[發明專利]預測性維護的方法和易損件

在審

• 申請號: 202080023727.5
• 申請日: 2020-01-28
• 公開（公告）號: CN113614504A
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發明（設計）人: A·基亞;M·蒂托夫
• 申請（專利權）人: 聚四氟乙烯工程股份公司
• 主分類號: G01M5/00
• 分類號: G01M5/00;F16D66/02;G01M11/08;G01N17/00
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 王衛彬;徐婕超

1.一種檢測易損件過度磨損的方法，

所述易損件：

a)主要由滑動層組成，或至少部分地由滑動層覆蓋，所述滑動層主要由聚合物材料組成，例如聚四氟乙烯(PTFE)、聚三氟氯乙烯(PCTFE)、全氟烷氧基(PFA)、四氟乙烯-全氟丙烷(FEP)、ETFE、FEP、LCP、三氟氯乙烯(E-CTFE)、PE、PEEK、PET、PVDF、THV和/或類似物，以及

b)包括一根或多根光纖，所述光纖安裝在所述聚合物材料中、嵌入所述聚合物材料中、縮進所述聚合物材料中或與所述聚合物材料熔接，其中：

-至少一根第一光纖在其近端連接到近端光檢測裝置，所述近端光檢測裝置包括第一元件，當光從發光裝置發射到所述至少一根第一光纖的近端時，所述第一元件發射可見光，及

-至少一根光纖，可選地為所述第一光纖，在其遠端連接到遠端光檢測裝置，所述遠端光檢測裝置包括第二元件，當從所述發光裝置發射到所述至少一根第一光纖的所述近端的光從所述光纖的遠端發射時，可選地為所述第一光纖，所述第二元件發射可見光，

且所述易損件和所述一根或多根光纖的特征還在于，

c)從所述發光裝置發射到所述至少一根第一光纖的所述近端中的光，當從所述光纖的遠端發射時，可選地為所述第一光纖，已經基本上沿著所述易損件的整個圓周行進，或已經基本上橫穿所述易損件的整個長度通過所述一根或多根光纖，及

d)所述光沿著所述易損件的所述基本整個圓周行進的距離，或者當所述光橫穿所述易損件的所述基本整個長度，在所述至少一根第一光纖的所述近端和所述光纖的所述遠端，可選地為所述第一光纖，之間行進的距離，至少為500毫米，

并且，所述方法至少包括以下步驟：

-打開所述發光裝置，

-檢查所述近端光檢測裝置和所述遠端光檢測裝置是否發射可見光，以及

-如果所述近端光檢測裝置和所述遠端光檢測裝置均發射可見光，則得出所述易損件沒有受到過度磨損的結論。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述發光裝置為激光裝置。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，至少一個所述光檢測裝置包括由半透明材料制成的透鏡。

4.根據權利要求1、2或3中任一項所述的方法，其特征在于，至少一個所述光檢測裝置發出的任何可見光的存在和/或不存在由光電傳感器進行檢測，并將其相關信息存儲為過程控制系統(DCS)的組成部分。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，所述一根或多根光纖通過分路器或反射器互連。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的方法，其特征在于，所述易損件為密封件。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，安裝在所述密封件中，并嵌入在所述密封件中的一根或多根所述光纖本身環繞所述密封件的圓周。