[發明專利]用于對工件進行檢驗的方法、檢驗設備和處理設備

在審

• 申請號: 202080034469.0
• 申請日: 2020-04-29
• 公開（公告）號: CN113795797A
• 公開（公告）日: 2021-12-14
• 發明（設計）人: F·赫爾;M·查貝爾;迪特馬爾·威蘭;S·韋勒
• 申請（專利權）人: 杜爾系統股份公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418;B05B16/20
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;張會華

1.一種用于對工件(102)進行檢驗的方法，所述工件尤其是車輛車身(104)，其中所述方法包括：

借助自動檢驗工位(146)查明待檢驗的所述工件(102)的一個或多個工件參數；

根據借助所述檢驗工位(146)查明的工件參數中的至少一個對所述工件(102)進行分類。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對所述在其中已經借助所述檢驗工位(146)查明被歸類為有缺陷的或者導致所述工件(102)處的缺陷的一個或多個工件參數的工件(102)進行再處理。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，當所有借助所述檢驗工位(146)查明的工件參數被歸類為無缺陷的并且不導致所述工件(102)處的缺陷時，所述工件(102)不經受再處理。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，一個或多個工件(102)在所述檢驗工位(146)之后被供應至質量檢查工位(194)。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，被供應至所述質量檢查工位(194)的所述工件(102)是從所有被制造的和/或被處理的工件(102)中選出的，并且僅所述這些工件(102)經受質量檢查。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，基于測量的和/或計算的和/或模擬的工件參數和/或基于測量的和/或計算的和/或模擬的處理結果參數、尤其是基于以下參數中的一個或多個選出待供應至所述質量檢查工位(194)的所述工件(102)：

涂層的色調和/或亮度和/或色彩量度“顏色匹配”和/或走向和/或光澤度；

涂層和/或基底表面的品質，特別是涂層、尤其每個或單個層的平整度和/或粗糙度；

涂層的層厚度的均勻性；

涂層的厚度；

涂層的硬度；

涂層的化學組分、尤其是交聯度和/或溶劑含量；

關于相應的所述工件(102)的類型和/或型號的信息；

關于物理和/或生產技術的工件特征碼的信息；

單獨的工件識別碼；

關于相應的所述工件(102)的在處理之前的制造和/或加工的信息；

關于相應的所述工件(102)的在處理之后的再處理和/或繼續加工的信息；

關于在相應的所述工件(102)處的測量的、模擬的和/或預估的瑕疵部位或其他質量缺陷的信息、尤其是涂層瑕疵的位置和/或規模。

7.根據權利要求4至6中任一項所述的方法，其特征在于，在所述質量檢查時對以下參數中的一個或多個進行測量：

涂層的色調和/或亮度和/或色彩量度“顏色匹配”和/或走向和/或光澤度；

涂層和/或基底表面的品質，特別是涂層、尤其是每個或各個層的平整度和/或粗糙度；

涂層的層厚度的均勻性；

涂層的厚度；

涂層的硬度；

涂層的化學組分、尤其是交聯度和/或溶劑含量；

涂層的污染程度；

工件表面的反射特性；

工件表面的吸收特性；

工件表面的放射特性。

8.根據權利要求4至7中任一項所述的方法，其特征在于，在所述質量檢查時僅在所述工件(102)的、根據在所述檢驗工位(146)中的檢驗結果無缺陷的部位處進行質量測量。

9.根據權利要求4至8中任一項所述的方法，其特征在于，所述質量測量的結果被用于對尤其是在一個或多個用于對所述工件(102)進行處理的處理工位(106)中的一個或多個設備參數進行校正。

10.根據權利要求4至9中任一項所述的方法，其特征在于，基于所述質量測量的結果即使在下述情況下仍對尤其是在一個或多個用于對所述工件(102)進行處理的處理工位(106)中的一個或多個設備參數進行校正，即所述一個或多個設備參數位于預先規定的界限值內，其中所述一個或多個設備參數在時間上的發展中的趨勢尤其已經被減緩或抵消。