[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110005537.7 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113345962A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蕭茹雄;蘇慶煌;蘇斌嘉;盧颕新;黃一珊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/336 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李偉 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 及其 形成 方法 | ||
一種形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法包括:形成自半導(dǎo)體襯底凸出的位于鰭部上方的偽柵極堆疊件;形成位于偽柵極堆疊件的側(cè)壁上的柵極間隔件;形成位于鰭部的部分上方的源極/漏極(S/D)部件;形成位于柵極間隔件之間的柵極溝槽,其包括修整柵極間隔件的頂部,以形成位于柵極溝槽中的漏斗狀開(kāi)口;以及形成位于柵極溝槽中的金屬柵極結(jié)構(gòu)。在本實(shí)施例中,形成柵極溝槽。一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括:鰭部,自襯底凸出;金屬柵極結(jié)構(gòu),設(shè)置在鰭部上方;柵極間隔件,設(shè)置在金屬柵極結(jié)構(gòu)的側(cè)壁上;其中,每個(gè)柵極間隔件的頂面都成角度朝向半導(dǎo)體鰭部;介電層,設(shè)置在每個(gè)柵極間隔件的頂面上方;以及導(dǎo)電部件,設(shè)置在柵極間隔件之間,以接觸金屬柵極結(jié)構(gòu);其中,導(dǎo)電部件的側(cè)壁接觸介電層,根據(jù)本申請(qǐng)的其他實(shí)施例,還提供了半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)的實(shí)施例涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,并且更具體地,涉及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體工業(yè)經(jīng)歷了快速的增長(zhǎng)。半導(dǎo)體材料和設(shè)計(jì)的技術(shù)進(jìn)步已經(jīng)產(chǎn)生了幾代半導(dǎo)體器件,其中每一代都比前一代具有更小、更復(fù)雜的電路。在集成電路(IC)發(fā)展的過(guò)程中,通常是功能密度(即每個(gè)芯片區(qū)域的互連器件的數(shù)量)增加了,而幾何尺寸(即可以使用制造工藝產(chǎn)生的最小部件(或者導(dǎo)線))卻減小了。這種按比例縮小的工藝通常通過(guò)提高生產(chǎn)效率和降低相關(guān)成本來(lái)提供收益。但是這些進(jìn)步也增加了半導(dǎo)體器件處理和制造的復(fù)雜性。
隨著特征尺寸的不斷減小,當(dāng)在場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)中形成具有多個(gè)材料層的金屬柵極堆疊件時(shí),會(huì)出現(xiàn)挑戰(zhàn)。例如,在柵極替換工藝中,在柵極溝槽中形成至少柵極介電層和功函金屬層之后,柵極溝槽可以用于體導(dǎo)電層的所剩空間不可避免地受到限制,并且可能會(huì)導(dǎo)致體導(dǎo)電層的沉積中的困難。至少由于這個(gè)原因,期望對(duì)形成金屬柵極堆疊件的方法進(jìn)行改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本申請(qǐng)的實(shí)施例,提供了一種形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,包括:形成自半導(dǎo)體襯底凸出的位于鰭部上方的偽柵極堆疊件;形成位于偽柵極堆疊件的側(cè)壁上的柵極間隔件;形成位于鰭部的部分上方的源極/漏極(S/D)部件;形成位于柵極間隔件之間的柵極溝槽,其中,形成柵極溝槽包括修整柵極間隔件的頂部,以在柵極溝槽中形成漏斗狀開(kāi)口;以及形成位于柵極溝槽中的金屬柵極結(jié)構(gòu)。
根據(jù)本申請(qǐng)的實(shí)施例,提供了一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:半導(dǎo)體鰭部,自襯底凸出;金屬柵極結(jié)構(gòu),設(shè)置在半導(dǎo)體鰭部上方,其中,金屬柵極結(jié)構(gòu)包括柵極介電層、設(shè)置在柵極介電層上方的功函金屬層、以及設(shè)置在功函金屬層上方的體導(dǎo)電層;柵極間隔件,設(shè)置在金屬柵極結(jié)構(gòu)的側(cè)壁上,其中,每個(gè)柵極間隔件的頂面都成角度朝向所述半導(dǎo)體鰭部;介電層,設(shè)置在每個(gè)柵極間隔件的頂面上方;以及導(dǎo)電部件,設(shè)置在柵極間隔件之間,以接觸金屬柵極結(jié)構(gòu),其中,導(dǎo)電部件的側(cè)壁接觸介電層。
根據(jù)本申請(qǐng)的實(shí)施例,提供了一種形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,包括:形成位于半導(dǎo)體襯底上方的占位柵極堆疊件,其中,占位柵極堆疊件包括設(shè)置在其側(cè)壁上的間隔件;用金屬柵極堆疊件替代占位柵極堆疊件,其中,替代占位柵極堆疊件包括:在第一蝕刻工藝中去除占位柵極堆疊件的頂部;在第二蝕刻工藝中以一定角度修整間隔件的頂部,使得間隔件具有成角度的頂面;在第三蝕刻工藝中去除占位柵極堆疊件的底部,從而形成位于修整的間隔件之間的柵極溝槽;以及形成位于柵極溝槽中的金屬柵極堆疊件;以及形成位于金屬柵極堆疊件上方的柵極接觸件。
本申請(qǐng)的實(shí)施例涉及場(chǎng)效應(yīng)晶體管中的金屬柵極結(jié)構(gòu)及其制造方法。
附圖說(shuō)明
當(dāng)結(jié)合附圖進(jìn)行閱讀時(shí),從以下詳細(xì)描述可最佳理解本發(fā)明的各個(gè)方面。應(yīng)該指出,根據(jù)工業(yè)中的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐,各個(gè)部件未按比例繪制。實(shí)際上,為了清楚的討論,各個(gè)部件的尺寸可以任意地增大或減小。
圖1A和圖1B示出了根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的用于制造半導(dǎo)體器件的示例性方法的流程圖;
圖2A是根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的示例性半導(dǎo)體器件的三維立體圖;
圖2B是根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的圖2A所示的半導(dǎo)體器件的平面俯視圖;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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