[發(fā)明專利]通電金屬屏蔽網(wǎng)下的觸控按鍵實(shí)現(xiàn)方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110017161.1
• 申請日: 2021-01-07
• 公開（公告）號: CN112698754A
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張平
• 申請（專利權(quán)）人: 海速芯（無錫）科技有限公司;十速興業(yè)科技(深圳)有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044;H03K17/96
• 代理公司: 連云港聯(lián)創(chuàng)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32330
• 代理人: 劉剛

本發(fā)明公開了一種通電金屬屏蔽網(wǎng)下的觸控按鍵實(shí)現(xiàn)方法，用于實(shí)現(xiàn)本方法的實(shí)際裝置結(jié)構(gòu)包括a*b矩陣按鍵、通電金屬布線層、絕緣層、FPC矩陣布線采集器層、感應(yīng)裝置、MCU數(shù)據(jù)處理模塊、輸出模塊及PC分析模塊，所述MCU數(shù)據(jù)處理模塊包括電容數(shù)據(jù)采集器，本發(fā)明的有益效果在于：采用正負(fù)極金屬線平行并按照一定規(guī)則布線，以及電極循環(huán)正反向變化，實(shí)現(xiàn)屏蔽非法接近金融芯片數(shù)據(jù)讀取，通過對通電金屬網(wǎng)區(qū)域的容值采集，監(jiān)測屏蔽網(wǎng)是否正常通電，當(dāng)通電網(wǎng)絡(luò)被破壞時，因芯片采集不到正負(fù)通電電容會瞬間鎖死金融IC，通過雙線程采樣實(shí)現(xiàn)手指觸摸與絕緣物體觸摸的識別，根據(jù)不同按鍵區(qū)域的容值改變以準(zhǔn)確獲取觸摸的定位位置。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及觸控按鍵技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種通電金屬屏蔽網(wǎng)下的觸控按鍵實(shí)現(xiàn)方法。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)的觸控檢測方式是電容式，即檢測人體與電機(jī)感應(yīng)器之間結(jié)合所產(chǎn)生的電容，因此，要求覆蓋介質(zhì)為絕緣體，電容式感應(yīng)觸摸按鍵可以穿透絕緣物體材料外殼8mm以上，準(zhǔn)確無誤的偵測到手指的有效觸摸，并保證了產(chǎn)品的靈敏度、穩(wěn)定性、可靠性等不會因環(huán)境條件的改變或長期使用而發(fā)生變化，并且具有防水、強(qiáng)抗干擾能力、超強(qiáng)防護(hù)和超強(qiáng)適應(yīng)溫度范圍，當(dāng)覆蓋物為金屬并通電時，則電容信號會被吸收屏蔽，檢測不到手指的觸摸，所以無法實(shí)現(xiàn)在通電金屬屏蔽網(wǎng)下的觸控檢測。

基于上述問題，亟待提出一種通電金屬屏蔽網(wǎng)下的觸控按鍵實(shí)現(xiàn)方法，采用正負(fù)極金屬線平行并按照一定規(guī)則布線，以及電極循環(huán)正反向變化，實(shí)現(xiàn)屏蔽非法接近金融芯片數(shù)據(jù)讀取，通過監(jiān)測多點(diǎn)位置對通電金屬網(wǎng)區(qū)域的容值進(jìn)行采集，監(jiān)測屏蔽網(wǎng)是否正常通電，當(dāng)通電網(wǎng)絡(luò)被破壞時，因芯片采集不到正負(fù)通電電容會瞬間鎖死金融IC，能有效阻止對金融IC的讀取，通過雙線程采樣能實(shí)現(xiàn)手指觸摸與絕緣物體觸摸的識別，同時根據(jù)不同按鍵區(qū)域的容值改變以準(zhǔn)確獲取觸摸的定位位置。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種通電金屬屏蔽網(wǎng)下的觸控按鍵實(shí)現(xiàn)方法，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

一種通電金屬屏蔽網(wǎng)下的觸控按鍵實(shí)現(xiàn)方法，所述觸控按鍵實(shí)現(xiàn)方法包括以下步驟：

S1：采用通電金屬屏蔽網(wǎng)，以一定線寬和線距正負(fù)極并行走線，正負(fù)極以一定周期循環(huán)進(jìn)行對調(diào)供電，以電池微小電流進(jìn)行供電；

S2：根據(jù)觸控矩陣數(shù)量，在不同區(qū)域采用不同布線方式，調(diào)整循環(huán)彎折角度及平行距離差異，當(dāng)手指按壓不同分區(qū)時，產(chǎn)生的電流改變不同，采集到的電容數(shù)值分布在不同的編碼數(shù)值區(qū)域，根據(jù)區(qū)域的差異定位觸控按鍵的區(qū)域基線；

S3：將通電金屬屏蔽網(wǎng)作為電容的其中一極，通過觸摸的微小壓力，改變通電金屬屏蔽網(wǎng)與采集器之間的距離，通過改變兩者距離進(jìn)而改變電容值，根據(jù)電容數(shù)據(jù)采集器在不同的區(qū)域采集到不同的電容數(shù)值來進(jìn)行觸控按鍵位置的定位；

S4：通過監(jiān)測多點(diǎn)位置對通電金屬屏蔽網(wǎng)區(qū)域的容值進(jìn)行讀取，監(jiān)測通電屏蔽是否有效。

進(jìn)一步的，采集到的數(shù)據(jù)包括TKnBSA、TKnBSB、TKnBSC、TKd(n)、TKi(n)，在不同極性通電周期內(nèi)，所述TKnBSA為采集器通過一定時間間隔，在通電金屬屏蔽網(wǎng)正向通電時采集到的第n個區(qū)域的電容數(shù)值，所述TKnBSB為采集器通過一定時間間隔，在通電金屬屏蔽網(wǎng)負(fù)向通電時采集到的第n個區(qū)域的電容數(shù)值，所述TKnBSA和TKnBSB編碼數(shù)值不同，所述TKnBSC為解除屏蔽時的基準(zhǔn)數(shù)值，所述TKnBSA、TKnBSB、TKnBSC為定位觸控按鍵區(qū)域的基準(zhǔn)，所述TKnBSA、TKnBSB、TKnBSC可判斷屏蔽層是否正常工作以及在TKd(n)產(chǎn)生0基準(zhǔn)，所述TKd(n)為通電金屬屏蔽網(wǎng)與采集器之間的距離改變而導(dǎo)致的容值變化量，所述TKi(n)為電流改變時采集器采集得到的容值計數(shù)值，所述TKi(n)在編碼區(qū)域的位置可定位觸控按鍵位置。

進(jìn)一步的，所述TKnBSA、TKnBSB以及TKnBSC的采集方法包括以下步驟：