[發(fā)明專利]一種測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110004932.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112858847A | 公開(公告)日: | 2021-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 顧小波;魏偉;劉躍;江斌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 張磊 |
| 地址: | 215000 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 裝置 | ||
本發(fā)明公開一種測(cè)試裝置,包括:檢測(cè)治具,用于承載待測(cè)產(chǎn)品,且待測(cè)產(chǎn)品的FPC與所述檢測(cè)治具的檢測(cè)板電性連接;檢測(cè)裝置,用于對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,檢測(cè)裝置包括支架以及位于支架上的旋轉(zhuǎn)件,該旋轉(zhuǎn)件被配置為可相對(duì)于支架在豎直方向上往復(fù)運(yùn)動(dòng),旋轉(zhuǎn)件上設(shè)有至少兩個(gè)檢測(cè)組件,所述兩個(gè)檢測(cè)組件被配置為在所述旋轉(zhuǎn)件的帶動(dòng)下可分別被旋轉(zhuǎn)至待測(cè)產(chǎn)品上方位置以對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試;以及控制單元,用于控制檢測(cè)板對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,以及控制檢測(cè)裝置的運(yùn)動(dòng)。通過(guò)將多個(gè)檢測(cè)組件設(shè)置在旋轉(zhuǎn)件上,減小多項(xiàng)性能檢測(cè)時(shí)檢測(cè)裝置的測(cè)試占用空間,降低了多項(xiàng)性能檢測(cè)時(shí)檢測(cè)組件更換的時(shí)間,提高了測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域。更具體地,涉及一種測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
為保證終端產(chǎn)品的良率,例如:LCD、OLED、FPC以及RFPCB等終端產(chǎn)品,在模組階段或者終端組裝階段需進(jìn)行待測(cè)產(chǎn)品的多種性能檢測(cè),現(xiàn)有技術(shù)中,這些功能檢測(cè)在不同工位處進(jìn)行。例如,在一個(gè)工位進(jìn)行第一性能檢測(cè),在另一個(gè)工位進(jìn)行第二性能檢測(cè)。當(dāng)對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行第一性能檢測(cè)和第二性能檢測(cè)時(shí),由運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)第一性能檢測(cè)機(jī)構(gòu)至待測(cè)產(chǎn)品上方位置處進(jìn)行第一性能檢測(cè),在第一性能檢測(cè)結(jié)束后,運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)第一性能檢測(cè)機(jī)構(gòu)離開并帶動(dòng)第二性能檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行第二性能檢測(cè)。然而,由于該運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的存在,檢測(cè)時(shí)間、檢測(cè)成本以及檢測(cè)效率均受到極大影響。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)試裝置,包括:
檢測(cè)治具,用于承載待測(cè)產(chǎn)品,且待測(cè)產(chǎn)品的FPC與所述檢測(cè)治具的檢測(cè)板電性連接;
檢測(cè)裝置,用于對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,所述檢測(cè)裝置包括支架以及位于所述支架上的旋轉(zhuǎn)件,該旋轉(zhuǎn)件被配置為可相對(duì)于所述支架在豎直方向上往復(fù)運(yùn)動(dòng),所述旋轉(zhuǎn)件上設(shè)有至少兩個(gè)檢測(cè)組件,所述至少兩個(gè)檢測(cè)組件被配置為在所述旋轉(zhuǎn)件的帶動(dòng)下可分別被旋轉(zhuǎn)至待測(cè)產(chǎn)品上方位置以對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試;以及
控制單元,用于控制所述檢測(cè)板對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,以及控制所述檢測(cè)裝置的運(yùn)動(dòng)。
優(yōu)選地,所述旋轉(zhuǎn)件通過(guò)一多位氣缸進(jìn)行旋轉(zhuǎn);
在所述旋轉(zhuǎn)件旋轉(zhuǎn)的周向方向上,所述旋轉(zhuǎn)件設(shè)有多個(gè)的固定面;
兩個(gè)所述檢測(cè)組件分別位于所述旋轉(zhuǎn)件的不同的固定面上。
優(yōu)選地,所述至少兩個(gè)檢測(cè)組件分別為觸控檢測(cè)件以及一個(gè)溫度檢測(cè)件;
所述觸控檢測(cè)件包括:
與所述旋轉(zhuǎn)架連接固定的固定架;
觸控測(cè)試部,配置為對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行觸控測(cè)試;以及
用以將固定架與觸控測(cè)試部連接的萬(wàn)向軸組件;
所述萬(wàn)向軸組件包括相互配合的球形頭以及鉸接外殼;
固定架與觸控測(cè)試部之間包括有圍繞在萬(wàn)向軸組件外側(cè)的呈均勻分布的若干彈簧。
優(yōu)選地,所述檢測(cè)治具包括底板以及位于底板頂面上的檢測(cè)板;
所述檢測(cè)板上包括有可相對(duì)于檢測(cè)板旋轉(zhuǎn)的內(nèi)設(shè)件,所述內(nèi)設(shè)件上包括有條形孔,所述條形孔至少由所述檢測(cè)板的底面暴露出;
所述底板上包括有限位柱,所述限位柱穿設(shè)于所述條形孔中。
優(yōu)選地,所述檢測(cè)治具還包括有位于底板上的信號(hào)轉(zhuǎn)接組件,所述信號(hào)轉(zhuǎn)接組件可帶動(dòng)所述檢測(cè)板相對(duì)于底板在水平面上兩相對(duì)垂直的方向上移動(dòng)。
優(yōu)選地,所述信號(hào)轉(zhuǎn)接組件包括:
位于底板上的可相對(duì)于底板移動(dòng)的底座;以及
位于底座上的可相對(duì)于底座移動(dòng)的轉(zhuǎn)接模塊;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司,未經(jīng)蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110004932.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





