[發明專利]像素定位校準圖像捕獲和處理

有效

• 申請號: 202080068938.0
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN114503188B
• 公開（公告）日: 2023-10-20
• 發明（設計）人: 維亞切斯拉夫·夏伊斯金
• 申請（專利權）人: 伊格尼斯創新公司
• 主分類號: G09G5/37
• 分類號: G09G5/37;G09G5/02
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 姚鵬;陳桂香

1.一種光學校正方法，用于校正具有像素的顯示面板上的圖像的顯示，每個所述像素含有發光器件，所述方法包括：

在所述顯示面板的前方布置相機；

在所述顯示面板上顯示一個或多個校準圖案，同時使用所述相機拍攝所述校準圖案的一個或多個校準圖像，所述一個或多個校準圖案包括粗略特征的間隔圖案和精細特征的間隔圖案，所述粗略特征的間距大于所述精細特征的間距；

從所述校準圖像中的所述粗略特征的圖像生成所述校準圖像內的面板像素定位的粗略估計；

利用所述粗略估計在所述校準圖像內定位所述精細特征的圖像；

從所述校準圖像中所述精細特征的被定位的所述圖像生成所述校準圖像內的面板像素定位的高分辨率估計，所述高分辨率估計具有比所述粗略估計更高的精度；和

使用所述高分辨率估計生成用于校正所述顯示面板中顯示的圖像的校正數據。

2.根據權利要求1所述的光學校正方法，其中，所述一個或多個校準圖案包括單個校準圖案，并且其中，所述一個或多個校準圖像包括單個圖像。

3.根據權利要求1所述的光學校正方法，其中，所述粗糙特征與所述一個或多個校準圖案的邊緣間隔開。

4.根據權利要求1所述的光學校正方法，其中，所述精細特征遍布于所述一個或多個校準圖案中。

5.根據權利要求1所述的光學校正方法，其中，各所述精細特征包括前景色的像素，并且各所述粗糙特征包括被背景色的區域包圍的前景色的像素，所述區域沒有其他粗糙特征或精細特征。

6.根據權利要求1所述的光學校正方法，其中，所述粗略估計包括第一2D多項式函數，所述高分辨率估計包括第二2D多項式函數，所述第二2D多項式函數的階數大于所述第一2D多項式函數的階數。

7.根據權利要求1所述的光學校正方法，其中，所述生成所述粗略估計包括：

定位所述一個或多個校準圖像中的所述粗糙特征的圖像；

識別與所述粗略特征的所述圖像相對應的所述一個或多個校準圖案的所述粗略特征；和

從所述一個或多個校準圖像中的所述粗略特征的所述圖像的定位和所述一個或多個校準圖案中的所述粗略特征的已知定位生成面板像素定位與校準圖像像素定位之間的粗略映射，

其中，所述定位所述精細特征的圖像包括：

使用所述粗略估計和所述一個或多個校準圖案中的所述精細特征的已知定位估計所述精細特征的圖像在所述一個或多個校準圖像內的預期定位，以及

其中，所述生成所述高分辨率估計包括：

識別與所述精細特征的所述圖像相對應的所述一個或多個校準圖案的所述精細特征；和

從所述一個或多個校準圖像中的所述精細特征的所述圖像的定位和所述一個或多個校準圖案中的所述精細特征的已知定位生成面板像素定位與校準圖像像素定位之間的高分辨率映射。

8.根據權利要求7所述的光學校正方法，其中，識別與所述精細特征的所述圖像相對應的所述一個或多個校準圖案的所述精細特征包括：

對于所述精細特征的圖像的每個預期定位，確定所述一個或多個校準圖像中的位于距離閾值內的最近的精細特征的圖像。

9.根據權利要求1所述的光學校正方法，其中，所述一個或多個校準圖案包括單個校準圖案，并且所述一個或多個校準圖像包括單個圖像，其中，所述粗略特征與所述一個或多個校準圖案的邊緣間隔開，并且所述粗略特征包括被背景色的正方形區域包圍的前景色的單個像素，所述正方形區域不存在其他粗略特征或精細特征，其中，所述精細特征遍布于所述單個校準圖案中，并且各所述精細特征包括前景色的單個像素，其中，所述粗略估計包括第一2D多項式函數，所述高分辨率估計包括第二2D多項式函數，并且所述第二2D多項式函數的階數大于所述第一2D多項式函數的階數。