[發明專利]一種半導體晶粒分離加工工藝在審
| 申請號: | 202110015869.3 | 申請日: | 2021-01-07 |
| 公開(公告)號: | CN112542423A | 公開(公告)日: | 2021-03-23 |
| 發明(設計)人: | 周榮;李英男;陶永發;王林;王毅 | 申請(專利權)人: | 揚州杰利半導體有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/78 | 分類號: | H01L21/78;H01L21/67 |
| 代理公司: | 揚州市蘇為知識產權代理事務所(普通合伙) 32283 | 代理人: | 葛軍 |
| 地址: | 225008 江蘇省揚州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 晶粒 分離 加工 工藝 | ||
一種半導體晶粒分離加工工藝。提供了一種方便操作,提高工作效率和產品質量的半導體晶粒分離加工工藝。包括以下步驟:S1、墨水打標;在晶片的不良品晶粒上打上黏性墨水;S2、烘烤;將晶片經過60?120℃的高溫烘烤10?60min;S3、切割;通過激光切割晶片呈半切透狀;S4、壓片:在晶片的P面先涂上一層無水乙醇后,再將晶片放置在兩張麥拉紙之間,然后,進行壓片,將晶片沿著切割痕裂成若干晶粒;S5、揭開晶片P面的麥拉紙,帶走不良品晶粒;S6、完成。所述黏性墨水為印刷油墨。本發明節省了時間,降低了成本。
技術領域
本發明涉及半導體加工領域,尤其涉及一種半導體晶粒分離加工工藝。
背景技術
目前業內的晶圓不良品普遍使用人工單顆挑出的方法,人工效率低,單片成本高,且人工挑出不良品的方式存在誤挑及漏挑現象,導致墨點不良品晶粒流入到客戶端,造成客訴,降低產品品質。
國家知識產權局于2017.01.11公布的申請號為201610741992.2,名稱為“一種應用于半導體的磁力噴墨測試工藝”,其通過磁鐵吸附帶墨水的不合格晶粒,完成分離。然而,磁性墨水加工成本高,而且,磁性墨水容易吸附在相鄰的合格晶粒上,這樣,其中的鐵粉易造成合格晶粒氧化,造成后續封裝據焊,降低了產品質量。
在半導體市場競爭越演越烈的今天,客戶信任、降本增效是不懈的追求目標,在業內普遍仍使用低效的人工作業大環境下,研究一種高效、低風險、高穩定性的良品晶粒與不良品分離的技術是一個重大的技術突破。
發明內容
本發明針對以上問題,提供了一種方便操作,提高工作效率和產品質量的半導體晶粒分離加工工藝。
本發明的技術方案為:包括以下步驟:
S1、墨水打標;在晶片的不良品晶粒上打上黏性墨水;
S2、烘烤;將晶片經過60-120℃的高溫烘烤10-60min;
S3、切割;通過激光切割晶片呈半切透狀;
S4、壓片:在晶片的P面先涂上一層無水乙醇后,再將晶片放置在兩張麥拉紙之間,然后,進行壓片,將晶片沿著切割痕裂成若干晶粒;
S5、揭開晶片P面的麥拉紙,帶走不良品晶粒;
S6、完成。
所述黏性墨水為印刷油墨。
步驟S3中,激光切割速度:100-800mm/s,切割頻率:5-90Khz,切割次數:1-10次,切割道寬度:10-60um。
本發明在工作中,首先在晶片的不良品晶粒上打上黏性墨水,然后,烘烤凝固黏性墨水,最后,激光切割壓片使用無水乙醇溶解釋放墨水黏性,不良品通過黏性墨水與裂片用的麥拉紙黏合在一起,壓片后揭膜時將不良品粘走,留下良品晶粒。
本發明節省了時間,降低了成本。
具體實施方式
本發明包括以下步驟:S1、墨水打標:根據良品標準,在不良品晶粒打上黏性墨水;
S2、墨水烘烤:將黏性墨水經過60-120℃高溫烘烤10-60min,使黏性墨水凝固在不良品晶粒表面;
S3. 激光切割:激光切割速度:100-800mm/s,切割頻率:5-90Khz,激光功率75%±15%,切割次數:1-10次,切割道寬度:10-60um,切割深度:半切穿(即切割道深及晶片但未貫穿晶片);
S4、壓片:在晶片的P面先涂上一層無水乙醇后,再將晶片放置在兩張麥拉紙之間,然后,進行壓片,將晶片沿著切割痕裂成一個個晶粒,無水乙醇溶解黏性墨水中有機成分,墨水釋放黏性,使不良品晶粒與P面麥拉紙黏附在一起;
S5、揭膜去除不良品晶粒:將不良品晶粒沿著P面麥拉紙揭開,留下良品晶粒在N面麥拉紙上;
最后,正常工藝流轉。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





