[發明專利]熒光體板和使用該熒光體板的發光裝置

在審

• 申請號: 202080045123.0
• 申請日: 2020-06-22
• 公開（公告）號: CN113993974A
• 公開（公告）日: 2022-01-28
• 發明（設計）人: 山浦太陽;久保田雄起;伊藤和弘;江本秀幸
• 申請（專利權）人: 電化株式會社
• 主分類號: C09K11/00
• 分類號: C09K11/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王洋

本發明的熒光體板具備包含母材和分散于上述母材中的熒光體的板狀的復合體，將測定波長300nm～700nm的光的吸收光譜時的455nm的吸收率設為A₄₅₅(％)，將700nm的吸收率設為A₇₀₀(％)，將該熒光體板的厚度設為T(mm)時，(A₇₀₀/A₄₅₅)/T滿足0.01～1.00。

技術領域

本發明涉及熒光體板和使用該熒光體板的發光裝置。

背景技術

迄今為止對熒光體板進行了各種各樣的開發。作為這種技術，例如已知專利文獻1中記載的技術。專利文獻1中記載了YAG：Ce晶粒和氧化鋁晶粒混合存在的熒光體板作為一個例子(專利文獻1的段落0055等)。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2012－9470號公報

發明內容

然而，本發明人進行了研究，結果發現在上述專利文獻1記載的熒光體板中，在熒光強度方面有改善的余地。

上述專利文獻1中，對由包含母材和熒光體的復合體構成的熒光體板尚未充分地研究。在熒光體板中，如果發光時發光的自吸收變大，則有時熒光強度降低。

本發明人進一步進行了研究，結果發現通過減少由熒光體板所致的發光區域的發光的自吸收、所謂非發光吸收，能夠抑制熒光強度的降低，對于非發光吸收的程度，可以將700nm的吸收率作為指標而活用。

基于這樣的見解進一步進行了深入研究，結果發現通過采用將455nm的吸收率設為A₄₅₅(％)、將700nm的吸收率設為A₇₀₀(％)、將該熒光體板的厚度設為T(mm)時的(A₇₀₀/A₄₅₅)/T作為指標，能夠穩定地評價非發光吸收的程度，通過使該指標在適當的范圍內，能夠提高熒光體板的熒光強度，以至完成了本發明。

根據本發明，可提供一種熒光體板，

具備包含母材和分散于上述母材中的熒光體的板狀的復合體，

對該熒光體板測定波長300nm～700nm的光的吸收光譜時的455nm的吸收率設為A₄₅₅(％)，將700nm的吸收率設為A₇₀₀(％)，將該熒光體板的厚度設為T(mm)時，

(A₇₀₀/A₄₅₅)/T滿足0.01～1.00。

另外，根據本發明，可提供一種發光裝置，具備：

第III族氮化物半導體發光元件，以及

設置于上述第III族氮化物半導體發光元件的一面上的上述的熒光體板。

根據本發明，可提供熒光強度優異的熒光體板和使用該熒光體板的發光裝置。

附圖說明

圖1是表示本實施方式的熒光體板的構成的一個例子的示意圖。

圖2中的(a)是示意地表示倒裝芯片型的發光裝置的構成的截面圖，(b)是示意地表示引線接合型的發光元件的構成的截面圖。

圖3是用于測定復合體的發光光譜的裝置的概略圖。

具體實施方式

以下，使用附圖對本發明的實施方式進行說明。應予說明，在全部的附圖中，對同樣的構成要素標注同樣的符號，適當地省略說明。另外，圖是概略圖，與實際的尺寸比率不一致。

對本實施方式的熒光體板的概要進行說明。