[發明專利]一種用于分子篩生產的除雜裝置

在審

• 申請號: 202110015365.1
• 申請日: 2021-01-07
• 公開（公告）號: CN112620091A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 廖青剛;李光橋
• 申請（專利權）人: 廣州光義化工科技發展有限公司
• 主分類號: B07B1/28
• 分類號: B07B1/28;B07B1/42;B07B1/46;B03C1/10
• 代理公司: 廣州凱東知識產權代理有限公司 44259
• 代理人: 何志芳

1.一種用于分子篩生產的除雜裝置，包括中空的殼體，其特征在于：所述殼體的內腔上部設有水平分布的圓筒，所述圓筒內轉動設有磁性滾筒，所述磁性滾筒與所述圓筒之間形成導流通道，所述圓筒的頂部設有與所述導流通道連通的進料斗，所述進料斗可置入待除雜處理的磁性分子篩，所述圓筒在頂部處豎直設有插入所述導流通道中的隔板，所述隔板與所述磁性滾筒的外表面抵接，所述圓筒的底部一側設有第一出料口，所述圓筒的底部另一側設有第二出料口，所述第二出料口的上方設有與所述磁性滾筒的外表面抵接的刮板，所述第二出料口的下方設有篩選顆粒大小的篩分機構。

2.根據權利要求1所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述篩分機構包括自上而下依次傾斜分布在所述殼體內腔中的第一篩板和第二篩板，所述第一篩板的進料端位于所述第二出料口的下方，所述第二篩板的進料端位于所述第一篩板的出料端的下方，所述第二篩板的出料端連接有排料槽，所述第一篩板的底部設有第一接料斗，所述第二篩板的底部設有第二接料斗。

3.根據權利要求2所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述第一篩板和所述第二篩板上均勻分布有篩孔，所述第一篩板上的篩孔的孔徑小于合格的磁性分子篩的粒徑，所述第二篩板上的篩孔的孔徑大于合格的磁性分子篩的粒徑。

4.根據權利要求2所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述第一篩板的底部和所述第二篩板的底部均設有至少一個的振動電機。

5.根據權利要求2所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述第一接料斗的底部連接有第一排料管。

6.根據權利要求2所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述第二接料斗的底部連接有第二排料管。

7.根據權利要求2所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述第二出料口處設有兩個呈倒“八”字形分布的第一導流板，所述殼體上設有朝向所述第二篩板的進料端傾斜分布的第二導流板。

8.根據權利要求1所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述刮板為傾斜設置。

9.根據權利要求8所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述隔板和所述刮板為柔性板。

10.根據權利要求1～9中任一項所述的用于分子篩生產的除雜裝置，其特征在于：所述磁性滾筒包括外筒和內筒，所述外筒通過轉軸設置在所述殼體的側壁上，所述內筒固定在所述外筒的內部，所述內筒的外周面上設有若干個磁鐵塊，所述殼體外設有驅動所述外筒相對所述內筒進行旋轉的電機。