請日: | 2021-01-07 |
| 公開(公告)號: | CN112834046B | 公開(公告)日: | 2022-06-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 范翔;談蕊 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第十一研究所 |
| 主分類號: | G01J5/02 | 分類號: | G01J5/02;G01J5/08;G01J5/48;G01J5/90 |
| 代理公司: | 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 焉明濤 |
| 地址: | 100015*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 機(jī)構(gòu) 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種微掃機(jī)構(gòu)及裝調(diào)方法,其中裝調(diào)方法包括:在第一自準(zhǔn)直儀與第二自準(zhǔn)直儀互準(zhǔn)后,將第一反射鏡和第二反射鏡分別基于所述第一自準(zhǔn)直儀和第二自準(zhǔn)直儀進(jìn)行調(diào)試;對所述第二反射鏡進(jìn)行灌膠,以完成微掃機(jī)構(gòu)的裝調(diào)。本發(fā)明裝調(diào)方法可以僅通過一次性裝調(diào)成功,實(shí)現(xiàn)了減少二次裝調(diào)工序步驟,同時(shí)提高了定位精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及紅外熱象技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種微掃機(jī)構(gòu)及裝調(diào)方法。
背景技術(shù)
焦平面陣列技術(shù)是紅外熱象儀中的一項(xiàng)重要技術(shù),紅外探測器由于制造工藝等問題還不能做到很高的填充因子,由于探測單元之間有間隔,探測單元的實(shí)際填充因子只有30%一90%,提高填充因子對于制作工藝的要求是很高的,成本也很昂貴。具有高分辨率的紅外探測器陣列不容易獲得,在紅外凝視系統(tǒng)中引入微掃描的方法,在不對探測器陣列提出過高要求的前提下,來有效的提高含有探測器陣列的成像系統(tǒng)的分辨率。
微掃描從實(shí)現(xiàn)方式來分,微掃描可以分為非機(jī)械掃描和機(jī)械微掃描,機(jī)械掃描較為常用,機(jī)械掃描利用微掃描依靠壓電陶瓷或電機(jī)驅(qū)動(dòng)方式在X軸和Y軸分別進(jìn)行1/N(N為整數(shù))像素距的位移。但現(xiàn)有技術(shù)中微掃機(jī)構(gòu)裝調(diào)需設(shè)計(jì)專用的定位工裝,定位工裝的設(shè)計(jì)只能保證止耳與反射鏡之間的位置關(guān)系,無法保證電機(jī)軸與反射鏡之間位置關(guān)系的正確性,止耳與反射鏡裝調(diào)后還要對電機(jī)軸與反射鏡之間的位置關(guān)系進(jìn)行裝校,工序繁瑣,利用工裝裝調(diào)無法保證一次性裝調(diào)正確性,定位精度低,一致性差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種微掃機(jī)構(gòu)及裝調(diào)方法,實(shí)現(xiàn)一次性裝調(diào),解決現(xiàn)有技術(shù)定位精度低,一致性差的問題。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供一種微掃機(jī)構(gòu),包括電機(jī),所述電機(jī)的輸出端上安裝有止耳,所述止耳用于安裝第一反射鏡;
所述止耳上開設(shè)有安裝孔,所述安裝孔用于安裝第二反射鏡。
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例提供一種微掃機(jī)構(gòu)的裝調(diào)方法,包括:
在第一自準(zhǔn)直儀與第二自準(zhǔn)直儀互準(zhǔn)后,將第一反射鏡和第二反射鏡分別基于所述第一自準(zhǔn)直儀和第二自準(zhǔn)直儀進(jìn)行調(diào)試;
對所述第二反射鏡進(jìn)行灌膠,以完成微掃機(jī)構(gòu)的裝調(diào)。
可選的,在第一自準(zhǔn)直儀與第二自準(zhǔn)直儀互準(zhǔn)之前,所述裝調(diào)方法還包括:在電機(jī)通電后,對電機(jī)進(jìn)行工作調(diào)零。
可選的,所述將第一反射鏡和第二反射鏡分別基于所述第一自準(zhǔn)直儀和第二自準(zhǔn)直儀進(jìn)行調(diào)試包括:
將所述第一反射鏡安裝到止耳上,通過所述電機(jī)調(diào)整所述第一反射鏡的位置,以使所述第一反射鏡與所述第一自準(zhǔn)直儀垂直;
再將所述第二反射鏡安裝到止耳的安裝孔上,通過所述電機(jī)調(diào)整所述第二反射鏡的位置,以使所述第二反射鏡與所述第二自準(zhǔn)直儀垂直。
可選的,所述對所述第二反射鏡進(jìn)行灌膠包括:在所述第二反射鏡固定位置進(jìn)行灌膠。
可選的,對所述第二反射鏡進(jìn)行灌膠之后,所述裝調(diào)方法還包括:
在固膠過程中,將所述第一自準(zhǔn)直儀和第二自準(zhǔn)直儀對準(zhǔn)至基準(zhǔn)位置。
可選的,在整個(gè)裝調(diào)過程中,保持電機(jī)的通電狀態(tài)。
本發(fā)明實(shí)施例通過在止耳上開設(shè)有安裝孔,通過安裝孔安裝第二反射鏡,由此可以實(shí)現(xiàn)一次性完成裝調(diào),解決現(xiàn)有技術(shù)定位精度低,一致性差的問題。
上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段,而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉本發(fā)明的具體實(shí)施方式。
附圖說明
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子科技集團(tuán)公司第十一研究所,未經(jīng)中國電子科技集團(tuán)公司第十一研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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