[發(fā)明專利]一種繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀檢定裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110016191.0
• 申請(qǐng)日: 2021-01-07
• 公開（公告）號(hào): CN112782635B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王福泉;夏德志;李厚志
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東省肇慶市質(zhì)量計(jì)量監(jiān)督檢測(cè)所
• 主分類號(hào): G01R35/00
• 分類號(hào): G01R35/00
• 代理公司: 常州市瀚宇專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32551
• 代理人: 付彥爽

本發(fā)明公開了一種繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀檢定裝置，包括外機(jī)殼、顯示器、操作表盤、電壓輸入以及電流輸入，所述外機(jī)殼一側(cè)壁面上嵌裝有顯示器，所述顯示器一側(cè)設(shè)有操作表盤，所述外機(jī)殼與顯示器相對(duì)一側(cè)壁面上分別設(shè)有電壓輸入以及電流輸入，所述外機(jī)殼內(nèi)分別集成有電壓測(cè)量單元、電流測(cè)量單元以及升壓速度測(cè)量單元；本發(fā)明的有益效果是，該繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀檢定裝置，能對(duì)繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀進(jìn)行多項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)檢定：15kV及以下交直流電壓，（0.100～400.0）mA交直流電流、（10～500）V/s升壓速度和（1.00～999.99）s電壓持續(xù)時(shí)間。該裝置適用于繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀及相關(guān)參數(shù)設(shè)備的計(jì)量性能檢定、儀器出廠檢測(cè)，能有效提高工作效率和工作質(zhì)量。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及繞組擊穿設(shè)備計(jì)量性能檢定、繞組線產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀檢定裝置。

背景技術(shù)

繞組線是用以制造電工產(chǎn)品中的線圈或繞組的絕緣電線，繞組線通常分為漆包線、繞包線、漆包繞包線和無機(jī)絕緣線。而繞組線在使用過程中一項(xiàng)重要指標(biāo)就是其擊穿電壓，擊穿電壓是表征電磁線電氣性能的主要指標(biāo)，它反映繞組線絕緣層承受過電壓的能力，而現(xiàn)階段的擊穿電壓檢測(cè)儀器多采用的是繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀，目前繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀主要是根據(jù)漆包繞組線的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)而制造的，主要用于檢測(cè)漆包繞組線的各項(xiàng)性能指標(biāo)，從而判斷漆包繞組線的質(zhì)量是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和質(zhì)量技術(shù)性能要求。目前，計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)升壓速度參數(shù)時(shí)，基本上是采用高壓表測(cè)電壓，秒表測(cè)時(shí)間，然后將兩者相除，最后得出升壓速度。這樣的檢測(cè)方式，因需要通過檢測(cè)人員啟停秒表測(cè)量時(shí)間，得到的升壓速度數(shù)據(jù)的不確定度相對(duì)較大，從而使得檢測(cè)出來的升壓速度數(shù)據(jù)可信程度降低。此外檢測(cè)電壓、電流、升壓速度、電壓持續(xù)時(shí)間等多個(gè)參數(shù)，需要攜帶操作多種設(shè)備，給現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際檢測(cè)帶來不便，檢定效率較低。因此，研制出一種更高效便利、準(zhǔn)確可靠的繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀檢定裝置，對(duì)繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀量值溯源、繞組線產(chǎn)品檢驗(yàn)質(zhì)量提升具有重要意義。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是為了解決上述問題，發(fā)明了一種繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀檢定裝置，解決了現(xiàn)有的背景技術(shù)問題。

實(shí)現(xiàn)上述目的本發(fā)明的技術(shù)方案為：一種繞組線擊穿電壓試驗(yàn)儀檢定裝置，包括外機(jī)殼、顯示器、操作表盤、電壓輸入以及電流輸入，所述外機(jī)殼一側(cè)壁面上嵌裝有顯示器，所述顯示器一側(cè)設(shè)有操作表盤，所述外機(jī)殼與顯示器相對(duì)一側(cè)壁面上分別設(shè)有電壓輸入以及電流輸入，所述外機(jī)殼內(nèi)分別集成有電壓測(cè)量單元、電流測(cè)量單元以及升壓速度測(cè)量單元；

所述升壓速度測(cè)量單元包括：高壓分壓模塊、量程模塊以及A/D采集模塊；

所述高壓分壓模塊與電壓輸入連接，所述量程模塊與高壓分壓模塊連接，所述A/D采集模塊與量程模塊連接，所述隔離單元與A/D采集模塊連接，所述MCU（STM32F103C8）芯片連接于隔離單元上且與顯示器連接；

所述高壓分壓模塊采用高穩(wěn)定低電壓系數(shù)定制電阻（STG45）作為高壓分壓模塊的上段，分壓模塊的下段由精密電阻、高精度放大器（OP07）及電子開關(guān)（74HC4053）組成；

所述電壓測(cè)量單元與升壓速度測(cè)量單元采用同一組元件構(gòu)成，電壓測(cè)量單元的采用通過高壓分壓模塊轉(zhuǎn)分成小的電壓進(jìn)行采樣，通過在MCU芯片處理時(shí)編程中不對(duì)時(shí)間進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，只顯示電壓測(cè)量結(jié)果；

所述電流測(cè)量單元與升壓速度測(cè)量單元采用同一組元件構(gòu)成，電流采樣使用采樣網(wǎng)絡(luò)采樣后轉(zhuǎn)換成小電壓，所述采樣網(wǎng)絡(luò)連接于A/D采集模塊前側(cè)，通過A/D采集模塊對(duì)采樣網(wǎng)絡(luò)輸出的電壓經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換，輸出對(duì)應(yīng)電流的數(shù)字電壓信號(hào)，經(jīng)MCU芯片處理后顯示電流測(cè)量結(jié)果。

所述采樣網(wǎng)絡(luò)包括：二極管D1、二極管D2、二極管D3、二極管D4、電阻R1、電阻R2、電子開關(guān)K1以及電子開關(guān)K2；