[發明專利]用于X射線校準的X射線環形標記

有效

• 申請號: 202080023907.3
• 申請日: 2020-03-25
• 公開（公告）號: CN113631096B
• 公開（公告）日: 2022-11-29
• 發明（設計）人: A·帕特里丘;A·托爾耶森;M·L·弗萊克斯曼;A·S·潘斯;M·A·巴利茨基;R·F·J·霍爾特輝澤恩
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 孟杰雄

1.一種C型臂配準系統，包括：

X射線環形標記(20)，其包括在環狀基座(30)上的一個啁啾環(40)和中心環(50)的同軸結構；以及

C型臂配準控制器(70)，其用于將C型臂(60)配準到所述X射線環形標記(20)，其中，所述C型臂配準控制器(70)被配置為：

采集基線X射線圖像，所述基線X射線圖像圖示由所述C型臂(60)在基線成像姿勢處進行的基線X射線投影內的所述X射線環形標記(20)；

根據所述基線X射線圖像內的所述中心環(50)的圖示來導出所述X射線環形標記(20)的基線位置參數，所述基線位置參數定義所述X射線環形標記(20)在所述基線X射線投影內的位置；并且

根據對所述基線位置參數和所述基線X射線圖像內的所述啁啾環(40)的圖示來導出所述X射線環形標記(20)的基線扭曲參數，所述基線扭曲參數定義所述X射線環形標記(20)在所述基線X射線投影內的扭曲。

2.根據權利要求1所述的C型臂配準系統，其中，所述C型臂配準控制器(70)被配置為導出所述X射線環形標記(20)的所述基線位置參數包括所述C型臂配準控制器(70)還被配置為：

在所述基線X射線圖像內描繪所述中心環(50)；并且

根據對所述基線X射線圖像內的所述中心環(50)的描繪來將所述X射線環形標記(20)在所述基線X射線投影內的所述位置參數化。

3.根據權利要求2所述的C型臂配準系統，其中，所述C型臂配準控制器(70)被配置為導出所述X射線環形標記(20)的所述基線位置參數包括所述C型臂配準控制器(70)還被配置為：

根據對所述X射線環形標記(20)在所述基線X射線投影內的所述位置的參數化來構建代價函數。

4.根據權利要求3所述的C型臂配準系統，其中，所述C型臂配準控制器(70)被配置為導出所述X射線環形標記(20)的所述基線位置參數包括所述C型臂配準控制器(70)還被配置為：

將非線性最小二乘技術應用于所述代價函數。

5.根據權利要求1所述的C型臂配準系統，其中，所述C型臂配準控制器(70)被配置為導出所述基線扭曲參數包括所述C型臂配準控制器(70)還被配置為：

基于所述基線位置參數將所述X射線環形標記(20)的點投影到所述C型臂(60)的X射線探測器上；并且

將所述啁啾環(40)的掃掠頻率與被投影到所述C型臂(60)的所述X射線探測器上的所述X射線環形標記(20)的所述點的圖像強度值的歸一化互相關參數化。

6.根據權利要求1所述的C型臂配準系統，其中，所述C型臂配準控制器(70)還被配置為：

根據所述中心環(50)在所述X射線環形標記(20)上的位置和所述中心環(50)在所述基線X射線圖像內的位置來導出配準誤差。

7.根據權利要求1所述的C型臂配準系統，其中，所述C型臂配準控制器(70)還被配置為：

采集目標X射線圖像，所述目標X射線圖像圖示由所述C型臂(60)在目標成像姿勢處進行的目標X射線投影內的所述X射線環形標記(20)；

根據對所述基線X射線圖像內的所述中心環(50)的圖示來導出所述X射線環形標記(20)的目標位置參數，所述目標位置參數定義所述X射線環形標記(20)在所述目標X射線投影內的位置；并且

根據所述目標位置參數和所述目標X射線圖像內的所述啁啾環(40)的圖示來導出所述X射線環形標記(20)的目標扭曲參數，所述目標扭曲參數定義所述X射線環形標記(20)在所述目標X射線投影內的扭曲。

8.根據權利要求7所述的C型臂配準系統，其中，所述C型臂配準控制器(70)還被配置為：

根據所述基線位置參數、所述基線扭曲參數、所述目標位置參數和所述目標扭曲參數，基于在所述基線X射線圖像和所述目標X射線圖像中所圖示的界標來實施介入步驟。