[發(fā)明專利]一種內(nèi)徑槽跳動的檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110001775.0
• 申請日: 2021-01-04
• 公開（公告）號: CN112833731B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳小軍
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫蠡湖增壓技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 無錫承果知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32373
• 代理人: 張亮

本發(fā)明涉及一種內(nèi)徑槽跳動的檢測方法，步驟包括：S1、制作高精度量具塊；S2、采集多個方向的圓心制成擬合圓；S3、評價擬合圓與B基準(zhǔn)的跳動關(guān)系來判斷內(nèi)徑槽的圓相對B基準(zhǔn)是否合格。本發(fā)明的檢測方法進(jìn)行內(nèi)徑槽跳動檢測，只需花費少許費用制作相應(yīng)的量具塊便可充分利用現(xiàn)有的三坐標(biāo)系統(tǒng)進(jìn)行測量，而無需耗時太長加載昂貴的星型測頭，從而大大降低了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率；且本發(fā)明的檢測方法可廣泛適用于跳動要求≥0.1的內(nèi)徑槽跳動的測量。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種內(nèi)徑槽跳動的檢測方法，屬于內(nèi)徑跳動檢測技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

在機械加工領(lǐng)域，常需要給產(chǎn)品開設(shè)內(nèi)徑槽。內(nèi)徑槽跳動檢測是評價內(nèi)徑槽加工精度的重要指標(biāo)。內(nèi)徑槽跳動一般采用加載星型測頭（如圖1所示）的三坐標(biāo)系統(tǒng)進(jìn)行測量。然而，加載星型測頭價格昂貴，而且由于市場現(xiàn)有的星型測頭的規(guī)格并不一定適合所有的三坐標(biāo)體系，因而需要根據(jù)原有的三坐標(biāo)體系進(jìn)行定制，這樣不僅大大增加了成本，而且從定制到加載完成耗時太長，往往無法滿足客戶對產(chǎn)品的交付周期要求。而現(xiàn)有的三坐標(biāo)系統(tǒng)的測頭（如圖2所示）由于無法直接觸碰槽的上下沿讀取數(shù)值而無法直接精確測量跳動，因此，要在沒有星型測頭的情況下采用三坐標(biāo)系統(tǒng)測量，只有靠破壞產(chǎn)品抽檢的方式確定加工的產(chǎn)品是否符合要求，這樣的方式無法滿足客戶的需求。

因此，有必要通過研究提供一種新型的內(nèi)徑槽跳動的檢測方法，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容

為解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種內(nèi)徑槽跳動的檢測方法，以便在沒有加載星型測頭的情況下，借助工具體使用現(xiàn)有的測頭完成替代測量，從而降低檢測成本。

本發(fā)明的內(nèi)徑槽跳動的檢測方法適用于內(nèi)徑槽跳動要求≥0.1的測量。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下：

一種內(nèi)徑槽跳動的檢測方法，步驟包括：

S1，根據(jù)內(nèi)徑槽的形狀及尺寸規(guī)格制作與內(nèi)徑槽相匹配的高精度量具塊，所述高精度量具塊包括圓柱及其設(shè)置在圓柱外壁的圓柱環(huán)；

S2，將步驟S1制成的高精度量具塊放入內(nèi)徑槽中至高精度量具塊的圓柱環(huán)橫向塞至內(nèi)徑槽的極限，并用三坐標(biāo)系統(tǒng)采集高精度量具塊在此位置的圓心，然后將高精度量具塊多次置于多個方向的內(nèi)徑槽中并使其圓柱環(huán)塞至內(nèi)徑槽極限，采集各個位置的圓心制成擬合圓；

S3，將步驟2得到的擬合圓與B基準(zhǔn)的跳動關(guān)系判斷內(nèi)徑槽的圓相對B基準(zhǔn)的跳動關(guān)系是否合格。

進(jìn)一步地，所述的圓柱環(huán)的高度小于內(nèi)徑槽的槽寬，并與內(nèi)徑槽呈間隙配合。

更進(jìn)一步地，所述的圓柱環(huán)的外徑與內(nèi)徑的差值大于內(nèi)徑槽的槽深。

再進(jìn)一步地，所述的圓柱環(huán)的外徑小于所加工內(nèi)徑槽的圓孔的內(nèi)徑。

由于采取以上技術(shù)方案，本發(fā)明相較于現(xiàn)有技術(shù)的優(yōu)勢和有益效果在于：

采用本發(fā)明的檢測方法進(jìn)行內(nèi)徑槽跳動檢測，只需花費少許費用制作相應(yīng)的量具塊便可充分利用現(xiàn)有的三坐標(biāo)系統(tǒng)進(jìn)行測量，而無需耗時太長加載昂貴的星型測頭，從而大大降低了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率；

1、本發(fā)明的檢測方法可廣泛適用于跳動要求≥0.1的內(nèi)徑槽跳動的測量。

附圖說明

圖1為星型測頭的整體示意圖；

圖2為現(xiàn)有測頭的整體示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例的高精度量具塊整體示意圖；

圖4為本發(fā)明實施例的高精度量具塊放入內(nèi)徑槽的狀態(tài)圖；

圖5為本發(fā)明實施例所得的圓心擬合圓示意圖；

附圖標(biāo)記：高精度量具塊1、內(nèi)徑槽2、B基準(zhǔn)3、擬合圓4。