[發明專利]用于測試在氣溶膠中使用的加熱系統的系統和方法

在審

• 申請號: 202080046340.1
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN114126431A
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: R·N·巴蒂斯塔;R·卡利;A·勒布;L·W·布雷曼
• 申請（專利權）人: 菲利普莫里斯生產公司
• 主分類號: A24F40/80
• 分類號: A24F40/80;A24F40/51;A24F40/46
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 宋巖

1.一種用于確定在氣溶膠生成制品中使用的加熱系統的電阻率的系統，所述系統包括：

容納器，所述容納器用于接收多個元件，每個元件包括待測試的加熱系統；以及

測試組件，所述測試組件包括：

多個傳感器單元，每個傳感器單元包括至少一對電觸點，所述對電觸點被配置成使電流通過其中并且被配置成獲得與所述多個元件中的每個元件的所述加熱系統的特性有關的信號；以及

處理器，所述處理器被配置成接收由所述傳感器單元獲得的所述信號，并且確定所述多個元件中的每個元件的所述加熱系統的電阻率。

2.根據權利要求1所述的系統，其中與所述多個元件中的每個元件的所述加熱系統的特性有關的所述信號基本上同時由所述傳感器單元獲得。

3.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所述測試組件被配置成當所述測試組件處于測試配置時獲得所述信號。

4.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所述傳感器單元被偏置地保持在所述測試組件中。

5.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所述多個傳感器單元中的至少一個傳感器單元包括至少光學傳感器。

6.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所獲得的信號涉及電流、電壓或光中的至少一者。

7.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所測試的特性涉及所述元件的所述加熱系統的電阻率、所述元件的空間位置或所述元件的所述加熱系統的物理條件中的至少一者。

8.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所確定的電阻率是所述加熱系統的完整性、所述加熱系統與預定條件的一致性、或所述加熱系統的功能性中的至少一者。

9.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所述容納器是具有多個腔的板，每個腔被配置成接收元件。

10.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中每個元件的所述加熱系統包括網狀箔。

11.根據任一項前述權利要求所述的系統，其中所述傳感器單元在其自身重量下保持在所述測試組件的通道內。

12.根據權利要求11所述的系統，其中所述傳感器單元可以從其相應通道移位或在其相應通道內移位。

13.一種確定在氣溶膠生成制品中使用的加熱系統的狀態的方法，所述方法包括：

提供系統，所述系統包括：

容納器，所述容納器用于接收多個元件；以及

測試組件，所述測試組件包括：

多個傳感器單元，每個傳感器單元包括至少一對電觸點，所述對電觸點被配置成使電流通過其中并且被配置成獲得與所述多個元件中的一個元件的所述加熱系統的特性有關的信號；以及

處理器；

用多個元件填充所述容納器，每個元件包括待測試的加熱系統；

致動所述多個傳感器單元以獲得與所述多個元件中的每個元件的所述加熱系統的特性有關的信號；以及

用所述處理器從所獲得的信號確定所述多個元件中的每個元件的所述加熱系統的電阻率。

14.根據權利要求13所述的方法，其中所述方法還包括使所述測試組件進入測試配置的步驟。

15.根據權利要求13或權利要求14所述的方法，其中所述方法還包括以下步驟：從所述容納器移除所述多個元件并用另外的多個元件重新填充所述容納器。