[發(fā)明專利]調(diào)試印刷電路板的方法、裝置和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202080077708.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114729962A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-07-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 佩特魯斯·馬里努斯·科內(nèi)利斯·瑪利亞·范·登·埃登 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | JTAG科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 譚營(yíng)營(yíng);胡彬 |
| 地址: | 荷蘭埃*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 調(diào)試 印刷 電路板 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 程序 產(chǎn)品 | ||
本公開(kāi)涉及一種調(diào)試具有至少一個(gè)邊界掃描兼容設(shè)備的印刷電路板的方法,所述方法使用電子處理單元并且包括以下步驟:檢索所述至少一個(gè)邊界掃描兼容設(shè)備的邊界掃描屬性,所述邊界掃描兼容設(shè)備包括所述至少一個(gè)邊界掃描兼容設(shè)備的邊界掃描兼容電路端子的列表;選擇并顯示安裝在所述印刷電路板上的所述設(shè)備的至少一部分的電路圖,所述電路圖包括安裝在所述印刷電路板上的多個(gè)設(shè)備中的至少一個(gè)設(shè)備和所述多個(gè)設(shè)備中的至少一個(gè)其他設(shè)備,所述其他設(shè)備包括電路端子,所述電路端子與所述設(shè)備的電路端子互連,用于使至少所述設(shè)備、所述其他設(shè)備和互連可視化。本公開(kāi)還涉及相應(yīng)的調(diào)試裝置和相應(yīng)的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)一般涉及調(diào)試一個(gè)或多個(gè)印刷電路板。
本公開(kāi)還涉及用于測(cè)試印刷電路板的裝置、調(diào)試裝置以及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
背景技術(shù)
印刷電路板可以包括大量電子元器件,這些元器件例如通過(guò)接觸焊盤(pán)附接到印刷電路板。導(dǎo)電軌道通過(guò)它們的導(dǎo)電焊盤(pán)連接元器件。
現(xiàn)代印刷電路板具有多層印刷,層之間帶有跡線層或?qū)щ娷壍馈R虼耍挥杏∷㈦娐钒宓捻攲雍偷讓由系能壍朗强梢?jiàn)的。由于現(xiàn)代印刷電路板可能包括四到八層(盡管更多的層也很常見(jiàn)),所以大多數(shù)軌道是不可見(jiàn)的。因此,測(cè)試和調(diào)試此類印刷電路板具有挑戰(zhàn)性,因?yàn)樵骷脑S多引腳是不可見(jiàn)的,因此調(diào)試人員難以區(qū)分它們。許多元器件和軌道也非常小,這進(jìn)一步使測(cè)試和調(diào)試復(fù)雜化。
其中一個(gè)元器件或其中一個(gè)軌道的故障可能已經(jīng)導(dǎo)致整個(gè)印刷電路板發(fā)生故障。因此,希望每個(gè)元器件和每個(gè)軌道都可以被監(jiān)控和測(cè)試,以確保正確運(yùn)行。
為此,在印刷電路板的設(shè)計(jì)階段,可以在電路板中實(shí)現(xiàn)邊界掃描功能。通過(guò)邊界掃描,提供了一個(gè)電子串行接口,允許訪問(wèn)當(dāng)今許多電子元器件,例如集成電路上的嵌入式邏輯。借助邊界掃描元器件,電路板上增加了多項(xiàng)功能,例如邏輯測(cè)試,例如在沒(méi)有外部測(cè)試探針的情況下測(cè)試設(shè)備之間的連接,編程邏輯,例如用于對(duì)FPGA進(jìn)行編程,以及用于調(diào)試集成電路和微控制器中的邏輯。
當(dāng)今許多印刷電路板都配備了邊界掃描設(shè)備。這些印刷電路板可以通過(guò)運(yùn)行邊界掃描測(cè)試(BST)進(jìn)行測(cè)試。邊界掃描測(cè)試(BST)是一種為輔助印刷電路板測(cè)試而開(kāi)發(fā)的方法,并在標(biāo)準(zhǔn)(IEEE Std.1149.1--1990)中規(guī)定。
為了檢測(cè)PCB的故障,必須開(kāi)發(fā)測(cè)試模式或測(cè)試向量,優(yōu)選地測(cè)試向量或測(cè)試模式覆蓋所有故障并且使診斷盡可能簡(jiǎn)單。在邊界掃描測(cè)試中使用這樣的測(cè)試向量非常有利于測(cè)試印刷電路板的幾個(gè)功能方面及其各個(gè)元器件和軌道,并且也足以檢查哪些元器件相互連接。
邊界掃描為PCB的所有階段提供了一種工具。這意味著,在設(shè)計(jì)階段,邊界掃描為PCB的設(shè)計(jì)人員提供了一種工具,用于對(duì)PCB的某些方面進(jìn)行臨時(shí)調(diào)試,甚至在PCB被發(fā)布用于生產(chǎn)之前。如果設(shè)計(jì)是最終的,并且已經(jīng)開(kāi)發(fā)了相應(yīng)的測(cè)試向量,則可以在生產(chǎn)測(cè)試階段就可以對(duì)組裝好的電路板進(jìn)行故障測(cè)試。后來(lái),服務(wù)階段邊界掃描中的相似性為臨時(shí)調(diào)試提供了工具。
在PCB的所有階段,設(shè)計(jì)人員、測(cè)試人員和服務(wù)工程師都可以運(yùn)行(臨時(shí))邊界掃描測(cè)試,以確定測(cè)試的輸出是否符合預(yù)期。考慮到徹底的設(shè)計(jì)和制造,大多數(shù)輸出將符合預(yù)期并且測(cè)試將通過(guò)。然而,與所有設(shè)計(jì)和制造一樣,有時(shí)結(jié)果并不像預(yù)期的那樣。在這種情況下,設(shè)計(jì)人員和/或測(cè)試人員將不得不調(diào)試并深入了解測(cè)試的細(xì)節(jié)以確定錯(cuò)誤所在。這可能是非常具有挑戰(zhàn)性的。
發(fā)明內(nèi)容
此本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種簡(jiǎn)化且有效的方法,用于調(diào)試具有一個(gè)或多個(gè)邊界掃描兼容設(shè)備的印刷電路板以及印刷電路板的測(cè)試圖案。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 調(diào)試系統(tǒng)、調(diào)試方法和調(diào)試控制方法
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- 設(shè)備自動(dòng)工程調(diào)試方法、裝置、系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)設(shè)備
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- 一種安卓系統(tǒng)動(dòng)態(tài)調(diào)試的方法及系統(tǒng)
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