[發明專利]射頻復用信號的相位校正

在審

• 申請號: 202080034420.5
• 申請日: 2020-05-29
• 公開（公告）號: CN113811756A
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發明（設計）人: 喬納森·林;基根·奧斯利;馬修·巴爾
• 申請（專利權）人: 貝克頓·迪金森公司
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413
• 代理人: 李慧然;程強

1.一種方法，包括：

根據流動流中的樣品的顆粒生成頻率編碼的熒光數據；以及

通過利用相位校正分量對所述頻率編碼的熒光數據進行變換來計算所述顆粒的相位校正的空間數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述空間數據是通過利用所述相位校正分量或利用數字鎖相放大器對所述頻率編碼的熒光數據進行傅立葉變換以使所述頻率編碼的熒光數據產生外差并解復用所述頻率編碼的熒光數據來計算的。

3.根據權利要求2所述的方法，其中所述空間數據是通過利用所述相位校正分量對所述頻率編碼的熒光數據進行離散傅立葉變換或者利用所述相位校正分量對所述頻率編碼的熒光數據進行短時傅立葉變換(STFT)來計算的。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中，所述相位校正分量包括用來將所述頻率編碼的熒光數據變換成所述相位校正的空間數據的修正變換系數。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中，根據所述顆粒生成所述頻率編碼的熒光數據包括利用光檢測系統檢測來自所述樣品中的顆粒的光。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，從所述顆粒檢測到的光包括光吸收、光散射、發射的光或其組合。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法，其中，所述相位校正分量包括第一相位調整和第二相位調整。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，所述第一相位調整包括來自所述光檢測系統的輸出信號，例如來自明場光電檢測器的輸出信號，所述方法還包括通過以下方式計算所述第一相位調整：

將來自所述明場光電檢測器的輸出信號與預定的恒定信號相乘，以產生相位調整值；以及

計算所述相位調整值的反正切，以生成所述第一相位調整。

9.根據權利要求8中任一項所述的方法，其中，所述第一相位調整是干涉相位調整。

10.根據權利要求9中任一項所述的方法，其中，所述干涉相位調整包括由光源的部件之間的振動導致的相移。

11.根據權利要求7中任一項所述的方法，還包括基于所述樣品中的熒光團的熒光壽命來計算所述第二相位調整。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的方法，其中，通過集成電路設備根據所述頻率編碼的熒光數據計算所述顆粒的相位校正的空間數據。

13.根據權利要求1至12中任一項所述的方法，還包括根據所述相位校正的空間數據生成所述顆粒的圖像。

14.一種系統，包括：

光源，其配置為照射包括流動流中的顆粒的樣品；

光檢測系統；以及

處理器，其包括可操作地耦合到所述處理器的存儲器，其中，所述存儲器包括存儲在其上的指令，所述指令在由所述處理器執行時使所述處理器執行以下操作：

根據所述流動流中的顆粒生成頻率編碼的熒光數據；

通過利用相位校正分量對所述頻率編碼的熒光數據進行變換來計算所述顆粒的相位校正的空間數據。

15.一種集成電路，被編程為執行以下操作：

根據流動流中的顆粒生成頻率編碼的熒光數據；

通過利用相位校正分量對所述頻率編碼的熒光數據進行變換來計算所述顆粒的相位校正的空間數據。