[發明專利]用于測試端拾器平面定位精度的檢具及方法

有效

• 申請號: 202110007625.0
• 申請日: 2021-01-05
• 公開（公告）號: CN112665477B
• 公開（公告）日: 2022-01-25
• 發明（設計）人: 傅建中;徐正華;張樹盛;徐月同;章道華
• 申請（專利權）人: 蘇州紫金港智能制造裝備有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/24
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 俞翠華

本發明公開了一種用于測試端拾器平面定位精度的檢具及方法，所述檢具包括第一檢測單元和第二檢測單元，二者相互垂直設置，且結構相同，均包括：第一直線導軌和第二直線導軌，二者相互平行；第三直線導軌，與所述第一直線導軌和第二直線導軌相垂直，其兩端分別與所述第一直線導軌和第二直線導軌滑動相連；第一千分表和第二千分表，二者檢測頭的方向相互平行，且均通過千分表調節機構與所述第三直線導軌相連。本發明結構簡單，操作方便，且能夠大大提高端拾器平面的定位精度。

技術領域

本發明屬于平面定位精度測試技術領域，具體涉及一種用于測試端拾器平面定位精度的檢具及方法。

背景技術

現有技術中，有許多應用場合需要進行平面內定位精度的檢測。為了實現該技術功能，提出了很多平面內定位精度檢測裝置，但是被出的平面內定位精度檢測裝置多是采用相機算法處理、激光干涉儀等，不僅成本高，容易受到周邊振動的影響，且對光學及算法專業知識要求高，不具有良好的推廣性。

發明內容

針對上述問題，本發明提出一種用于測試端拾器平面定位精度的檢具及方法，結構簡單，操作方便，且能夠大大提高端拾器平面的定位精度。

為了實現上述技術目的，達到上述技術效果，本發明通過以下技術方案實現：

第一方面，本發明提供了一種用于測試端拾器平面定位精度的檢具，包括第一檢測單元和第二檢測單元，二者相互垂直設置，且結構相同，均包括：

第一直線導軌和第二直線導軌，二者相互平行；

第三直線導軌，與所述第一直線導軌和第二直線導軌相垂直，其兩端分別與所述第一直線導軌和第二直線導軌滑動相連；

第一千分表和第二千分表，二者檢測頭的方向相互平行，且均通過千分表調節機構與所述第三直線導軌相連。

可選地，所述千分表調節機構均包括：

角塊，與所述第三直線導軌相連；

轉接塊，與所述角塊的頂表面接觸，且二者之間為轉動連接；

千分表固定座，與所述轉接塊相連。

可選地，所述檢具還包括第一千分尺；所述千分表調節機構還包括：

第四直線導軌，與所述轉接塊相連；

滑塊，與所述第四直線導軌滑動相連，且與所述千分表固定座相連；

千分尺固定板，與所述轉接塊相連；

頂絲，穿過與角塊相連的調節塊后與所述轉接塊接觸，用于驅動所述轉接塊相對角塊轉動；

所述第一千分尺與所述千分尺固定板相連，且與所述千分表固定座接觸。

可選地，所述千分表調節機構還包括導軌擋片，所述導軌擋片還與所述第四直線導軌上靠近第三直線導軌的一端相連。

可選地，所述千分尺固定板與千分表固定座之間通過進給鎖緊螺絲相連。

可選地，所述千分表調節機構還包括安裝架和手擰螺絲，所述安裝架與所述角板相連，所述手擰螺絲穿過所述安裝架后與所述第三直線導軌相連。

可選地，所述檢具還包括第二千分尺，所述第二千分尺與所述第三直線導軌的端面接觸，用于校正所述第一直線導軌、第二直線導軌和第三直線導軌的位置。

可選地，所述檢具還包括底板和導軌側板，所述底板上設有基準邊；所述導軌側板設于所述底板上，且與所述基準邊呈垂直關系，所述導軌側板與所述第三直線導軌相互平行，且二者的其中一個端面保持貼合。

可選地，所述檢具還包括角尺，所述角尺上設有4個“V”型槽，分別用于標定所述第一千分表和第二千分表在角尺邊上的位置。