[發明專利]X射線自動化校準和監測

在審

• 申請號: 202080057713.5
• 申請日: 2020-08-13
• 公開（公告）號: CN114222915A
• 公開（公告）日: 2022-03-22
• 發明（設計）人: 杰弗里·C·吉爾;阿梅爾·M·巴特;理查德·D·蒂姆佩里奧
• 申請（專利權）人: 卓繽科技貿易公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01N23/18;G01N33/02
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 劉曄;葛強

1.一種掃描儀，包括：

電磁波源；

準直器，所述準直器被定位成將從所述電磁波源發射的所述電磁波改變成電磁波束；和

檢測器，所述檢測器被定位成測量所述電磁波束的一個或多個電磁能量水平，其中，準直器元件能夠經由一個或多個調節機構在至少一個軸上進行空間調節，以改變所述檢測器測量的所述一個或多個電磁能量水平。

2.根據權利要求1所述的掃描儀，其中，所述電磁波源生成X射線。

3.根據權利要求1或權利要求2所述的掃描儀，其中，所述電磁波束的覆蓋區包括高縱橫比矩形形狀。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的掃描儀，其中，準直器屏蔽元件在空間上是可調的，以在至少一個軸上平移和旋轉。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的掃描儀，其中，準直器屏蔽元件在空間上是可調的，以在三個軸上平移和旋轉。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的掃描儀，其中，所述檢測器包括光電二極管陣列的堆疊。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的掃描儀，包括傳送帶，所述傳送帶并置在所述準直器與所述檢測器之間。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的掃描儀，包括一個或多個能夠手動調節的調節機構，以在沒有工具的情況下在空間上調節準直器屏蔽元件。

9.根據權利要求1至7中任一項所述的掃描儀，包括一個或多個調節機構，所述一個或多個調節機構耦合到致動器，以利用控制系統元件在空間上調節準直器屏蔽元件。

10.根據權利要求9所述的掃描儀，其中，所述控制系統元件包括至少一個存儲介質和一個或多個中央處理單元，所述中央處理單元被配置為與所述致動器通信。

11.根據權利要求9所述的掃描儀，包括人機界面，所述人機界面被配置為與所述一個或多個中央處理單元通信。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的掃描儀，其中，所述掃描儀被配置為與存儲介質通信，在所述存儲介質上存儲有指令，以執行用于檢測所述準直器未對準的方法，所述方法包括：

利用所述檢測器測量由所述準直器產生的所述電磁波束的能量水平；

利用控制系統將由所述檢測器測量的所述電磁波束的能量水平與對準的準直器的能量水平的預定值進行比較；和

當由所述檢測器測量的測量能量水平超出預定值時，在空間上調節所述準直器。

13.根據權利要求1至12中任一項所述的掃描儀，其中，所述掃描儀被配置為與其上存儲有指令的存儲介質進行通信，以執行用于通過多個參數組合進行步進調試來收集數據以平衡由檢測器檢測到的能量水平的方法，所述方法包括：

利用控制系統操作所述電磁波源以在多個參數組合下生成電磁波束；

利用所述控制系統遞增地移動具有多個臺階的臺階板固定裝置，以將所述電磁波束暴露于多個臺階；

利用所述控制系統在所述臺階中的多于一個臺階處和多于一個參數組合下測量所述電磁波束的一個或多個能量水平；和

利用所述控制系統選擇平衡所述檢測器檢測到的所述能量水平的所述參數組合。

14.一種有形計算機可讀介質，在所述有形計算機可讀介質上存儲有指令以執行用于檢測準直器未對準的方法，所述方法包括：

利用檢測器測量由所述準直器產生的電磁波束的能量水平；

利用控制系統將由所述檢測器測量的所述電磁波束的能量水平與對準的準直器的能量水平的預定值進行比較；和

當由所述檢測器測量的測量能量水平超出預定值時，在空間上調節所述準直器。