[發明專利]確定總校準時間的方法在審
| 申請號： | 202080049738.0 | 申請日： | 2020-03-09 |
| 公開（公告）號： | CN114041042A | 公開（公告）日： | 2022-02-11 |
| 發明（設計）人： | M·A·巴特勒;A·T·帕滕;J·S·迪西 | 申請（專利權）人： | 高準公司 |
| 主分類號： | G01F25/10 | 分類號： | G01F25/10;G01F1/84 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 陳曉;呂傳奇 |
| 地址： | 美國科*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 確定 校準 時間 方法 | ||
1.一種用于操作流量計診斷工具的方法，包括：
將診斷工具與流量計傳感器組裝件對接；
將基礎校準儀體積（BPV）輸入到診斷工具中；
將每次運行所期望的通過次數輸入到診斷工具中；
接收流量計數據；
計算通過預定可重復性要求所必需的估計總校準時間（TPT）；
計算實現計算的TPT所需的估計最小運行次數；
計算流量計傳感器組裝件流率的標準偏差（σ）；
確定用于計算σ的樣本數；
計算儀表特定的因子（MSF）。
2.一種用于操作流量計診斷工具的方法，包括：
將診斷工具與流量計傳感器組裝件對接；
將最大允許運行次數輸入到診斷工具中；
將每次運行所期望的通過次數輸入到診斷工具中；
接收流量計數據；
計算通過預定可重復性要求所必需的估計總校準時間（TPT）；
計算估計的最小基礎校準儀體積（BPV）；
計算流量計傳感器組裝件流率的標準偏差（σ）；
確定用于計算σ的樣本數；
計算儀表特定的因子（MSF）。
3.根據權利要求1和2所述的方法，其中，MSF包括用于TPT計算的采樣率。
4.根據權利要求3所述的方法，其中，通過將用于計算σ的樣本數除以樣本收集持續時間來計算MSF。
5.一種用于配置流量計系統的診斷工具，包括：
電子設備，被配置為與流量計（5）對接并接收流量計數據；
與電子設備的用戶接口，被配置為接受用戶輸入，其中該輸入包括基礎校準儀體積（BPV）、每次運行所期望的通過次數和最大允許運行次數中的至少一個；和
處理系統（303），被配置為運行校準例程（315），其中校準例程（315）被配置為進行如下各項中的至少一個：計算通過預定可重復性要求所必需的估計總校準時間（TPT）、計算實現計算的TPT所需的估計最小運行次數和計算估計最小基礎校準儀體積（BPV），
計算流量計傳感器組裝件流率的標準偏差（σ）；
確定用于計算σ的樣本數；
計算儀表特定的因子（MSF）。
6.根據權利要求5所述的診斷工具，其中，MSF包括用于TPT計算的采樣率。
7.根據權利要求6所述的診斷工具，其中，通過將用于計算σ的樣本數除以樣本收集持續時間來計算MSF。
8.根據權利要求5所述的診斷工具，其中，電子設備包括用于流量計（5）的儀表電子設備（20）。
9.根據權利要求5所述的診斷工具，其中，計算TPT包括利用不確定性覆蓋因子。
10.根據權利要求5所述的診斷工具，其中，計算實現計算的TPT所需的估計最小運行次數包括利用測量的流率和BPV。
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