[發(fā)明專利]用于激光掃描顯微鏡的基于散斑的圖像畸變校正在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202080025783.2 | 申請日: | 2020-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN113678054A | 公開(公告)日: | 2021-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | G·J·蒂爾尼;J·柳 | 申請(專利權(quán))人: | 通用醫(yī)療公司 |
| 主分類號: | G02B27/48 | 分類號: | G02B27/48;G01B9/02;G01N21/17;G01N21/47;G02B23/24;G02B26/10 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 張鑫 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 激光 掃描 顯微鏡 基于 圖像 畸變 校正 | ||
1.一種校正圖像的畸變的方法,包括:
由處理器,分析所述圖像的圖像段以識別散斑偽影,所述圖像段從掃描成像設(shè)備獲得;
由所述處理器,確定所述散斑偽影的形狀的縱橫比;
由所述處理器,基于所述縱橫比確定用于所述散斑偽影的所述形狀的校正因子;以及
由所述處理器,基于所述校正因子來調(diào)整所述圖像段的維度。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述縱橫比確定用于所述散斑偽影的所述形狀的所述校正因子進一步包括:
基于將所述縱橫比與所述校正因子相關(guān)的多項式函數(shù)確定所述校正因子。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,從旋轉(zhuǎn)掃描設(shè)備或線性掃描設(shè)備中的至少一者獲得所述圖像。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,通過將所述圖像劃分為多個條帶來導(dǎo)出所述圖像段,
其中,所述多個條帶中的每個條帶被細(xì)分為多個子條帶,其中,所述圖像段包括所述多個子條帶中的一個子條帶。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,通過樣本的旋轉(zhuǎn)掃描生成所述圖像,
其中,所述多個條帶中的每個條帶對應(yīng)于在所述樣本的旋轉(zhuǎn)掃描方向上收集的數(shù)據(jù)。
6.如權(quán)利要求4所述的方法,進一步包括:
基于針對所述多個子條帶中的每個子條帶所確定的相應(yīng)的校正因子來調(diào)整所述多個子條帶中的每個子條帶的維度,
將經(jīng)調(diào)整的子條帶中的每個子條帶重新組裝成多個經(jīng)校正的條帶,以及
將所述多個經(jīng)校正的條帶重新組裝成經(jīng)校正的圖像。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,將所述多個經(jīng)校正的條帶重新組裝成經(jīng)校正的圖像進一步包括:
確定所述多個經(jīng)校正的子條帶的兩個相鄰條帶之間的互相關(guān),
計算使所述互相關(guān)最大化的相位延遲值,以及
基于所計算的相位延遲對準(zhǔn)所述兩個相鄰條帶。
8.如權(quán)利要求1-7中任一項所述的方法,其特征在于,分析所述圖像段以識別所述散斑偽影進一步包括:
基于對所述圖像段濾波來提取所述圖像段的散斑圖像,并且
其中,確定所述散斑偽影的所述形狀的所述縱橫比進一步包括:
基于所述散斑圖像中的所述散斑偽影的自協(xié)方差來確定所述縱橫比。
9.如權(quán)利要求1-7中任一項所述的方法,其特征在于,所述散斑偽影是由相干光源引起的。
10.如權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,所述相干光源包括激光器。
11.一種用于校正圖像的畸變的裝置,包括:
處理器;以及
存儲器,所述存儲器與具有存儲在其上的一組指令的所述處理器通信,當(dāng)由所述處理器執(zhí)行時,所述指令使得所述處理器:
分析所述圖像的圖像段以識別散斑偽影,所述圖像段是從掃描成像設(shè)備獲得的,
確定所述散斑偽影的形狀的縱橫比,
基于所述縱橫比確定用于所述散斑偽影的所述形狀的校正因子;以及
基于所述校正因子來調(diào)整所述圖像段的尺寸。
12.如權(quán)利要求11所述的裝置,其特征在于,在基于所述縱橫比確定所述散斑偽影的所述形狀的所述校正因子時,所述指令進一步使得所述處理器:
基于將所述縱橫比與所述校正因子相關(guān)的多項式函數(shù)確定所述校正因子。
13.如權(quán)利要求11所述的裝置,其特征在于,通過樣本的旋轉(zhuǎn)掃描或線性掃描中的至少一者來生成從其中導(dǎo)出所述圖像段的所述圖像。
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